[發(fā)明專利]對(duì)用于探測(cè)顆粒的傳感器進(jìn)行功能監(jiān)控的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201580054592.8
• 申請(qǐng)日: 2015-08-13
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN106796167B
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-11-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: B.加爾特納;A.蒂伊芬巴奇;M.克倫克
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號(hào): G01N15/06
• 分類號(hào): G01N15/06
• 代理公司: 72001 中國(guó)專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 胡莉莉;杜荔南<國(guó)際申請(qǐng)>=PCT/EP

1.一種對(duì)用于探測(cè)顆粒的傳感器（10）進(jìn)行功能監(jiān)控的方法，其中，所述傳感器（10）具有至少兩個(gè)測(cè)量電極（20、22）和一個(gè)所述測(cè)量電極（20、22）被布置在其上的襯底（18），其中所述方法包括如下步驟：

- 通過(guò)測(cè)量所述測(cè)量電極（20、22）之間的電流，執(zhí)行第一電流-電壓測(cè)量以用于確定第一測(cè)量參量；

- 通過(guò)測(cè)量所述測(cè)量電極（20、22）之間的電流，執(zhí)行第二電流-電壓測(cè)量以用于確定第二測(cè)量參量，其中所述測(cè)量電極（20、22）中的一個(gè)測(cè)量電極（22）被置于另一電位（50）；

- 通過(guò)測(cè)量所述測(cè)量電極（20、22）之間的電流，執(zhí)行第三電流-電壓測(cè)量以用于確定第三測(cè)量參量；以及

- 借助于所述第一測(cè)量參量和所述第三測(cè)量參量形成用于來(lái)校正所述第二測(cè)量參量的校正值，

其中，所述第一電流-電壓測(cè)量在所述第二電流-電壓測(cè)量之前予以執(zhí)行，而所述第三電流-電壓測(cè)量在所述第二電流-電壓測(cè)量之后予以執(zhí)行，

其中，所述校正值基于所述第一測(cè)量參量和所述第三測(cè)量參量的衰減特性來(lái)確定，

其中，所述傳感器（10）此外還具有加熱元件（14），其中所述方法在所述加熱元件（14）運(yùn)行時(shí)予以執(zhí)行。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，在沒(méi)有將電位施加到所述測(cè)量電極（20、22）中的一個(gè)測(cè)量電極（22）上的情況下執(zhí)行所述第一電流-電壓測(cè)量和所述第三電流-電壓測(cè)量。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，將所述校正值從所述第二測(cè)量參量中減去。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，所述第一測(cè)量參量、所述第二測(cè)量參量和/或所述第三測(cè)量參量是電流。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，所述加熱元件（14）通過(guò)施加電壓來(lái)運(yùn)行。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中，被施加到所述加熱元件（14）上的電壓為12V，其中在執(zhí)行所述第二電流-電壓測(cè)量期間被施加到所述一個(gè)測(cè)量電極（22）上的電位（50）為8.4V。

7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中，所述顆粒是炭黑。

8.一種電子存儲(chǔ)介質(zhì)，在所述電子存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其中，當(dāng)所述計(jì)算機(jī)程序被處理器運(yùn)行時(shí)，所述計(jì)算機(jī)程序執(zhí)行根據(jù)前述權(quán)利要之一所述的方法的每個(gè)步驟。

9.一種電子控制設(shè)備（26），所述電子控制設(shè)備（26）包括根據(jù)權(quán)利要求8所述的電子存儲(chǔ)介質(zhì)。