[發明專利]一種快速選取高速serdes預加重參數的方法

在審

• 申請號: 201610044107.5
• 申請日: 2016-01-22
• 公開（公告）號: CN105703840A
• 公開（公告）日: 2016-06-22
• 發明（設計）人: 許俊;段光生
• 申請（專利權）人: 盛科網絡（蘇州）有限公司
• 主分類號: H04B10/80
• 分類號: H04B10/80
• 代理公司: 南京利豐知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 32256
• 代理人: 王鋒

技術領域

本發明涉及網路通信技術領域，尤其是涉及一種快速選取高速serdes 預加重參數的方法。

背景技術

目前，高性能交換機都廣泛運用了高速串并/并串轉換器(英文稱： serdes)，高速serdes從芯片的管腳出來之后要經過一段印制電路板(英文簡 稱PCB)銅線連接到光模塊或銅纜，這一段PCB走線會造成信號衰減和串 擾，信號速率越高，衰減和串擾越嚴重，如何保證serdes出來的高速信號 經過PCB走線之后仍然有很好的信號質量，是高速serdes應用中一個日趨 挑戰的難題。

現有技術中，為了消除部分或全部由PCB走路造成的衰減和串擾，一 個有效的辦法是在serdes信號發出來之前先進行預加重均衡，預加重系數 則決定了信號補償效果，如果預加重系數完全匹配信道衰減，接收端可以 收到最佳質量的信號。如果是銅纜線傳輸，根據IEEE802.3ap標準，可以 在發送端和接收端根據一定的算法訓練出一套相對最優的預加重參數。實 際上大部分的應用場景都是接光模塊，在這種應用情況下，目前還沒有一 個有效的辦法來產生相對最佳的預加重系數，一般都采用手工調試的辦法， 即配置不同的預加重系數后在PCB走線的終點看眼圖效果，一直調到眼圖 效果最佳的那組參數則為相對最優的參數。但由于一個芯片一般有很多的 serdes，每一個serdes的PCB走線都各不相同，并且當芯片換了另外一個 應用，其各個serdes的走線又完全不同了，即信號衰減和串擾的情況又不 相同了，依靠手工調試耗時耗力，效率低下，而且看眼圖效果需要很昂貴 的示波器，需要高成本來調試預加重參數。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術的缺陷，提供一種快速選取高速serdes 預加重參數的方法。

為實現上述目的，本發明提出如下技術方案：一種快速選取高速serdes 預加重參數的方法，包括如下步驟：步驟一、備一臺標準測試設備，將所 述測試設備和高速串并/并串轉換器通過光模塊對接，調節光模塊和高速串 并/并串轉換器接收端的參數設定；

步驟二、將待調預加重參數的高速串并/并串轉換器和步驟一調好的高 速串并/并串轉換器通過光模塊對接，確定預加重參數的取值范圍，在取值 范圍內依次選取一組參數配置到待調高速串并/并串轉換器，然后使能待調 高速串并/并串轉換器發送偽隨機二進制序列(英文簡稱PRBS)報文，在 已調高速串并/并串轉換器的接收端做偽隨機二進制序列檢查，如果通過檢 查，則記錄下該組預加重參數，否則不記錄，直至所有的預加重參數都掃 描一遍，則所有偽隨機二進制序列檢查通過的預加重參數都被記錄下來， 在所有偽隨機二進制序列檢查通過的參數中選取最中間一組為最佳的預加 重參數。

優選地，所述標準測試設備可為IXIA測試儀，或XENA測試儀。

優選地，所述參數設定包括信號幅度，判決反饋均衡器階數及參數， 數據時鐘恢復參數等。

優選地，所述調節光模塊和高速串并/并串轉換器接收端的參數設定滿 足在高速串并/并串轉換器的接收端看到的眼圖質量最好，并且長時間收包 沒有循環冗余檢查錯誤。

優選地，在調試接收高速串并/并串轉換器時，所述測試設備通過一光 模塊單向輸入參數與高速串并/并串轉換器。

優選地，在調試發送高速串并/并串轉換器時，高速串并/并串轉換器發 送偽隨機二進制序列報文的方式為循環式發送，分別通過專用集成電路芯 片(英文簡稱ASICCHIP)、發送方向串并/并串轉換器(英文簡稱：TXHSS)、 發送方向光模塊(英文簡稱：TXopticalmodule)、接收方向光模塊(英文 簡稱：RXopticalmodule)、接收方向串并/并串轉換器(英文簡稱：RXHSS)。

優選地，所述發送方向光模塊、接收方向光模塊之間通過光纖連接。

優選地，所述發送方向串并/并串轉換器和發送方向光模塊之間的傳輸 采用銅制PCB走線傳輸，所述接收方向光模塊和接收方向串并/并串轉換器 之間的傳輸采用銅制PCB走線傳輸。

本發明的有益效果是：本發明針對高速serdes連接光模塊時，提供一 種快速有效的辦法選取serdes的預加重參數，從而有效消除高速電信號在 信道傳輸時產生的衰減和串擾。

附圖說明

圖1是本發明調試接收Serdes的工作框圖；