[發明專利]一種具有壓力檢測功能的電子設備及壓力檢測方法在審
| 申請號： | 201610017869.6 | 申請日： | 2016-01-12 |
| 公開（公告）號： | CN105445988A | 公開（公告）日： | 2016-03-30 |
| 發明（設計）人： | 錢明貴;林楠 | 申請（專利權）人： | 聯想（北京）有限公司 |
| 主分類號： | G02F1/1333 | 分類號： | G02F1/1333;G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人： | 王寶筠 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 具有 壓力 檢測 功能 電子設備 方法 | ||
1.一種具有壓力檢測功能的電子設備，其特征在于，包括：
金屬中框以及顯示模組；
所述金屬中框包括金屬底面；所述顯示模組設置在所述金屬中框內，且與所述金屬底面相對設置；
所述顯示模組至少包括電極層；
所述電極層與所述金屬底面形成壓力檢測電容，所述壓力檢測電容用于檢測所述電子設備受到的壓力值。
2.根據權利要求1所述的電子設備，其特征在于，所述顯示模組還包括：
相對設置的彩膜基板以及TFT陣列基板；
位于所述彩膜基板與所述TFT陣列基板之間的液晶層；
其中，所述TFT基板包括所述電極層；所述TFT陣列基板朝向所述金屬底面設置。
3.根據權利要求2所述的電子設備，其特征在于，所述TFT陣列基板包括：透明基板；設置在所述透明基板表面的TFT陣列以及所述電極層；
其中，所述電極層設置在所述透明基板朝向所述金屬底面的一側，所述TFT陣列設置在所述透明基板背離所述金屬底面的一側；所述TFT陣列背離所述金屬底面的一側還設置有公共電極。
4.根據權利要求3所述的電子設備，其特征在于，還包括：設置在所述電極層與所述透明基板之間的金屬屏蔽層；所述金屬屏蔽層與所述電極層絕緣。
5.根據權利要求4所述的電子設備，其特征在于，所述金屬屏蔽層與所述電極層之間設置有絕緣層。
6.根據權利要求2所述的電子設備，其特征在于，所述TFT陣列基板包括：透明基板；設置在所述透明基板表面的TFT陣列以及所述電極層；
其中，所述TFT陣列設置在所述透明基板背離所述金屬底面一側的表面；所述電極層設置在所述TFT陣列背離所述金屬底面的一側；所述電極層還用于作為所述顯示模組的公共電極。
7.根據權利要求1所述的電子設備，其特征在于，所述顯示模組與所述金屬底面之間形成有間隙。
8.根據權利要求7所述的電子設備，其特征在于，還包括：部分填充或完全填充所述間隙的彈性介質層。
9.根據權利要求1所述的電子設備，其特征在于，還包括：透明蓋板；所述透明蓋板位于所述顯示模組背離所述金屬底面的一側。
10.根據權利要求1-9任一項所述的電子設備，其特征在于，所述電極層由一層圖案化的導體層制備。
11.一種壓力檢測方法，用于如權利要求1-10任一項所述的電子設備，其特征在于，該檢測方法包括：
獲取觸控位置的位置坐標；
獲取所述位置坐標處壓力檢測電容的變化量；
根據所述壓力檢測電容的變化量確定所述電子設備收到的壓力值。
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