[發明專利]用于待處理的基板的載體系統在審
| 申請號: | 201580078653.4 | 申請日: | 2015-04-09 |
| 公開(公告)號: | CN107438897A | 公開(公告)日: | 2017-12-05 |
| 發明(設計)人: | 喬斯·曼紐爾·迭格斯-坎波;格奧爾·約斯特;斯蒂芬·凱勒;安科·赫爾密西;托馬斯·格比利 | 申請(專利權)人: | 應用材料公司 |
| 主分類號: | H01L21/687 | 分類號: | H01L21/687 |
| 代理公司: | 北京律誠同業知識產權代理有限公司11006 | 代理人: | 徐金國,趙靜 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 處理 載體 系統 | ||
1.一種用于待在真空腔室中處理的基板(500)的副載體(400;800),所述副載體(400;800)包括:
基板支撐部分(420),所述基板支撐部分包括基板支撐部分表面(421),所述基板支撐部分(420)被配置用于支撐至少一個待處理基板(500),其中所述基板支撐部分(420)包括至少一個開口(422);
基板耦接裝置(430;431),所述基板耦接裝置被配置用于將所述至少一個基板(500)保持在所述基板支撐部分表面(421)上且所述基板(500)與所述至少一個開口(422)至少部分的重疊的位置;
其中所述副載體(400;800)被配置用于耦接到主載體(100)。
2.根據權利要求1所述的副載體(400;800),其中當所述基板(500)安裝到所述副載體(400;800)時,一個開口(422)的大小在與所述開口重疊的所述基板(500)的大小的40%與90%之間。
3.根據權利要求1所述的副載體(400;800),其中當所述基板(500)耦接到所述副載體(400;800)時,多于一個開口經適配為面對一個基板(500),并且其中用于所述一個基板(500)的所述多于一個開口的總大小在所述待處理基板(500)的大小的50%與90%之間。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的副載體(400;800),其中所述副載體(400;800)被配置用于支撐在5個與15個之間的基板(500),以及
其中所述開口(422)的數目至少與由所述副載體(400;800)支撐的基板(500)的數目一樣高。
5.根據權利要求1至4中任一項所述的副載體(400;800),其中所述副載體(400;800)經適配用于耦接到根據權利要求7至11中任一項所述的主載體(100)。
6.一種用于真空處理設備的主載體(100),所述主載體(100)包括:
主載體框架(110);
副載體支撐部分(120),所述副載體支撐部分由所述主載體框架(110)圍繞并且具有帶交叉格柵(121)的網格形狀,所述交叉格柵被配置為支撐用于待處理基板(500)的至少一個副載體(400;800)。
7.根據權利要求6所述的主載體(100),其中所述副載體(400;800)支撐部分被配置用于將至少兩行和兩列副載體(400;800)支撐至所述主載體(100)。
8.根據權利要求6至7中任一項所述的主載體(100),進一步包括用于將所述副載體(400;800)耦接到所述格柵(121)中的一個格柵的副載體耦接裝置(201;202;203;204;205),其中所述副載體耦接裝置(201;202;203;204;205)允許當所述副載體(400;800)安裝到所述主載體(100)時,在所述副載體(400;800)面向所述格柵(121)之間的網格開口的位置處將所述副載體(400;800)耦接到所述主載體(100)。
9.根據權利要求6至8中任一項所述的主載體(100),其中所述主載體(100)適用于溫度高于160°的工藝。
10.根據權利要求6至9中任一項所述的主載體(100),其中所述副載體支撐部分(120)經適配用于將根據權利要求1至5中任一項所述的一個或多個副載體(400;800)固定到所述主載體(100)。
11.一種用于待處理基板(500)的載體系統,包括:
主載體(100),所述主載體包括用于將一個或多個副載體(400;800)耦接到所述主載體(100)的副載體耦接裝置(201;202;203;204;205),所述主載體(100)包括具有帶交叉格柵(121)的網格形狀的副載體支撐部分(120),其中所述副載體耦接裝置(201;202;203;204;205)提供在所述格柵(121)處;
用于支撐至少一個待處理基板(500)的副載體(400;800),其中所述副載體(400;800)包括至少一個開口(422)并且其中所述副載體(400;800)包括用于耦接所述基板(500)的基板耦接裝置(430;431),其中所述基板耦接裝置(430;431)被配置用于將所述基板(500)保持在與所述副載體(400;800)的所述開口(422)部分地重疊的位置。
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





