[發明專利]仿真設備、仿真方法和存儲器介質在審
| 申請號: | 201580045955.1 | 申請日: | 2015-08-18 |
| 公開(公告)號: | CN106605225A | 公開(公告)日: | 2017-04-26 |
| 發明(設計)人: | 佐藤峰斗;荒木壯一郎 | 申請(專利權)人: | 日本電氣株式會社 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50;G01N33/24;G01S17/88 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務所11256 | 代理人: | 王茂華,辛鳴 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 仿真 設備 方法 存儲器 介質 | ||
1.一種仿真設備,包括:
輸入裝置,所述輸入裝置用于獲得仿真中的狀態矢量的初始狀態和參數以及多條觀測數據作為輸入;
系統模型,所述系統模型基于所述初始狀態和所述參數來仿真所述狀態矢量的時間演變;
數據選擇處理裝置,所述數據選擇處理裝置用于基于與所述系統模型中的所述狀態矢量有關的信息來從所述多條觀測數據選擇待使用的多條觀測數據;
多個觀測模型,所述多個觀測模型各自與選擇的所述多條觀測數據之一關聯,每個觀測模型基于在觀測數據與所述狀態矢量之間的關系來變換和輸出從所述系統模型輸出的狀態矢量;
后驗分布創建裝置,所述后驗分布創建裝置用于基于從所述多個觀測模型輸出的狀態矢量和由所述數據選擇處理裝置選擇的多條觀測數據來創建所述狀態矢量的后驗分布,輸出基于由所述數據選擇處理裝置選擇的所有多條觀測數據的后驗分布作為第一后驗分布,以及輸出基于缺乏一條或者多條觀測數據的觀測數據的集合的后驗分布作為第二后驗分布;
后驗分布統一裝置,所述后驗分布統一裝置用于執行對所述第一后驗分布和所述第二后驗分布的統一;
確定裝置,所述確定裝置用于確定所述第二后驗分布和在所述統一之后的后驗分布中的哪個后驗分布將被使用;以及
輸出裝置,所述輸出裝置用于除了向所述系統模型輸入包括由所述確定裝置確定的后驗分布和所述第一后驗分布的狀態矢量之外,還輸出所述狀態矢量的時序。
2.根據權利要求1所述的仿真設備,其中
所述數據選擇處理裝置通過將與所述系統模型中的狀態矢量集合有關的多條信息和所述多條觀測數據相比較來創建與所述多條觀測數據有關的所述觀測模型。
3.根據權利要求1或者2所述的仿真設備,其中
所述數據選擇處理裝置設置與所述多條觀測數據有關的所述觀測模型的噪聲量。
4.根據權利要求1至3中的任一權利要求所述的仿真設備,其中
所述后驗分布統一裝置在統一所述第一后驗分布和所述第二后驗分布的處理中,使用基于在已經被計算出的后驗分布之間的相關性而被創建的模型。
5.根據權利要求4所述的仿真設備,其中
所述后驗分布統一裝置基于在已經被計算出的后驗分布之間的相關性,來向表征將在所述統一中被使用的所述模型的算術操作的參數應用貝葉斯更新。
6.根據權利要求1至5中的任一權利要求所述的仿真設備,其中
所述確定裝置基于所述第二后驗分布和在所述統一之后的后驗分布的方差值,來確定所述第二后驗分布和在所述統一之后的所述后驗分布中的哪個后驗分布將被使用。
7.根據權利要求1至6中的任一權利要求所述的仿真設備,其中
所述狀態矢量包括各自與在對其執行仿真的域中被離散化的格點之一有關的狀態變量;以及
所述觀測模型對于所述多條觀測數據中的每條觀測數據,將與所述狀態變量有關的所述格點和所述多條觀測數據之一的觀測點的分辨程度相關。
8.根據權利要求1至7中的任一權利要求所述的仿真設備,其中
所述狀態變量中的每個狀態變量的概率分布由相互獨立地被離散化和計算出的集合體的集合近似,以及
所述后驗分布統一裝置借助以預定比率疊加所述狀態變量的概率分布來執行統一,所述概率分布由所述集合體的集合近似。
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