[發明專利]利用變化的電壓刺激的基于納米孔的測序

有效

• 申請號: 201580076490.6
• 申請日: 2015-12-17
• 公開（公告）號: CN107250780B
• 公開（公告）日: 2021-10-29
• 發明（設計）人: R.J.A.陳;H.田;B.梅尼
• 申請（專利權）人: 豪夫邁·羅氏有限公司
• 主分類號: G01N27/22
• 分類號: G01N27/22;G01R27/26;C12Q1/6869
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 黃濤;張濤

公開一種分析分子的方法。電壓源使用由重置信號控制的開關被選擇性地連接到電容器或與電容器斷開連接。當電壓源連接到電容器時，電荷被存儲在電容器中。當電壓源與電容器斷開連接時，通過隔膜中的納米孔對電容器進行放電。確定重置信號的占空比，以使得電壓源和電容器在重置信號周期的至少十分之一部分期間被連接，并且在重置信號周期的剩余部分期間斷開連接，以使得與在重置信號周期的不維持連接的剩余部分期間相比，在重置信號周期的維持連接的部分期間跨納米孔的電壓維持在較高電平。

背景技術

近年來半導體產業內在微型化方面的進步已使生物科技人員能夠開始將傳統上龐大的感測工具包裝成越來越小的形狀因數，包裝到所謂的生物芯片上。將會希望開發使生物芯片更加強健、高效并且成本有效的用于生物芯片的技術。

附圖說明

在下面的詳細描述和附圖中公開本發明的各種實施例。

圖1圖示基于納米孔的測序芯片中的單元100的實施例。

圖2圖示利用Nano-SBS技術執行核苷酸測序的單元200的實施例。

圖3圖示將要利用預加載標記執行核苷酸測序的單元的實施例。

圖4圖示利用預加載標記的核酸測序的過程400的實施例。

圖5圖示基于納米孔的測序芯片的單元中的電路500的實施例。

圖6圖示基于納米孔的測序芯片的單元中的電路600的實施例，其中跨納米孔施加的電壓能夠被配置為在納米孔處于特定可檢測狀態的時間段期間變化。

圖7A圖示基于納米孔的測序芯片的單元中的電路700的另外實施例，其中跨納米孔施加的電壓能夠被配置為在納米孔處于特定可檢測狀態的時間段期間變化。

圖7B圖示基于納米孔的測序芯片的單元中的電路701的另外實施例，其中跨納米孔施加的電壓能夠被配置為在納米孔處于特定可檢測狀態的時間段期間變化。

圖8圖示用于分析納米孔內部的分子的過程800的實施例，其中納米孔被插入在隔膜中。

圖9圖示當過程800被執行并且重復三次時跨納米孔施加的電壓與時間的繪圖的實施例。

圖10圖示當納米孔處于不同狀態時的跨納米孔施加的電壓與時間的繪圖的實施例。

圖11A圖示用于控制開關以使得與隔膜關聯的電容器被反復地充電和放電的重置信號的實施例，所述開關將電壓源連接到基于納米孔的測序芯片的單元中的隔膜或使電壓源與基于納米孔的測序芯片的單元中的隔膜斷開連接。

圖11B圖示作為時間的函數的響應于圖11A中的重置信號跨納米孔施加的電壓。

圖12A圖示用于控制開關以使得與隔膜關聯的電容被反復地充電和放電的重置信號的另一實施例，所述開關將電壓源連接到基于納米孔的測序芯片的單元中的隔膜或使電壓源與基于納米孔的測序芯片的單元中的隔膜斷開連接。

圖12B圖示作為時間的函數的響應于圖12A中的重置信號跨納米孔施加的電壓。

圖13圖示用于基于鹽類型和鹽濃度動態地配置重置信號的占空比的過程1300的實施例。

具體實施方式