[實用新型]一種雙屏背光源檢驗治具

有效

• 申請號: 201520730343.3
• 申請日: 2015-09-18
• 公開（公告）號: CN204924618U
• 公開（公告）日: 2015-12-30
• 發明（設計）人: 孫浩;孫寧
• 申請（專利權）人: 北京京東方茶谷電子有限公司;京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

技術領域

本實用新型涉及背光源檢驗領域，尤其涉及一種雙屏背光源檢驗治具。

背景技術

隨著科學技術的不斷發展，液晶顯示屏在手機、電腦等各種電子產品中的應用越來越廣泛，為了能夠獲取亮度均勻的背光源，保證液晶顯示屏質量，背光源在制作完成后，通常需要在背光源檢驗治具上測量背光源的一些光學參數，以此來檢驗背光源的發光質量。

現有技術中，在檢驗雙屏背光源時，首先需要將雙屏背光源放在背光源檢驗治具上，測量其中一面屏的相關光學參數，然后將雙屏背光源翻轉180度，測量另一面屏的相關光學參數。由于在檢驗時需要調整雙屏背光源的位置，這樣使得檢驗操作比較復雜，檢驗效率較低。

實用新型內容

本實用新型的實施例提供一種雙屏背光源檢驗治具，能夠簡化檢驗操作，提高檢驗效率。

為達到上述目的，本實用新型的實施例采用如下技術方案：

本實用新型實施例提供一種雙屏背光源檢驗治具，包括：

檢驗平臺，所述檢驗平臺上設置有容納槽；所述容納槽內放置有雙屏背光源；所述雙屏背光源的副屏靠近所述容納槽的槽底；

所述檢驗平臺上開設有觀察口；所述容納槽的一端轉動連接于所述觀察口內；所述容納槽的槽底開設有檢驗口；

所述檢驗口的下方設置有平面鏡，所述平面鏡相對于所述觀察口傾斜設置；所述平面鏡可反射所述雙屏背光源的副屏發出的光線。

可選的，所述平面鏡的反射面位于所述檢驗口的正下方。

可選的，所述檢驗平臺上還設置有顯示屏支架，所述顯示屏支架上設置有顯示屏；

在檢驗所述雙屏背光源的主屏時，所述顯示屏可覆蓋在所述雙屏背光源的主屏上。

可選的，所述治具還包括控制電路，所述控制電路可控制所述雙屏背光源點亮；

所述檢驗平臺上還設置有變阻器，所述變阻器與所述控制電路連接，所述變阻器可調節所述雙屏背光源的亮度。

可選的，所述變阻器為旋鈕變阻器。

可選的，所述檢驗口與所述雙屏背光源的副屏中需要檢測的區域大小相同。

可選的，所述平面鏡的一端固定在所述檢驗平臺上。

可選的，當所述容納槽的底面與所述觀察口所在平面的夾角為第一角度時，所述容納槽的底面與所述平面鏡的反射面平行。

可選的，所述平面鏡的反射面與所述觀察口所在平面的夾角為10°～40°。

本實用新型實施例提供的雙屏背光源檢驗治具，包括：檢驗平臺，檢驗平臺上設置有容納槽；容納槽內放置有雙屏背光源；雙屏背光源的副屏靠近容納槽的槽底；檢驗平臺上開設有觀察口；容納槽的一端轉動連接于觀察口內；容納槽的槽底開設有檢驗口；檢驗口的下方設置有平面鏡，平面鏡相對于觀察口傾斜設置；平面鏡可反射雙屏背光源的副屏發出的光線。相較于現有技術，本實用新型實施例通過在放置有雙屏背光源的容納槽的背面一側設置平面鏡，透過容納槽的槽底的檢驗口，平面鏡可反射雙屏背光源的副屏發出的光線。當需要檢驗時，只需抬起容納槽，便可通過檢驗平臺上的觀察口，從平面鏡中觀察雙屏背光源的副屏，由于在檢驗時不需要調整雙屏背光源的位置，這樣簡化了檢驗操作，提高了檢驗效率。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本實用新型實施例提供的一種雙屏背光源檢驗治具示意圖一；

圖2為本實用新型實施例提供的一種雙屏背光源檢驗治具示意圖二。

具體實施方式

下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。

本實用新型實施例提供一種雙屏背光源檢驗治具，如圖1和圖2所示，包括：檢驗平臺11，檢驗平臺11上設置有容納槽12；容納槽12內放置有雙屏背光源；雙屏背光源的副屏靠近容納槽12的槽底；檢驗平臺11上開設有觀察口111；容納槽12的一端轉動連接于觀察口111內；容納槽12的槽底開設有檢驗口121；檢驗口121的下方設置有平面鏡13，平面鏡13相對于觀察口111傾斜設置；平面鏡13可反射雙屏背光源的副屏發出的光線。