[發明專利]一種ICT測試治具在審
| 申請號： | 201610053297.7 | 申請日： | 2016-01-27 |
| 公開（公告）號： | CN105676111A | 公開（公告）日： | 2016-06-15 |
| 發明（設計）人： | 詹賢文 | 申請（專利權）人： | 系新電子技術（蘇州）有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 蘇州廣正知識產權代理有限公司 32234 | 代理人： | 孫德榮 |
| 地址： | 215000 江蘇省蘇州*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 ict 測試 | ||
【權利要求書】：
1.一種ICT測試治具，其特征在于，包括測試箱、測板、治具層及支柱，所述測板設置在測試箱內側上部，所述治具層包括異型層、中間層、承重層及網格層，所述中間層與異型層之間設有定位針，所述測板上連接有電子分析器，所述支柱從網格層底部穿入，貫穿到異形層上平面上部，所述測試箱四個對角處分別設有定位夾具。
2.根據權利要求1所述的ICT測試治具，其特征在于，所述電子分析器為烏針或琴鋼線。
3.根據權利要求1所述的ICT測試治具，其特征在于，所述中間層至少設置有10層。
4.根據權利要求1所述的ICT測試治具，其特征在于，所述中間層的厚度為3-6mm。
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