[實用新型]一種晶元芯片檢測工裝有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201521040030.1 | 申請日： | 2015-12-12 |
| 公開（公告）號： | CN205229403U | 公開（公告）日： | 2016-05-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 鄒磊 | 申請（專利權(quán)）人： | 普鑠電子(上海)有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 200131 上海市浦東新區(qū)*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 芯片 檢測 工裝 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種晶元芯片檢測工裝，其特征是，包括線路板、連接座，所述 連接座的一端與線路板連接，所述連接座的另一端的兩側(cè)各設(shè)有一排測 針，所述的測針包括測針套、設(shè)在測針套內(nèi)的可伸縮的測針頭，所述的測 針套與連接座的端面之間通過膠水層連接，每個測針的測針頭高出膠水層 的端面，每個測針的測針套通過導(dǎo)線與線路板連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種晶元芯片檢測工裝，其特征是，所述的 線路板與連接座之間通過螺栓連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種晶元芯片檢測工裝，其特征是，所 述的測針與連接座端面之間傾斜分布構(gòu)成夾角，所述測針頭的外端彎曲形 成檢測端子，所述的檢測端子與待檢測的晶元芯片垂直。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種晶元芯片檢測工裝，其特征是，所述檢 測端子的端面為球面。
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