[發明專利]用于光雷達發射的方法和系統

有效

• 申請號: 201580050574.2
• 申請日: 2015-08-14
• 公開（公告）號: CN107076838B
• 公開（公告）日: 2021-11-05
• 發明（設計）人: L·C·杜珊
• 申請（專利權）人: 艾耶股份有限公司
• 主分類號: G01S7/484
• 分類號: G01S7/484
• 代理公司: 北京思益華倫專利代理事務所(普通合伙) 11418
• 代理人: 趙飛;郭紅麗

1.一種用于光雷達發射的方法，其包括：

處理拍攝列表，所述拍攝列表包括用于由掃描光雷達發射系統瞄準的多個范圍點；

通過基于經處理的所述拍攝列表使用多個反射鏡掃描位置的閉合回路反饋控制而依據所述反射鏡掃描位置對反射鏡進行掃描來控制所述掃描光雷達發射系統的動態掃描圖形以瞄準經處理的所述拍攝列表的所述范圍點，其中所述反射鏡掃描位置界定所述掃描光雷達發射系統瞄準之處；以及

通過受控的所述掃描光雷達發射系統根據所述動態掃描圖形將多個光雷達脈沖朝向經處理的所述拍攝列表的所述范圍點發射。

2.根據權利要求1所述的方法，其進一步包括：

接收表示環境場景的先驗數據；

處理所述先驗數據；

基于所述處理，選擇所述環境場景內的多個范圍點以界定點群組，所選的所述范圍點對應于不到全部的所述環境場景，且所界定的所述點群組包括所選的所述范圍點；以及

將所述點群組轉譯為所述拍攝列表，使得所述拍攝列表包括不到全部的所述環境場景；且

其中處理所述先驗數據、選擇和產生的步驟是由處理器執行。

3.根據權利要求2所述的方法，其中所述先驗數據包括所述環境場景的圖像，所述圖像包括多個圖像點，且其中所述選擇步驟包括所述處理器將范圍點向下選擇算法應用于所述圖像點以選擇所述圖像點的子集作為所述范圍點。

4.根據權利要求1所述的方法，其中所述閉合回路反饋控制包括閉合回路光學反饋控制。

5.根據權利要求4所述的方法，其中所述控制步驟包括：

將電壓波形施加到所述反射鏡以將所述反射鏡驅動到所述反射鏡掃描位置；

所述方法進一步包括：

通過以下操作實施所述閉合回路光學反饋控制：

響應于所施加的所述電壓波形而在所述反射鏡掃描時將反饋激光瞄準在所述反射鏡上；

經由傳感器檢測所述反饋激光的反射；

基于所檢測的所述反射確定所述反射鏡掃描位置的誤差；以及

基于所確定的所述誤差調整所施加的所述電壓波形。

6.根據權利要求5所述的方法，其中所述瞄準步驟包括將所述反饋激光瞄準在所述反射鏡的背側上。

7.根據權利要求5所述的方法，其中所述瞄準步驟包括經由定位于光雷達脈沖源與到所述反射鏡的傳入路徑之間的第一射束組合器將所述反饋激光瞄準到所述反射鏡的前側上；且

其中所述檢測步驟包括經由定位于從所述反射鏡的傳出路徑與所述傳感器之間的分束器將所述反射引導到所述傳感器。

8.根據權利要求4到7中任一權利要求所述的方法，其中所述反射鏡包括基于經處理的所述拍攝列表以點到點模式掃描的慢軸反射鏡。

9.根據權利要求1到3中任一權利要求所述的方法，其中所述閉合回路反饋控制包括閉合回路電容反饋控制。

10.根據權利要求1到7中任一權利要求所述的方法，其中所述掃描光雷達發射系統包括第一反射鏡和第二反射鏡；

其中所述控制步驟包括基于經處理的所述拍攝列表使用所述第一反射鏡和所述第二反射鏡的多個反射鏡掃描位置的閉合回路反饋控制而依據所述反射鏡掃描位置掃描所述第一反射鏡和所述第二反射鏡以瞄準經處理的所述拍攝列表的所述范圍點，其中所述第一反射鏡和所述第二反射鏡的所述反射鏡掃描位置界定所述掃描光雷達發射系統瞄準之處。

11.根據權利要求1到7中任一權利要求所述的方法，其中所述反射鏡包括第一反射鏡和第二反射鏡，所述第一反射鏡相對于第一軸線進行掃描以使所述掃描光雷達發射系統沿著所述第一軸線瞄準，所述第二反射鏡相對于與所述第一軸線正交的第二軸線進行掃描以使所述掃描光雷達發射系統沿著所述第二軸線瞄準，其中所述第一反射鏡與所述第二反射鏡的所述反射鏡掃描位置的組合界定所述掃描光雷達發射系統瞄準的所述范圍點。