[發(fā)明專利]一種ICT測試治具在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610053297.7 | 申請日： | 2016-01-27 |
| 公開（公告）號： | CN105676111A | 公開（公告）日： | 2016-06-15 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 詹賢文 | 申請（專利權(quán)）人： | 系新電子技術(shù)（蘇州）有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 蘇州廣正知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32234 | 代理人： | 孫德榮 |
| 地址： | 215000 江蘇省蘇州*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 ict 測試 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及測試治具，特別是涉及一種ICT測試治具。
背景技術(shù)
光板測試最早只應(yīng)用于軍事和可靠性要求非常高的產(chǎn)品的測試領(lǐng)域。民用產(chǎn)品的大量測試由客戶自己測試。而且早期的通用測試設(shè)備價格非常昂貴。而民間的裸眼目測的檢測方法誤差較大，對電子產(chǎn)品的可靠性能無法保證。而如果利用通用測試治具測試，對不同的專用PCB板的檢測也必須采用專用測試治具完成檢測。而專用測試治具成本昂貴，制作周期長、制作和維護(hù)方面都需要熟練的技術(shù)人員完成，其人員費用和檢測費用相當(dāng)高，較大的提高了產(chǎn)品的生產(chǎn)成本，影響產(chǎn)品市場競爭力。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種ICT測試治具，具有成本低廉、結(jié)構(gòu)簡單、制作和維護(hù)費用低、通用性能好，可適用于多種PCB板的測試，極大的降低了ICT測試治具的整體費用，降低企業(yè)的生產(chǎn)成本。
為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個技術(shù)方案是：提供一種ICT測試治具，包括測試箱、測板、治具層及支柱，所述測板設(shè)置在測試箱內(nèi)側(cè)上部，所述治具層包括異型層、中間層、承重層及網(wǎng)格層，所述中間層與異型層之間設(shè)有定位針，所述測板上連接有電子分析器，所述支柱從網(wǎng)格層底部穿入，貫穿到異形層上平面上部，所述測試箱四個對角處分別設(shè)有定位夾具。
在本發(fā)明一個較佳實例中，所述電子分析器為烏針或琴鋼線。
在本發(fā)明一個較佳實例中，所述中間層至少設(shè)置有10層。
在本發(fā)明一個較佳實例中，所述中間層的厚度為3-6mm。
本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明一種ICT測試治具，具有成本低廉、結(jié)構(gòu)簡單、制作和維護(hù)費用低、通用性能好，可適用于多種PCB板的測試，極大的降低了ICT測試治具的整體費用，降低企業(yè)的生產(chǎn)成本。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖，其中：
圖1是本發(fā)明的一種ICT測試治具一較佳實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
下面將對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅是本發(fā)明的一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
請參閱圖1，本發(fā)明實施例提供如下技術(shù)方案。
一種ICT測試治具，包括測試箱1、測板2、治具層及支柱3，所述測板2設(shè)置在測試箱1內(nèi)側(cè)上部，所述治具層包括異型層4、中間層5、承重層6及網(wǎng)格層7，所述中間層5與異型層4之間設(shè)有定位針8，所述測板2上連接有電子分析器9，所述支柱3從網(wǎng)格層7底部穿入，貫穿到異形層4上平面上部，所述測試箱1四個對角處分別設(shè)有定位夾具10。
所述電子分析器9為烏針或琴鋼線。
所述中間層5至少設(shè)置有10層。
所述中間層5的厚度為3-6mm。
本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明一種ICT測試治具，具有成本低廉、結(jié)構(gòu)簡單、制作和維護(hù)費用低、通用性能好，可適用于多種PCB板的測試，極大的降低了ICT測試治具的整體費用，降低企業(yè)的生產(chǎn)成本。
以上所述僅為本發(fā)明的實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運用在其它相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
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