[發明專利]一種兩維線性鑒別分析的人臉識別方法有效
| 申請號: | 201610023803.8 | 申請日: | 2016-01-14 |
| 公開(公告)號: | CN105631433B | 公開(公告)日: | 2019-05-31 |
| 發明(設計)人: | 武小紅;杜輝;王雪;武斌;孫俊;傅海軍 | 申請(專利權)人: | 江蘇大學 |
| 主分類號: | G06K9/00 | 分類號: | G06K9/00;G06K9/62 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 212013 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 線性 鑒別 分析 識別 方法 | ||
1.一種兩維線性鑒別分析的人臉識別方法,其特征是包括以下步驟:
A、選取訓練樣本矩陣A和測試樣本,針對選取的訓練樣本矩陣A計算出親和矩陣元素Sij,親和矩陣元素i、j分別是親和矩陣的第i行、第j列,1≤i≤200,1≤j≤200,exp為以e為底的指數函數,Al,Ak分別為第l和k個人臉訓練樣本矩陣,1≤l≤200,1≤j≤200,||Al-Ak||F為Al-Ak的Frobenius范數,t為調諧參數,1≤t≤100;
B、根據親和矩陣元素Sij計算出類內散度矩陣Sw和類間散度矩陣Sb,類內散度矩陣類間散度矩陣其中,n為訓練樣本的總個數,nc為第c類樣本個數,yl,yk分別為Al,Ak的樣本類別標簽,T為矩陣轉置運算;
C、根據類內散度矩陣Sw和類間散度矩陣Sb計算出類內散度矩陣Sw的逆與類間散度矩陣Sb乘積的矩陣的特征值λ以及特征向量α,并求出投影矩陣X;
D、利用投影矩陣X將訓練樣本矩陣A投影到投影空間,得到投影后矩陣Y;
E、采用最近鄰分類器對投影后矩陣Y與測試樣本進行分類處理,計算出識別率。
2.根據權利要求1所述兩維線性鑒別分析的人臉識別方法,其特征是:步驟C中:根據式計算出特征值λ以及特征向量α,將特征值λ從大到小排列,取前d個特征值為[λ1,λ2,…,λd],1≤d≤112,最大特征值λ1所對應的特征向量α1即為投影矩陣X的第一個列向量,X=[α1,α2,......,αd]。
3.根據權利要求2所述兩維線性鑒別分析的人臉識別方法,其特征是:步驟D中,根據式Y=X-1A得到投影后矩陣Y。
4.根據權利要求3所述兩維線性鑒別分析的人臉識別方法,其特征是:步驟E中,分類處理后得出被識別出的測試樣本數,用得出的被識別出的測試樣本數除以總測試樣本數計算出識別率。
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