[發明專利]天線設備、填充物位測量裝置及操作天線設備的方法

有效

• 申請號: 201580085055.X
• 申請日: 2015-11-17
• 公開（公告）號: CN108291832B
• 公開（公告）日: 2020-08-11
• 發明（設計）人: 羅蘭·韋勒
• 申請（專利權）人: VEGA格里沙貝兩合公司
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284;H01Q1/22
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 曹正建;陳桂香

1.一種天線設備(201、203)，其包括：

控制單元(111)；

分析單元(123)；

至少一個第一發射器單元(202、204、207)；

至少一個第一接收器單元(205、206、207)，

其中，所述控制單元(111)被配置成通過所述至少一個第一發射器單元(202、204、207)發送傳輸信號，

其中，所述分析單元被配置成通過所述至少一個第一接收器單元(205、206、207)接收至少兩個接收信號，

其中，所述控制單元(111)被配置成操作所述至少一個第一發射器單元(202、204、207)，使得所述分析單元(123)根據接收的所述至少兩個接收信號來確定目標(104)的表面(120)的輪廓，

其中，所述分析單元(123)被配置成識別在確定所述目標的所述表面的輪廓時的錯誤，并且

其中，所述分析單元(123)被配置成在識別出所述錯誤時驅動所述控制單元(111)，使得所述分析單元確定所述目標的所述表面距所述發射器單元和/或所述接收器單元的距離，而不確定所述目標的所述表面的輪廓。

2.根據權利要求1所述的天線設備(201、203)，

其中，所述分析單元(123)被配置成根據所述至少兩個接收信號來確定至少兩個可指定空間方向(101、102、103)的至少兩個回波曲線，以便檢測所述目標(104)的所述表面(120)的輪廓，

其中，所述分析單元(123)被進一步配置成確定所述至少兩個接收信號的質量度量，以便識別在確定所述目標(104)的所述表面(120)的輪廓時的所述錯誤，并且

其中，如果所述質量度量偏離所述至少兩個接收信號的所述質量度量的可指定閾值，所述分析單元(123)被配置成指示所述發射器單元增加所述傳輸信號的能量，并針對單個可指定空間方向確定單個回波曲線。

3.根據權利要求2所述的天線設備(201、203)，其進一步包括：

至少一個第二接收器單元(205、206、207)，

其中，所述分析單元(123)被配置成通過所述至少一個第一接收單元(205、206、207)和所述至少一個第二接收單元(205、206、207)中的每者來接收所述至少兩個接收信號中的一者，并且

其中，如果所述質量度量偏離所述質量度量的所述可指定閾值，所述分析單元(123)被配置成發送額外傳輸信號，以便增加所述傳輸信號的能量，并且以便確定所述單個可指定空間方向的回波曲線。

4.根據權利要求3所述的天線設備(201、203)，所述天線設備進一步包括：

至少一個第二發射器單元(202、204、207)，

其中，所述控制單元(111)被配置成在時分復用模式、頻分復用模式和/或碼分復用模式中操作所述至少一個第一發射器單元(202、204、207)和所述至少一個第二發射器單元(202、204、207)，

其中，所述分析單元(123)被配置成通過分析由在所述時分復用模式、所述頻分復用模式和/或所述碼分復用模式中操作的該至少兩個發射器單元(202、204、207)引起的所述接收信號來通過應用數字波束成形方法確定至少兩個可指定空間方向的至少兩個回波曲線，并且

其中，如果所述質量度量偏離所述接收信號的所述質量度量的所述可指定閾值，所述分析單元(123)被進一步配置成將所述時分復用模式、所述頻分復用模式和/或所述碼分復用模式切換成所述至少一個第一發射器單元(202、204、207)和/或所述至少一個第二發射器單元(202、204、207)和/或所述第一接收器單元(205、206、207)和所述第二接收器單元(205、206、207)中的至少一者的并行操作，以便增加所述傳輸信號的能量并且以便確定單個可指定空間方向的回波曲線。