[實用新型]輻射污染檢測系統以及檢測設備和輻射粒子探測器

有效

• 申請號: 201520257948.5
• 申請日: 2015-04-27
• 公開（公告）號: CN204807708U
• 公開（公告）日: 2015-11-25
• 發明（設計）人: 譚偉;秦來貴
• 申請（專利權）人: 賽默飛世爾（上海）儀器有限公司
• 主分類號: G01T1/167
• 分類號: G01T1/167
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 張昱;胡斌

1.一種輻射污染檢測系統，其包括至少一個輻射粒子探測器(1)，其特征在于，所述輻射粒子探測器(1)包括：

探測單元(11)，其設置成用于探測輻射粒子，并將探測到的輻射粒子的動能轉換成光能輸出；以及

硅光電倍增管(12)，其設置成用于接收所述光能并將其轉換成電信號輸出；

并且，所述輻射污染檢測系統還包括：

至少一個偏壓產生模塊(2)，其與所述至少一個輻射粒子探測器(1)相對應，并且與其中的所述硅光電倍增管(12)相連以向其提供偏置電壓，所述偏置電壓使得所述硅光電倍增管(12)在其工作溫度范圍內具有預設的增益；和/或

探測數據處理模塊，其與所述至少一個輻射粒子探測器(1)中的所述硅光電倍增管(12)相連，用于處理由于所述硅光電倍增管(12)的自身噪聲影響而在所述工作溫度范圍內對于所述探測到的輻射粒子計數值所產生的誤差。

2.根據權利要求1所述的輻射污染檢測系統，其特征在于，所述偏壓產生模塊(2)包括：

偏壓產生電路(21)，其設置成用于提供所述偏置電壓；以及

正溫度系數調節單元(22)，其與所述偏壓產生電路(21)相連，并被設置成用于在所述工作溫度范圍內為所述偏置電壓提供補償，以使得所述預設的增益保持為基本上恒定值。

3.根據權利要求2所述的輻射污染檢測系統，其特征在于，所述正溫度系數調節單元(22)中設置有負溫度系數熱敏電阻，并且/或者所述正溫度系數調節單元(22)設置成在所述工作溫度范圍內為所述偏置電壓提供線性的電壓補償率。

4.根據權利要求1所述的輻射污染檢測系統，其特征在于，所述探測數據處理模塊包括：

至少一個放大器(4)、至少一個比較器(3)和至少一個數模轉換器(5)，它們均與所述至少一個輻射粒子探測器(1)相對應，其中所述放大器(4)與所述硅光電倍增管(12)和所述比較器(3)相連，用以放大所述電信號并將其輸出至所述比較器(3)，所述數模轉換器(5)與所述比較器(3)相連并被分別設置成用于向所述比較器(3)提供進行比較的閾值信號和用于對所述閾值信號和所述放大器(4)的輸出信號進行比較；

溫度采集單元(7)，其設置成用于采集周圍環境溫度數據；以及

控制單元(6)，其與所述比較器(3)、所述數模轉換器(5)和所述溫度采集單元(7)相連，并被設置成用于控制所述溫度采集單元(7)采集周圍環境溫度數據，以便根據所述周圍環境溫度數據以及溫度-閾值關系式來獲得在不同的周圍環境溫度下所對應的閾值，并由所述數模轉換器(5)根據所述閾值產生所述閾值信號，以便所述比較器(3)將所述閾值信號與所述放大器(4)的輸出信號進行比較來確認是否探測到一個輻射粒子，然后將探測結果輸送至所述控制單元(6)，所述溫度-閾值關系式存儲于所述控制單元(6)中并與所述周圍環境溫度和所述閾值相關，所述閾值為從所述探測到的輻射粒子計數值中減去了由于所述硅光電倍增管(12)的自身噪聲影響后所對應的輻射粒子計數值。

5.根據權利要求1-4中任一項所述的輻射污染檢測系統，其特征在于，所述輻射粒子探測器(1)還包括光導單元(13)，所述光導單元(13)設置于所述探測單元(11)和所述硅光電倍增管(12)之間，用以將由所述探測單元(11)輸出的所述光能傳導至所述硅光電倍增管(12)。

6.根據權利要求1-4中任一項所述的輻射污染檢測系統，其特征在于，所述探測單元(11)包括閃爍體，所述閃爍體包括塑料閃爍晶體。

7.一種表面輻射污染檢測設備，其特征在于，所述表面輻射污染檢測設備中設置有如權利要求1-6中任一項所述的輻射污染檢測系統，所述表面輻射污染檢測設備包括全身表面輻射污染檢測設備。

8.一種用于輻射污染檢測設備的輻射粒子探測器(1)，其特征在于，所述輻射粒子探測器(1)包括：

探測單元(11)，其設置成用于探測輻射粒子，并將探測到的輻射粒子的動能轉換成光能輸出；以及

硅光電倍增管(12)，其設置成用于接收所述光能并將其轉換成電信號輸出。