[實用新型]一種DKDP晶體毛胚動態消光比測試裝置

有效

• 申請號: 201520377217.4
• 申請日: 2015-06-03
• 公開（公告）號: CN204630715U
• 公開（公告）日: 2015-09-09
• 發明（設計）人: 馮傳勝;趙圣之;李宇飛
• 申請（專利權）人: 山東大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 濟南金迪知識產權代理有限公司 37219
• 代理人: 寧欽亮

1.一種DKDP晶體毛胚動態消光比測試裝置，包括底座，其特征是，底座上設置有轉盤、偏振機構、電極機構和探測器機構，底座的底面設置有反射機構，轉盤上設置有起偏機構和檢偏機構，偏振機構、起偏機構、電極機構、檢偏機構和反射機構自上至下依次布置，探測機構處于反射機構一側。

2.根據權利要求1所述的DKDP晶體毛胚動態消光比測試裝置，其特征是，所述偏振機構包括激光器固定座、偏振片座、偏振片和1/4波片，激光器固定座通過支架固定安裝在底座上，激光器固定座上安裝激光器；支架下面裝有偏振片座，偏振片座中裝有偏振片，偏振片座的下面安裝有能夠轉動的波片座，波片座中設置有1/4波片。

3.根據權利要求1所述的DKDP晶體毛胚動態消光比測試裝置，其特征是，所述起偏機構包括起偏偏振片調整架和起偏偏振片，起偏偏振片調整架中設置有起偏偏振片，起偏偏振片調整架安裝在起偏支架上，起偏偏振片調整架能夠在起偏支架上轉動，起偏支架固定在轉盤上。

4.根據權利要求3所述的DKDP晶體毛胚動態消光比測試裝置，其特征是，所述起偏支架由起偏片水平桿和起偏立桿連接而成，起偏立桿固定在轉盤上。

5.根據權利要求1所述的DKDP晶體毛胚動態消光比測試裝置，其特征是，所述電極機構包括晶體托盤、上電極固定板、上電極、下電極和電源箱，晶體托盤通過可調支撐件固定在底座上，上電極固定板支撐固定在晶體托盤上，上電極固定板上設置有上彈套，上電極設置在上彈套中，上電極與上彈套之間設置有上彈簧，上電極的上端連接有上彈座把，上電極通過導線連接電源箱的高壓連線端；下電極安裝在下彈套中，下彈套固定在晶體托盤的底面上，下電極與下彈套之間設置有下彈簧，下電極通過導線與電源箱的接地端相連。

6.根據權利要求5所述的DKDP晶體毛胚動態消光比測試裝置，其特征是，所述可調支撐件由調平螺栓頭、調平螺栓和調平螺栓座組成，調平螺栓連接在調平螺栓頭與調平螺栓座之間，調平螺栓能夠在調平螺栓頭中轉動，調平螺栓頭固定在晶體托盤的下表面，調平螺栓座固定在底座上。

7.根據權利要求1所述的DKDP晶體毛胚動態消光比測試裝置，其特征是，所述檢偏機構包括檢偏偏振片鏡片架和檢偏偏振片，檢偏偏振片鏡片架固定在轉盤上，檢偏偏振片設置在檢偏偏振片鏡片架中。

8.根據權利要求1所述的DKDP晶體毛胚動態消光比測試裝置，其特征是，所述反射機構包括反射鏡、反射鏡架和反射鏡固定座，反射鏡固定座設置在底座的底面，反射鏡固定座上安裝有反射鏡架，反射鏡架中裝有反射鏡。

9.根據權利要求1所述的DKDP晶體毛胚動態消光比測試裝置，其特征是，所述探測機構包括探測器水平桿、探測器垂直桿和探測器，探測器水平桿固定在底座上，探測器水平桿上安裝有探測器垂直桿，垂直桿能夠繞水平桿轉動，探測器垂直桿上安裝有探測器。