[發明專利]基于雙透鏡的微量重金屬檢測的LIBS系統在審
| 申請號: | 201610045040.7 | 申請日: | 2016-01-22 |
| 公開(公告)號: | CN105548094A | 公開(公告)日: | 2016-05-04 |
| 發明(設計)人: | 王銳;馬曉紅;宋陽;趙華鳳;張敏;廖延彪 | 申請(專利權)人: | 清華大學 |
| 主分類號: | G01N21/63 | 分類號: | G01N21/63;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產權代理有限公司 11002 | 代理人: | 李相雨 |
| 地址: | 100084 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 透鏡 微量 重金屬 檢測 libs 系統 | ||
技術領域
本發明涉及微量重金屬檢測領域,尤其涉及一種基于雙透鏡的微 量重金屬檢測的LIBS系統。
背景技術
一般工業生產和生活中,重金屬往往特指銅Cu、汞Hg、錫Sn、 鉛Pb、鋅Zn、鎘Cd等10余種金屬。這些重金屬隨著工業生產的飛速 發展,富集在我們生活的環境中,隨食物、呼吸、直接接觸等多種方 式進入人體,產生多種毒副作用;或是在土壤、水體中遷移沉積,使 當地環境中的重金屬含量大大超越自然界的凈化能力,危害動植物的 生長,對生態環境造成極大的破壞,特別是對耕地的污染,更是直接 威脅農業生產和糧食安全。因此,對人類生活環境中的重金屬含量進 行檢測對保障農業生產和糧食安全均具有十分重要的意義。
目前,我國現有的重金屬含量檢測方法主要包括石墨爐加熱原子 吸收光譜法(GraphiteFurnaceAtomicAbsorptionSpectroscopy, GFAAS)、火焰加熱原子吸收光譜法(FlameAtomicAbsorption Spectroscopy,FAAS)、原子熒光光譜法(AtomicFluorescence Spectroscopy,AFS)等,還有近些年在微量物質檢測中普遍使用的 電感耦合等離子體原子發光光譜法(InductivelyCoupledPlasma- AtomicEmissionSpectroscopy,ICP-AES)。盡管這些方法都有很高的 檢出率,但普遍需要復雜的樣品預處理消解過程,檢測周期長,而且 檢測設備昂貴、操作復雜,更不可能進行可移動實時測量。
應用于微量重金屬檢測的激光誘導擊穿光譜(LaserInduced BreakdownSpectroscopy,LIBS)技術是一項以原子發射光譜分析為 核心的檢測技術,依靠高能激光脈沖,完成對被測樣品的原子化和原 子激發,然后使用高分辨多通道光譜儀測量原子發射光譜,分析得到 被測樣品中目標元素的種類和含量。LIBS具有樣品制備簡便、測量過 程迅速、低成本可移動等優勢。而由于蔬菜中目標元素濃度常常比土 壤中低2個數量級,檢測難度大,現有技術中使用LIBS對蔬菜中的銅 Cu、鉛Pb、鎘Cd、鉻Cr等元素重金屬進行測量還處在定性分析的初 級階段。此外,現有的應用LIBS技術進行土壤和蔬菜的重金屬檢測的 方案中,每次檢測所收集到的光譜都存在強度差異,特別當目標元素 含量低時,特征譜線的信噪比極不理想,因而影響了微量重金屬LIBS 檢測的準確性、穩定性和實用性,一定程度上限制了LIBS技術得到進 一步的發展和應用。而輻射光收集效率是影響上述問題的重要因素之 一。因此,現有的亟待解決的技術問題為:如何通過提高輻射光收集 效率,進而提高微量重金屬LIBS檢測的準確性、穩定性和實用性,使 LIBS技術得到進一步的發展和應用。
發明內容
為解決上述技術問題,本發明提出了一種基于雙透鏡的微量重金 屬檢測的LIBS系統,該系統包括:
樣品臺,用于固定微量重金屬的待測樣品;
激光器,用于根據所述待測樣品的預設檢測點的位置產生檢測所 述待測樣品中所含微量重金屬含量的激光;
聚焦透鏡組,用于將所述待測樣品經過所述激光照射后產生的等 離子體輻射光進行聚焦,以獲取聚焦等離子體輻射光線;
光纖,用于將所述聚焦等離子體輻射光線進行耦合,以獲取耦合 等離子體輻射光線;
多通道光譜儀用于根據所述耦合等離子體輻射光線獲取所述待 測樣品的光譜數據;
數據處理器,用于根據所述光譜數據確定所述待測樣品的重金屬 含量。
優選地,所述多通道光譜儀為雙通道光譜儀;
相應地,所述光纖包括第一纖芯和第二纖芯。
優選地,所述聚焦透鏡組包括:
按照所述等離子體輻射光入射的次序設置的短焦透鏡和長焦透 鏡。
優選地,短焦透鏡301的焦距為40mm,數值孔徑為0.44,通光孔 徑為25.4mm;
所述長焦透鏡的焦距為75mm,數值孔徑為0.24,通光孔徑為 25.4mm。
優選地,所述樣品臺進一步用于固定所述待測樣品,并根據所述 待測樣品的預設檢測點的位置調節所述待測樣品的空間位置,使待測 樣品的預設檢測點的位置與激光的聚焦點位置重合。
優選地,所述系統還包括:
底座,用于承載并固定所述系統中的各個部件。
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