[發明專利]用于掃描器頭的間隙和位移磁性傳感器系統

有效

• 申請號: 201580059695.3
• 申請日: 2015-10-30
• 公開（公告）號: CN107250713B
• 公開（公告）日: 2019-08-13
• 發明（設計）人: R.E.貝塞爾特
• 申請（專利權）人: 霍尼韋爾有限公司
• 主分類號: G01B7/14
• 分類號: G01B7/14;B65H26/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 李雪娜;張濤

1.一種用于維持針對掃描傳感器頭的三個主方向上的頭對頭對準的方法，包括：

生成磁場（550、552）；

通過多個磁場取向傳感器（514x-514z）通過以下步驟來捕獲（910）磁場的測量：

通過第一磁場取向傳感器（514x）測量參照參考場角度的第一方向上的磁場的場角度，其中第一磁場取向傳感器被布置成與其中第一磁場取向傳感器感測參考場角度的磁場的中心線（552）大體對準，

通過第二磁場取向傳感器（514z）測量由第一方向和第二方向定義的平面（716）中的磁場的場角度，其中第二磁場取向傳感器被布置成從磁場的中心線偏移，使得來自第一磁場取向傳感器和第二磁場取向傳感器中的至少一個的輸出測量間隙間隔和第一方向上的位移的組合，

其中第一方向是橫向方向，第二方向是頭對頭間隙方向，并且第一方向和第二方向彼此正交；

使用磁場的測量標識（915）（i）第一掃描傳感器頭（414a）和第二掃描傳感器頭（414b）在第一方向上的位移以及（ii）第一掃描傳感器頭和第二掃描傳感器頭在第二方向上的間隙間隔。

2.根據權利要求1所述的方法，其中：

第一磁場取向傳感器和第二磁場取向傳感器被布置在相同平面（716）中或由第一方向和第二方向定義的平行平面中。

3.根據權利要求1所述的方法，還包括：橫過材料的帶狀物（102）的表面移動第一掃描傳感器頭和第二掃描傳感器頭并且捕獲（910）與帶狀物相關聯的測量。

4.根據權利要求3所述的方法，還包括：基于以下測量中的至少一個而調節（955）與帶狀物相關聯的測量：

第一掃描傳感器頭和第二掃描傳感器頭在第一方向上的位移；

第一掃描傳感器頭和第二掃描傳感器頭在第二方向上的間隙間隔。

5.一種用于維持針對掃描傳感器頭的三個主方向上的頭對頭對準的系統，包括：

第一掃描傳感器頭（414a），其包括被配置成生成磁場（550、552）的磁體（512）；

第二掃描傳感器頭（414b），其包括多個磁場取向傳感器，所述多個磁場取向傳感器被配置成捕獲磁場的測量以便標識（i）第一掃描傳感器頭和第二掃描傳感器頭在第一方向上的位移以及（ii）第一掃描傳感器頭和第二掃描傳感器頭在第二方向上的間隙間隔，所述多個磁場取向傳感器包括：

第一磁場取向傳感器，其被配置成測量參照參考場角度的第一方向上的磁場的場角度，其中第一磁場取向傳感器被布置成與其中第一磁場取向傳感器感測參考場角度的磁場的中心線（552）大體對準，

第二磁場取向傳感器，其被配置成測量由第一方向和第二方向定義的平面（716）中的磁場的場角度，其中第二磁場取向傳感器被布置成從磁場的中心線偏移，使得來自第一磁場取向傳感器和第二磁場取向傳感器中的至少一個的輸出測量間隙間隔和第一方向上的位移的組合，

其中第一方向是橫向方向，第二方向是頭對頭間隙方向，并且第一方向和第二方向彼此正交；

處理電路（306a），其被配置成使用磁場的測量來標識（i）第一掃描傳感器頭和第二掃描傳感器頭在第一方向上的位移以及（ii）第一掃描傳感器頭和第二掃描傳感器頭在第二方向上的間隙間隔。

6.根據權利要求5所述的系統，其中：

（716）第一磁場取向傳感器和第二磁場取向傳感器被布置在相同平面中或由第一方向和第二方向定義的平行平面中。

7.根據權利要求5所述的系統，還被配置成橫過材料的帶狀物（102）的表面移動第一掃描傳感器頭和第二掃描傳感器頭并且捕獲（910）與帶狀物相關聯的測量。

8.根據權利要求7所述的系統，其中所述處理電路還被配置成基于以下測量中的至少一個而調節（955）與帶狀物相關聯的測量：

第一掃描傳感器頭和第二掃描傳感器頭在第一方向上的位移；

第一掃描傳感器頭和第二掃描傳感器頭在第二方向上的間隙間隔。