[發(fā)明專利]具有不同類型配置存儲(chǔ)器的可編程集成電路有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201580038277.6 | 申請(qǐng)日： | 2015-07-09 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN106537780B | 公開(kāi)（公告）日： | 2020-04-07 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | J·卡普 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 賽靈思公司 |
| 主分類號(hào)： | G06F11/18 | 分類號(hào)： | G06F11/18;G06F30/3323;H03K19/0175;H03K19/177 |
| 代理公司： | 北京市君合律師事務(wù)所 11517 | 代理人： | 宋海寧;毛健 |
| 地址： | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼： | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 具有 不同類型 配置 存儲(chǔ)器 可編程 集成電路 | ||
【權(quán)利要求書(shū)】：
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G06 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù)
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè)；錯(cuò)誤校正；監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生，例如，容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi)，通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè)；錯(cuò)誤校正；監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生，例如，容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi)，通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 用于控制非易失性存儲(chǔ)器的控制器
- 處理器、存儲(chǔ)器、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、系統(tǒng)LSI及其驗(yàn)證方法
- 存儲(chǔ)和檢索處理系統(tǒng)的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器系統(tǒng)和性能監(jiān)視方法
- 用于控制半導(dǎo)體裝置的方法
- 存儲(chǔ)器存儲(chǔ)裝置及其測(cè)試方法
- 存儲(chǔ)器裝置及可促進(jìn)張量存儲(chǔ)器存取的方法
- 使用雙通道存儲(chǔ)器作為具有間隔的單通道存儲(chǔ)器
- 用于管理存儲(chǔ)器訪問(wèn)操作的方法和系統(tǒng)
- 存儲(chǔ)器控制器、存儲(chǔ)裝置和存儲(chǔ)裝置的操作方法
- 具有部分組刷新的存儲(chǔ)器
