[發明專利]一種基于航位推算技術的校準方法和便攜式電子設備

有效

• 申請號: 201580042885.4
• 申請日: 2015-09-30
• 公開（公告）號: CN107003132B
• 公開（公告）日: 2021-05-04
• 發明（設計）人: 陸晨曦
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G01C21/12
• 分類號: G01C21/12;G01C25/00
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫;熊永強

1.一種基于航位推算技術的校準方法，應用于便攜式電子設備，其特征在于，包括：

根據航位推算技術確定所述便攜式電子設備當前位置的坐標、所述當前位置的軌跡參數值和所述當前位置的運動方向；其中，所述軌跡參數值包括曲率變化率、曲率半徑變化率、曲率和曲率半徑中的任意一種，所述便攜式電子設備在預設的目標路徑上運動，所述目標路徑上設置有至少兩個校準點；

若所述運動方向為第一校準點至第二校準點，獲取所述第二校準點的坐標；

檢測到所述當前位置的軌跡參數值滿足預設的校準條件，將所述當前位置的坐標修正為所述第二校準點的坐標；

其中，

在所述目標路徑為平滑的情況下，所述目標路徑上的校準點為所述目標路徑上軌跡參數值大于第一閾值的點；或，在所述目標路徑為非平滑的情況下，所述目標路徑上的校準點為所述目標路徑上的轉折點。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述檢測所述當前位置的軌跡參數值滿足預設的校準條件，將所述當前位置的坐標修正為所述第二校準點的坐標包括：

檢測到所述當前位置的軌跡參數值大于第二閾值時，將所述當前位置的坐標修正為所述第二校準點的坐標。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述根據航位推算技術確定所述便攜式電子設備當前位置的坐標、所述當前位置的軌跡參數值和所述當前位置的運動方向之前，還包括：在所述目標路徑為平滑的情況下，確定所述目標路徑上各個校準點劃分的子路徑的軌跡參數值范圍，所述校準點為所述目標路徑上軌跡參數值大于第一閾值的點；

所述檢測到所述當前位置的軌跡參數值滿足預設的校準條件，將所述當前位置的坐標修正為所述第二校準點的坐標，包括：檢測到所述當前位置的軌跡參數值位于以所述第二校準點為起點的子路徑的軌跡參數值范圍內時，將所述當前位置的坐標修正為所述第二校準點的坐標。

4.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述檢測到所述當前位置的軌跡參數值大于第二閾值，將所述當前位置的坐標修正為所述第二校準點的坐標包括：

檢測到所述當前位置的軌跡參數值大于所述第二閾值且所述便攜式電子設備在所述第一校準點和所述第二校準點之間沒有調頭，獲取所述當前位置與所述第二校準點之間的第一路徑長度，以及獲取所述第一校準點與所述第二校準點的第二路徑長度；

將所述第一路徑長度除以所述第二路徑長度得到比例值；

若所述計算得到的比例值小于第三閾值，獲取所述第二校準點的軌跡參數值；

計算所述當前位置的軌跡參數值減去所述第二校準點的軌跡參數值的差值；

若所述計算得到的差值小于第四閾值，將所述當前位置的坐標修正為所述第二校準點的坐標。

5.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述檢測到所述當前位置的軌跡參數值大于第二閾值，將所述當前位置的坐標修正為所述第二校準點的坐標包括：

檢測到所述當前位置的軌跡參數值大于第二閾值且所述便攜式電子設備在所述第一校準點和所述第二校準點之間發生一次調頭，獲取調頭位置的坐標；

計算所述當前位置和所述調頭位置之間的第三路徑長度，以及所述第二校準點和所述調頭位置之間的第四路徑長度；

計算所述第三路徑長度除以所述第四路徑長度得到的比例值；

若所述計算得到的比例值大于第五閾值，獲取所述第二校準點的軌跡參數值；

計算所述當前位置的軌跡參數值減去所述第二校準點的軌跡參數值得到的差值；

若所述計算得到的差值小于第六閾值，將所述當前位置的坐標修正為所述第二校準點的坐標。