[實用新型]一種O型密封圈漏率檢測裝置

有效

• 申請號: 201520174961.4
• 申請日: 2015-03-26
• 公開（公告）號: CN204740107U
• 公開（公告）日: 2015-11-04
• 發明（設計）人: 嚴林;岳清;嚴航嘉
• 申請（專利權）人: 自貢市佳世特密封制品有限公司
• 主分類號: G01M3/22
• 分類號: G01M3/22
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及檢測裝置，具體為一種O型密封圈漏率檢測裝置。

背景技術

O型密封圈因其結構簡單、安裝方便，是最常見的一種密封制品，在大多數的密封場合下，都要求密封盡可能達到“零”泄露，漏率是密封裝置設計的重要參數，在某些高溫高壓場合下，通常使用O型密封圈配合法蘭進行密封，高溫高壓工況下，壓差越大，密封泄露的可能性也越大，溫度越高，密封圈結構破壞的可能性也越大，目前行業內，針對O型圈漏率的檢測都是將樣品送往第三方檢測機構檢測，因此，針對不同型號、規格產品的檢測費用對中小企業而言，是一筆不小的研發支出，如能開發一種在滿足行業標準的O型圈漏率檢測裝置，則最好不過了。

發明內容

本實用新型針對上述技術現狀，提出了一種0型密封圈漏率檢測裝置，該裝置將待檢測密封圈安裝在法蘭組合內，法蘭加熱后，通過法蘭上的充氣孔和檢漏孔，使用氦質譜檢漏儀測量漏率，實現待考核密封圈溫度、壓力和漏率的同步測量。

為達到上述目的，本發明擬采用如下技術：

一種O型密封圈漏率檢測裝置，包括高壓氦氣發生裝置（1），氦質譜檢漏儀（9），還包括加熱鍋（4），上、下法蘭（5、6），溫度壓力測試儀（8），所述上、下法蘭（5、6）配裝在加熱鍋（4）中，上法蘭（5）中部設置有充氣孔，充氣孔上端連接有中空筒體（50），中空筒體（50）內設置有連接溫度壓力測試儀（8）的壓力傳感器（80）、溫度傳感器（81），中空筒體（50）與高壓氦氣發生裝置（1）相連，所述上法蘭（5）靠近其邊緣處還設置有檢漏孔（51），檢漏孔（51）與氦質譜檢漏儀（9）相連接。

進一步地，所述高壓氦氣發生裝置（1）為高壓氦氣瓶。

進一步地，所述高壓氦氣發生裝置（1）與中空筒體（50）之間還設置有充氣閥（2），放氣閥（3），試驗開始前，當高壓氦氣發生裝置（1）向中空筒體（50）充氣時，充氣閥（2）打開，放氣閥（3）關閉，當試驗結束后，充氣閥（2）關閉，放氣閥（3）打開，放出中空筒體（50）的氦氣。?

進一步地，所述加熱鍋（4）內盛裝有液體加熱介質（40），視O型密封圈的承壓條件，所述液體加熱介質（40）是水或者是恒溫油中的一種。

進一步地，所述上、下法蘭（5、6）之間還設置有用于放置O型密封圈的半圓槽，所述半圓槽數量為2條，使用時，半圓槽中放置O型密封圈（7）。

本實用新型通過設置加熱鍋，上、下法蘭，溫度壓力測試儀，以及在上法蘭上巧妙地布置中空筒體，使得本裝置可以測定不同溫度、不同壓差下的O型密封圈的泄露率，經濟使用價值高。

附圖說明

圖1示出了本實用新型的示意圖。

具體實施方式

如圖1所示，本方案設計的檢漏裝置使用時，將待檢測O型密封圈7安裝在上、下法蘭5、6的半圓槽中，通過高壓氦氣瓶的加壓，加熱鍋4的加溫，模擬高溫高壓環境下O型密封圈7的工況，本裝置中采用氦質譜檢漏儀9對O型密封圈7檢漏，從而得到設定溫度、設定壓力下O型密封圈7的漏率變化。兩道O型密封圈7之間為檢漏區域，內道密封圈內為氣體腔。關閉放氣閥3，打開充氣閥2，高壓氦氣瓶連接中空筒體50，并向氣體腔內充壓，則內道密封圈兩側的氣體腔與檢漏區形成壓差。法蘭組合整體放入加熱鍋4，氣體腔內氣體與內道密封圈直接接觸，可近似認為溫度相同，檢漏時氦質譜檢漏儀9對檢漏區持續抽真空，內、外道密封圈外的氦分子在壓差的驅動下進人檢漏區，被檢漏儀檢測得到檢漏區漏率，此漏率為內外道密封圈漏率之和，但當上、下法蘭放入加熱鍋4時，外道密封圈可認為是“零”氣體泄漏，此時，氦質譜檢漏儀9測得的為內道密封圈的漏率，由此可以得出不同溫度，不同壓差下O型密封圈的漏率。