[發(fā)明專利]一種熒光檢漏法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610032692.7 | 申請(qǐng)日： | 2016-01-18 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN105675223B | 公開（公告）日： | 2019-02-26 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 鄔博義;劉燕利;莫益明 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 偉創(chuàng)力制造（珠海）有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01M3/20 | 分類號(hào)： | G01M3/20 |
| 代理公司： | 北京國坤專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11491 | 代理人： | 姜彥 |
| 地址： | 519180*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 熒光 檢漏 | ||
1.一種熒光檢漏法，其特征在于，該方法包括如下步驟：
a、備膠，將注射針管內(nèi)部灌入熒光膠，備好待用；
b、開孔，在待測(cè)樣品合適位置開孔；
c、注膠，在b中找到開孔的位置上使用注射針管從開孔位置且在壓力下把注射針管內(nèi)部的染色劑從樣品內(nèi)部擠壓出來；
d、記錄，使用相機(jī)或者攝像頭記錄c中樣品泄漏位置；
e、找漏，通過微切片觀察d找到的樣品泄漏位置，找到電子產(chǎn)品組裝過程的間隙，從而實(shí)現(xiàn)電子產(chǎn)品的檢漏過程。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種熒光檢漏法，其特征在于：所述備膠中注射針管內(nèi)部無其他雜物，并且注射針管內(nèi)部的熒光膠量大于樣品內(nèi)部的容積。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種熒光檢漏法，其特征在于：所述開孔的孔洞直徑和注射針管直徑相等。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種熒光檢漏法，其特征在于：所述相機(jī)或者攝像頭要檢測(cè)樣品的每個(gè)方位。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的一種熒光檢漏法，其特征在于：所述找漏過程中的微切機(jī)觀察的位置要取樣合理，經(jīng)過多次取樣進(jìn)行觀察。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于偉創(chuàng)力制造（珠海）有限公司，未經(jīng)偉創(chuàng)力制造（珠海）有限公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610032692.7/1.html，轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01M 機(jī)器或結(jié)構(gòu)部件的靜或動(dòng)平衡的測(cè)試；其他類目中不包括的結(jié)構(gòu)部件或設(shè)備的測(cè)試
G01M3-00 結(jié)構(gòu)部件的流體密封性的測(cè)試
G01M3-02 .應(yīng)用流體或真空
G01M3-38 .應(yīng)用光照
G01M3-40 .應(yīng)用電裝置，例如，觀察放電現(xiàn)象
G01M3-04 ..通過在漏泄點(diǎn)檢測(cè)流體的出現(xiàn)
G01M3-26 ..通過測(cè)量流體的增減速率，例如，用壓力響應(yīng)裝置，用流量計(jì)
