[發(fā)明專利]用于生成安全元件的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201580030453.1 | 申請日： | 2015-11-24 |
| 公開（公告）號： | CN107148358B | 公開（公告）日： | 2018-11-27 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 克里斯汀·塞勒;菲利克斯·阿伯特;西爾萬·肖松 | 申請（專利權(quán)）人： | 金雅拓股份公司;奧雷爾·菲斯利防偽印刷股份公司 |
| 主分類號： | B42D25/435 | 分類號： | B42D25/435;B42D25/24;B42D25/351;B42D25/41 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 謝攀;王春偉 |
| 地址： | 瑞士*** | 國省代碼： | 瑞士;CH |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 生成 安全 元件 方法 | ||
1.一種用于生成安全元件(1)的真實性信息項(2)的方法，所述真實性信息項(2)用于校驗至少兩個或正好兩個載體部分(3、4、5)的正確組合，其中，所述安全元件(1)包括具有第一部分信息項(7)的至少一個第一部分元件(6)和具有第二部分信息項(9)的第二部分元件(8)，其中，所述第一部分元件(6)能夠分配給第一載體部分(3)，并且所述第二部分元件(8)能夠分配給第二載體部分(4)，并且其中，所述第一部分元件(6)和所述第二部分元件(8)能夠從起始位置移動到校驗位置，所述第一部分元件(6)和所述第二部分元件(8)在所述校驗位置中彼此重疊，其中，所述第一部分信息項(7)和所述第二部分信息項(9)在所述校驗位置中表示所述真實性信息項(2)，所述方法的特征在于：
在對準(zhǔn)步驟中，將所述第一部分元件(6)和所述第二部分元件(8)定位成一個在另一個之上并且相對于彼此對準(zhǔn)，
所述方法的特征在于：在固定步驟中，將所述第一部分元件(6)和所述第二部分元件(8)相對于彼此固定在它們的對準(zhǔn)位置，并且
所述方法的特征在于：在加工步驟中，利用至少一個加工裝置(B)提供電磁波(W1、W2、W3、W4)，利用所述電磁波(W1、W2、W3、W4)生成所述第一部分信息項(7)和所述第二部分信息項(9)，其中，直接用所述波來加工所述第一部分元件(6)，并且通過所述第一部分元件(6)來加工所述第二部分元件(8)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，由所述加工裝置(B)專門地并且立即地加工所述第一部分元件(6)和所述第二部分元件(8)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，位置更靠近所述加工裝置(B)的第一部分元件(6)至少在進行所述加工之前對于所述電磁波(W1、W2、W3、W4)而言是能透射的或透明的。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，改變所述電磁波(W1、W2、W3、W4)的至少一個加工參數(shù)，使得選擇性地加工所述第一部分元件(6)或所述第二部分元件(8)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一部分信息項(7)不同于所述第二部分信息項(9)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，改變所述電磁波(W1、W2、W3、W4)的至少一個加工參數(shù)，使得能夠加工所述第一部分元件(6)和/或所述第二部分元件(8)。
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