[實用新型]一種DKDP晶體毛胚動態消光比測試裝置

有效

• 申請號: 201520377217.4
• 申請日: 2015-06-03
• 公開（公告）號: CN204630715U
• 公開（公告）日: 2015-09-09
• 發明（設計）人: 馮傳勝;趙圣之;李宇飛
• 申請（專利權）人: 山東大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 濟南金迪知識產權代理有限公司 37219
• 代理人: 寧欽亮

技術領域

本實用新型涉及一種DKDP晶體毛胚動態消光比的測試方法及裝置，屬于DKDP晶體毛胚動態消光比測試技術領域。

背景技術

動態消光比是DKDP電光晶體的一個重要指標，它的測量需要在DKDP晶體上加上電極才能完成，在DKDP晶體為毛胚的狀態下是無法實現的，只有將DKDP晶體加工成成品或已成型的半成品時才能檢測，這樣在選擇DKDP晶體毛胚時，不可能通過動態消光比鑒定晶體的優劣。

常規的DKDP晶體動態消光比測試，是將激光器發出的光束經起偏器變成線偏振光，通過兩端加有電極的DKDP電光晶體，并在兩個電極上加上直流電壓，電場方向平行于光軸z，在電光晶體中會生成電感應的x，y軸，繞z周轉動晶體使偏振光的方向與x，y軸的夾角呈45°，此時，偏振光在兩個電感應軸上的振幅投影是相等的。由于，兩個電感應軸的折射率不相等，彼此相互垂直的兩束光經過晶體時會產生光程差，光成差的大小依賴于晶體上所加電壓的大小，當電壓為V_λ/2時光程差為π，由晶體出射的光仍然是線偏光，但偏振方向與晶體入射偏振方向垂直。如果檢偏器偏振方向與起偏器偏振方向垂直，由光電探測器測得的光強定義為I_max。晶體上不加電壓時光電探測器測得的光強定義為I_min，I_max與I_min之比定義為晶體的動態消光比。

由上述可知，測DKDP晶體的動態消光比需要有兩個條件，一是要在晶體上加上平行于晶體z軸的電場，二是要能繞z軸旋轉。毛胚晶體外形不定，不管是加電極還是旋轉都不易實現。因此，現有常規的DKDP晶體動態消光比測試方法不適用于DKDP晶體毛胚動態消光比的測試。

實用新型內容

本實用新型針對現有DKDP晶體動態消光比測試技術存在的問題，提供一種能夠對DKDP晶體毛胚動態消光比進行測試，且能夠判斷晶體中內應力的大小、測出晶體半波電壓的DKDP晶體毛胚動態消光比測試裝置。

本實用新型的DKDP晶體毛胚動態消光比測試裝置，采用以下技術方案：

該裝置，包括底座，底座上設置有轉盤、偏振機構、電極機構和探測器機構，底座的底面設置有反射機構，轉盤上設置有起偏機構和檢偏機構，偏振機構、起偏機構、電極機構、檢偏機構和反射機構自上至下依次布置，探測機構處于反射機構一側。

所述偏振機構包括激光器固定座、偏振片座、偏振片和1/4波片，激光器固定座通過支架固定安裝在底座上，激光器固定座上安裝激光器；支架下面裝有偏振片座，偏振片座中裝有偏振片，偏振片座的下面安裝有能夠轉動的波片座，波片座中設置有1/4波片。

所述起偏機構包括起偏偏振片調整架和起偏偏振片，起偏偏振片調整架中設置有起偏偏振片，起偏偏振片調整架安裝在起偏支架上，起偏偏振片調整架能夠在起偏支架上轉動，起偏支架固定在轉盤上。起偏支架由起偏片水平桿和起偏立桿連接而成，起偏立桿固定在轉盤上。轉盤上設置有配重塊，以平衡起偏立桿。

所述電極機構包括晶體托盤、上電極固定板、上電極、下電極和電源箱，晶體托盤通過可調支撐件固定在底座上，上電極固定板支撐固定在晶體托盤上，上電極固定板上設置有上彈套，上電極設置在上彈套中，上電極與上彈套之間設置有上彈簧，上電極的上端連接有上彈座把，上電極通過導線連接電源箱的高壓連線端；下電極安裝在下彈套中，下彈套固定在晶體托盤的底面上，下電極與下彈套之間設置有下彈簧，下電極通過導線與電源箱的接地端相連。所述可調支撐件由調平螺栓頭、調平螺栓和調平螺栓座組成，調平螺栓連接在調平螺栓頭與調平螺栓座之間，調平螺栓能夠在調平螺栓頭中轉動，調平螺栓頭固定在晶體托盤的下表面，調平螺栓座固定在底座上。所述上電極的下端和下電極的上端均設置有導電橡膠。

所述檢偏機構包括檢偏偏振片鏡片架和檢偏偏振片，檢偏偏振片鏡片架固定在轉盤上，檢偏偏振片設置在檢偏偏振片鏡片架中。

所述反射機構包括反射鏡、反射鏡架和反射鏡固定座，反射鏡固定座設置在底座的底面，反射鏡固定座上安裝有反射鏡架，反射鏡架中裝有反射鏡。

所述探測機構包括探測器水平桿、探測器垂直桿和探測器，探測器水平桿固定在底座上，探測器水平桿上安裝有探測器垂直桿，垂直桿能夠繞水平桿轉動，探測器垂直桿上安裝有探測器。