[發明專利]一種數字病理全切片圖像檢索方法有效
| 申請號: | 201610056048.3 | 申請日: | 2016-01-27 |
| 公開(公告)號: | CN105740378B | 公開(公告)日: | 2020-07-21 |
| 發明(設計)人: | 姜志國;麻義兵;張浩鵬;謝鳳英;鄭鈺山 | 申請(專利權)人: | 北京航空航天大學 |
| 主分類號: | G06F16/583 | 分類號: | G06F16/583;G16H30/00;G06K9/46;G06K9/62 |
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| 地址: | 100191*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 數字 病理 切片 圖像 檢索 方法 | ||
1.一種數字病理全切片圖像檢索方法,應用于數字病理全切片圖像數據庫,其特征在于包括以下步驟:
(1)在線下訓練階段,對數據庫中全切片提取離散SIFT特征點的位置以及SIFT特征向量;
(2)使用LDA模型計算步驟(1)得到的每個SIFT特征向量得到對應的SIFT特征點的語義特征值;
(3)用有重疊的滑窗方法在全切片中選取備選區域,統計位于每個備選區域內的所有SIFT特征點的步驟(2)得到的語義特征值,得到對應備選區域的語義表示向量;
(4)在線上檢索階段,將查詢圖像視為一個區域,使用步驟(1)到步驟(3)中的方法得到查詢圖像的語義表示向量;
(5)計算步驟(4)得到的查詢圖像的語義表示向量與步驟(3)得到的所有備選區域的語義表示向量的余弦距離,返回距離最小的若干備選區域,以及這些區域所在的全切片和區域在全切片中的位置。
2.根據權利要求1所述的一種數字病理全切片圖像檢索方法,其特征是:所述步驟(2)使用LDA模型計算步驟(1)得到的每個SIFT特征向量對應的SIFT特征點的語義特征值,其方法是采用公式
ti=FK(fi)=k,k∈1,2,…,K (2)
其中ti表示數據庫中第i個SIFT特征點的語義特征值,FK表示參數為正整數K的LDA模型,fi表示數據庫中第i個SIFT特征點的SIFT特征向量,ti是一個取值范圍為1到K之間的正整數,ti的位置與fi相同。
3.根據權利要求1所述的一種數字病理全切片圖像檢索方法,其特征是:所述步驟(3)以有重疊的滑窗方法在全切片中選取備選區域,統計位于每個備選區域內的所有SIFT特征點的步驟(2)得到的語義特征值,得到對應備選區域的語義表示向量,其公式為
Li=[Si,Xi,Yi],Ri=[n1(i),n2(i),…,nK(i)], (3)
其中Li表示數據庫中第i個備選區域的位置位于第Si個全切片中,左上角橫坐標為Xi,縱坐標為Yi,Ri表示數據庫中第i個備選區域的語義表示向量,是一個K維直方圖向量,nk(i)表示在數據庫中第i個備選區域內主題為k的SIFT特征點個數,計算公式為
其中,SIFT特征點j位于第sj個全切片中,xj表示SIFT特征點j的橫坐標,yj表示SIFT特征點j的縱坐標,tj表示取值為k的正整數,1(tj=k)當且僅當tj=k時為1,其他情況為0,W表示備選區域的寬度。
4.根據權利要求1所述的一種數字病理全切片圖像檢索方法,其特征是:所述步驟(5)計算步驟(4)得到的查詢圖像的語義表示向量與步驟(3)得到的所有備選區域的語義表示向量的余弦距離,di表示查詢圖像的語義表示向量RQ與數據庫中第i個備選區域的語義表示向量Ri的余弦距離,對所有備選區域按照di由小到大順序排序,定義d(i)表示排序后的第i個備選區域的距離,L(i)表示排序后的第i個備選區域的位置,則L(1),…,L(T)即為檢索結果,其中T為正整數表示返回結果個數。
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