[發明專利]被覆工具有效
| 申請號： | 201580050008.1 | 申請日： | 2015-09-24 |
| 公開（公告）號： | CN106715012B | 公開（公告）日： | 2018-10-23 |
| 發明（設計）人： | 兒玉芳和;渡邊賢作;谷渕榮仁 | 申請（專利權）人： | 京瓷株式會社 |
| 主分類號： | B23B27/14 | 分類號： | B23B27/14;C23C16/30;C23C16/36;C23C16/40 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人： | 蔣亭 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 被覆 工具 | ||
1.一種被覆工具，其具備基體和設置于該基體表面的被覆層，
在所述被覆層上具有切刃和后刀面，
所述被覆層包含至少依次層疊有碳氮化鈦層和氧化鋁層的部位，
以利用X射線衍射分析進行分析的所述氧化鋁層的峰為基準，將下述式所示的值設為取向系數Tc(hkl)時，
所述后刀面的自所述氧化鋁層的表面側的測定中所檢測出的取向系數Tc1(4_0_10)為0.6以上，
對所述后刀面的所述氧化鋁層的一部分進行研磨，僅殘留所述氧化鋁層的基體側部分的狀態下的測定中所檢測出的取向系數Tc2(4_0_10)小于所述Tc1(4_0_10)，
取向系數Tc(hkl)＝{I(hkl)/I0(hkl)}/〔(1/9)×Σ{I(HKL)/I0(HKL)}〕
其中，(HKL)為(012)、(104)、(110)、(113)、(024)、(116)、(214)、(146)、(4_0_10)的晶面，
I(HKL)及I(hkl)為在所述氧化鋁層的X射線衍射分析中所檢測出的歸屬于各晶面的峰的峰強度，
I0(HKL)及I0(hkl)為JCPDS卡片No.00－010－0173中記載的各晶面的標準衍射強度。
2.根據權利要求1所述的被覆工具，其中，所述后刀面的自所述氧化鋁層的表面側的測定中所檢測出的所述表面側峰中，I(116)及I(104)為第一強和第二強。
3.根據權利要求1或2所述的被覆工具，其中，在所述被覆層上還具有前刀面，該前刀面的自所述氧化鋁層的表面側所測定的取向系數Tc3(4_0_10)大于所述后刀面的自所述氧化鋁層的表面側所測定的取向系數Tc1(4_0_10)。
4.根據權利要求1或2所述的被覆工具，其中，在所述被覆層上還具有前刀面，該前刀面的自所述氧化鋁層的表面側所測定的取向系數Tc3(104)小于所述后刀面的自所述氧化鋁層的表面側所測定的取向系數Tc1(104)。
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