[發(fā)明專利]用于測量離型膜的剝離穩(wěn)定性的方法和離型膜層合體

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201580058061.6
• 申請日: 2015-10-26
• 公開（公告）號: CN107109149B
• 公開（公告）日: 2021-01-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 樸埈瑩;金章淳
• 申請（專利權(quán)）人: 株式會社LG化學
• 主分類號: B32B27/28
• 分類號: B32B27/28;B32B27/36;B32B27/08;B32B7/12;C09J7/40;G01N19/04
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 鄭毅;趙丹

提供了用于測量離型膜的剝離穩(wěn)定性的方法，所述方法包括以下步驟：制備包括粘合層和附接在粘合層的兩側(cè)的輕剝離離型膜和中剝離離型膜的層合體；通過在0.3至3.0m/分鐘的剝離速度下測量輕剝離離型膜與粘合層的離型強度獲得輕剝離、低速離型強度；通過在0.3至3.0m/分鐘的剝離速度下測量中剝離離型膜與粘合層的離型強度獲得中剝離、低速離型強度；通過在10至30m/分鐘的剝離速度下測量輕剝離離型膜與粘合層的離型強度獲得輕剝離、高速離型強度；通過在10至30m/分鐘的剝離速度下測量中剝離離型膜與粘合層的離型強度獲得中剝離、高速離型強度；以及在通式1和2的基礎(chǔ)上測量高速離型強度平衡和低速離型強度平衡。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及用于測量離型膜的剝離穩(wěn)定性的方法和離型膜層合體。

背景技術(shù)

離型膜是有利于產(chǎn)品的處理和運輸且可被容易地分離的膜，并且其已經(jīng)用于多種用途。例如，離型膜可用作粘合膜用載體膜。在這種情況下，當使用多個離型膜時，根據(jù)各離型強度的差異，可能發(fā)生粘合劑被提起的現(xiàn)象或者出現(xiàn)粘合劑轉(zhuǎn)移到離型膜上的問題。因此，需要用于選擇具有剝離穩(wěn)定性的離型膜的驗證方法，其中由于多個離型膜之間的離型強度得以平衡，因此不會發(fā)生作為粘合膜用載體的粘合劑被提起的現(xiàn)象。

發(fā)明內(nèi)容

技術(shù)問題

本發(fā)明的一個示例性實施方案提供了具有高可靠性和準確性的用于測量離型膜的剝離穩(wěn)定性的方法。

本發(fā)明的另一示例性實施方案提供了包括具有優(yōu)異剝離穩(wěn)定性的離型膜的層合體，所述剝離穩(wěn)定性通過用于測量離型膜的剝離穩(wěn)定性的方法來測量。

技術(shù)方案

本發(fā)明的一個示例性實施方案提供了用于測量離型膜的剝離穩(wěn)定性的方法，所述方法包括以下步驟：制備包括粘合層和附接在所述粘合層的兩側(cè)的輕剝離離型膜和中剝離離型膜的層合體；通過在約0.3m/分鐘至約3.0m/分鐘的剝離速度下測量所述輕剝離離型膜與所述粘合層的離型強度而獲得輕剝離、低速離型強度；通過在約0.3m/分鐘至約3.0m/分鐘的剝離速度下測量所述中剝離離型膜與所述粘合層的離型強度而獲得中剝離、低速離型強度；通過在約10m/分鐘至約30m/分鐘的剝離速度下測量所述輕剝離離型膜與所述粘合層的離型強度而獲得輕剝離、高速離型強度；通過在約10m/分鐘至約30m/分鐘的剝離速度下測量所述中剝離離型膜與所述粘合層的離型強度而獲得中剝離、高速離型強度；以及在以下通式1和2的基礎(chǔ)上測量高速離型強度平衡和低速離型強度平衡。

[通式1]

高速離型強度平衡＝中剝離、高速離型強度/輕剝離、高速離型強度

[通式2]

低速離型強度平衡＝中剝離、低速離型強度/輕剝離、低速離型強度

用于測量離型膜的剝離穩(wěn)定性的方法還可包括以下步驟：通過使用輕剝離、高速離型強度和輕剝離、低速離型強度在以下通式3的基礎(chǔ)上測量輕剝離速度變化率；以及通過使用中剝離、高速離型強度和中剝離、低速離型強度在以下通式4的基礎(chǔ)上測量中剝離速度變化率。

[通式3]

輕剝離速度變化率(％)＝(輕剝離、高速離型強度-輕剝離、低速離型強度)/輕剝離、低速離型強度×100

[通式4]

中剝離速度變化率(％)＝(中剝離、高速離型強度-中剝離、低速離型強度)/中剝離、低速離型強度×100

層合體的制備可包括將所述層合體在約20℃至約100℃下儲存約0.5小時至約720小時的步驟。

輕剝離離型膜和中剝離離型膜可各自包括離型層和基底層的層合結(jié)構(gòu)。