[發明專利]雙激光頻率掃描干涉測量系統和方法有效
| 申請號: | 201580036930.5 | 申請日: | 2015-06-24 |
| 公開(公告)號: | CN106687762B | 公開(公告)日: | 2019-09-06 |
| 發明(設計)人: | 胡安·喬斯·馬丁內斯;奈杰爾·約瑟夫·科普納;馬修·思杜德·瓦登;愛德華·班杰明·休斯;邁克爾·阿洛伊修斯·坎貝爾 | 申請(專利權)人: | NPL管理有限公司 |
| 主分類號: | G01B9/02 | 分類號: | G01B9/02;G01B11/02;G01S17/32;G01S7/491 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 孫紀泉 |
| 地址: | 英國米*** | 國省代碼: | 英國;GB |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 激光 頻率 掃描 干涉 測量 系統 方法 | ||
【說明書】:
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