[實用新型]芯片封裝結構有效
| 申請號: | 201520315723.0 | 申請日: | 2015-05-15 |
| 公開(公告)號: | CN204834597U | 公開(公告)日: | 2015-12-02 |
| 發明(設計)人: | 謝智正;許修文 | 申請(專利權)人: | 無錫超鈺微電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/31 | 分類號: | H01L23/31;H01L21/56;H01L23/495;H01L21/60 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290 | 代理人: | 姚垚;曹正建 |
| 地址: | 214072 江蘇省無錫市濱湖區蠡園開發*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 芯片 封裝 結構 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種半導體封裝結構,特別是涉及一種減少封裝塑料使用的芯片封裝結構。
背景技術
隨著可攜式與穿戴式電子產品的發展,開發具有高效能、體積小、高速度、高質量及多功能性的產品成為趨勢。為了使消費型電子產品的外形尺寸朝向微型化發展,晶圓級芯片尺寸封裝(WaferLevelChipScalePackage,WLCSP)制程成為在進行芯片封裝時經常采用的技術手段。芯片尺寸(CSP)封裝體,使用SolderBump直接將電路引出,不使用傳統打線,除了減少線路電阻也可以有效降低寄生電感,提高產品操作頻率。此外,芯片面積與封裝尺寸接近,功率密度也可以達到優化。
此外,在傳統的封裝制程中,通常會利用塑封料來封裝芯片,以形成包覆芯片的塑封層。塑封層除了提供芯片支撐強度,避免芯片在運輸或在制備流程中受損,也可使芯片免于受水氣入侵。然而,塑封層雖然可保護芯片,卻會污染環境。
實用新型內容
本實用新型實施例在于提供一種芯片封裝結構,其借助導電框體來封裝芯片。導電框體仍對芯片提供支撐強度以及保護,因此可減少塑封料的使用。此外,通過改變切割位置,可根據不同的電路形成可適用在不同電路中的芯片封裝結構。
本新型其中一實施例提供一種芯片封裝結構,用于設置于一電路板上。芯片封裝結構包括導電架、絕緣膠體、第一芯片及第二芯片。導電架具有底部與第一分隔板,底部包括第一導電部及第二導電部。且第一分隔板凸出于第二導電部。絕緣膠體設置于第一導電部與第二導電部之間。第一芯片設置于第一導電部,其中第一芯片的漏極電性連接至第一導電部。第二芯片設置于第二導電部,其中第二芯片的漏極電性連接至第二導電部。當芯片封裝結構設置于電路板上時,第一芯片的源極經由電路板、第一分隔板與第二導電部電性連接至第二芯片的漏極。
所述的芯片封裝結構,更包括一第二分隔板,位于所述導電架的一側,所述第二分隔板電性連接于所述第一導電部,并與所述第一分隔板形成一第一容置區,其中所述絕緣膠體位于所述第一容置區內。
所述第一芯片封裝結構更包括一第三芯片,所述第二芯片與所述第三芯片設置于所述第二導電部,并通過所述第二導電部相互電性連接。
所述第一芯片與所述第二芯片為功率晶體管,所述第三芯片為二極管。
本實用新型另一實施例提供一種芯片封裝結構,用來設置于一電路板上,所述芯片封裝結構包括:一導電架,具有一底部與一第一分隔板,所述底部包括一第一導電部及一第二導電部,且所述第一分隔板與所述第二導電部電性連接;一絕緣膠體,設置于所述第一導電部與所述第二導電部之間;一第一芯片,設置于所述第一導電部,其中所述第一芯片的漏極電性連接至所述第一導電部;一控制芯片,設置于所述第一導電部,所述控制芯片電性絕緣于所述第一導電部;以及一第二芯片,設置于所述第二導電部,所述第二芯片的漏極電性連接至所述第二導電部;其中,當所述芯片封裝結構設置于該電路板上時,所述第一芯片的源極經由所述電路板、所述第一分隔板與所述第二導電部電性連接至所述第二芯片的漏極。所述控制芯片通過一絕緣膠固定于所述第一導電部,并與所述第一導電部電性絕緣。
在本實用新型實施例所提供的芯片封裝結構的制造方法中,利用導電框體取代塑封料來封裝芯片,可減少塑封料的使用,而盡可能避免環境污染。另外,在導電框體切割以形成多個芯片封裝結構時,可借助改變切割的位置來形成不同的封裝結構。
為使能更進一步了解本實用新型的特征及技術內容,請參閱以下有關本實用新型的詳細說明與附圖,然而所附附圖僅提供參考與說明用,并非用來對本實用新型加以限制。
附圖說明
圖1為本實用新型實施例的芯片封裝結構的制造方法的流程圖;
圖2為本實用新型實施例的芯片封裝結構在圖1的步驟中的局部剖面示意圖;
圖3為本實用新型實施例的芯片封裝結構在圖1的步驟中的局部剖面示意圖;
圖4A為本實用新型實施例的導電框體的局部俯視示意圖;
圖4B為圖4A中沿H-H剖面線的剖面示意圖;
圖4C為本實用新型另一實施例的導電框體的局部剖面示意圖;
圖5A為本實用新型實施例的芯片封裝結構在圖1的步驟中的局部俯視示意圖;
圖5B為圖5A沿I-I剖面線的剖面示意圖;
圖5C為本實用新型另一實施例的芯片封裝結構在圖1的步驟中的局部剖面示意圖;
圖6A為本實用新型實施例的芯片封裝結構在步驟中的局部仰視示意圖;
圖6B為圖6A中沿J-J剖面線的剖面示意圖;
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