[實用新型]一種模數轉換芯片量產測試電路

有效

• 申請號: 201520900765.0
• 申請日: 2015-11-12
• 公開（公告）號: CN205123711U
• 公開（公告）日: 2016-03-30
• 發明（設計）人: 楊棟;嚴凌志;涂柏生
• 申請（專利權）人: 深圳市博巨興實業發展有限公司
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 張全文

技術領域

本實用新型涉及芯片測試技術領域，尤其涉及一種模數轉換芯片量產測試電路。

背景技術

一般，在所有電子元器件(包括集成芯片、分立元件等)的制造工藝里面，存在著去偽存真的需要，這種需要實際上是一個試驗的過程，即通過自動測試設備去測試每個電子元器件的真偽。在測試電子元器件時，測試成本越低越好。

目前，降低芯片測試成本的方法有兩種：一是增加可同時測試的芯片的數量(簡稱同測數)，二是降低每個芯片的測試時間，即在相同時間內，測試的芯片數目越多，生產成本就越低?？赏瑫r測試的芯片的數量由自動測試設備的通道數和電源數決定。目前，在批量測試模數轉換芯片時，主要有兩種方法：一種是直接由自動測試設備的精準電源給被測模數轉換芯片供電，自動測試設備直接輸出一模擬信號至被測模數轉換芯片，再測被測模數轉換芯片的輸出；另一種是在自動測試設備上配一塊專門測試模數轉換芯片的數模轉換板卡，自動測試設備輸出一數字信號至所述數模轉換板卡，所述數模轉換板卡將所述數字信號處理后輸出三角波或正弦波至被測模數轉換芯片，再由自動測試設備測試被測模數轉換芯片的輸出。

第一種測試方法的缺點在于：(1)由于自動測試設備的精準電源不多，一般為8個，給被測芯片供電還需占用自動測試設備的精準電源，這樣會限制可同時測試的芯片的數量；(2)這種測試方法易受外界干擾；(3)測試時間長。

第二種測試方法的缺點在于：(1)在自動測試設備上專門配一塊測試模數轉換芯片的板卡會占用自動測試設備較多的通道資源，導致可同時測試的芯片數受到限制；(2)測試時間長。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種模數轉換芯片量產測試電路，旨在解決現有技術中直接由自動測試設備的精準電源給模數轉換芯片供電或通過配置數模轉換板卡對模數轉換芯片進行測試導致可同時測試的芯片數受到限制、測試時間長、成本高的問題。

本實用新型是這樣實現的，本實用新型提供了一種模數轉換芯片量產測試電路，與多個被測模數轉換芯片連接，其特征在于，所述模數轉換芯片量產測試電路包括：

測試端與所述多個被測模數轉換芯片的輸出端連接，檢測所述多個被測模數轉換芯片輸出是否正確的自動測試設備；

多路數模轉換電路，每一路數模轉換電路的三個輸入端分別與所述自動測試設備相對應的三個通道連接，每一路數模轉換電路的輸出端與相對應的所述被測模數轉換芯片的輸入端連接，所述數模轉換電路將所述自動測試設備輸出的數字信號轉換為模擬信號后輸出至所述被測模數轉換芯片。

進一步的，所述每一路數模轉換電路均包括數模轉換單元和放大單元；

所述數模轉換單元的三個輸入端分別與所述自動測試設備相對應的三個通道連接，所述數模轉換單元的輸出端接所述放大單元，所述放大單元的輸出端與相應的所述被測模數轉換芯片連接。

進一步的，所述數模轉換單元包括：

數模轉換芯片U1、濾波電容C1和濾波電容C2；

所述數模轉換芯片U1的數據輸入腳SDI、時鐘腳SCLK和片選腳CS分別為所述數模轉換單元的三個輸入端，所述數模轉換芯片U1的數字地腳DGND接地，所述數模轉換芯片U1的電源腳VCC、所述數模轉換芯片U1的參考電壓腳VREF、所述濾波電容C1的第一端和所述濾波電容C2的第一端共接于+5V電源，所述數模轉換芯片U1的模擬地腳AGND、所述濾波電容C1的第二端和所述濾波電容C2的第二端共接于地，所述數模轉換芯片U1的電壓輸出腳VOUT接所述放大單元。

進一步的，所述放大單元包括：

運算放大器U2、濾波電容C3和濾波電容C4；

所述運算放大器U2的輸入腳IN+接所述數模轉換芯片U1的電壓輸出腳VOUT，所述運算放大器U2的負電源腳V-和所述濾波電容C3的第一端共接于-15V電源，所述濾波電容C3的第二端接地，所述運算放大器U2的正電源腳V+和所述濾波電容C4的第一端共接于+15V電源，所述濾波電容C4的第二端接地，所述運算放大器U2的電壓反饋腳VOS和所述運算放大器U2的輸出腳OUT共接于所述被測模數轉換芯片。