[實用新型]一種分選粒子用的攤平機構有效
| 申請號: | 201520152020.0 | 申請日: | 2015-03-17 |
| 公開(公告)號: | CN204473788U | 公開(公告)日: | 2015-07-15 |
| 發明(設計)人: | 傅海明;宋寶善;姚曉峰;孫孝明 | 申請(專利權)人: | 浙江中科新光銘光電科技有限公司 |
| 主分類號: | B65G47/00 | 分類號: | B65G47/00 |
| 代理公司: | 杭州華鼎知識產權代理事務所(普通合伙) 33217 | 代理人: | 胡根良 |
| 地址: | 313113 浙江省湖*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 分選 粒子 機構 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種分選粒子用的攤平機構。
背景技術
通常情況下,粒子會堆放在檢驗臺上進行檢驗,檢驗員通過觀察粒子表面,挑揀出表面有缺陷的粒子,現有技術中,檢驗員需要動手將堆放的粒子攤開再進行一一檢驗,粒子數量龐大,攤開也雜亂無章,檢驗起來費力,檢驗效率和檢驗精度不能同時兼顧。
發明內容
本實用新型所要解決的問題是提供一種分選粒子用的攤平機構,提高粒子表面缺陷檢驗的效率和精度。
為了解決上述技術問題,本實用新型采用如下技術方案:一種分選粒子用的攤平機構,包括機架、平整機構和輸送機構,所述平整機構和輸送機構分別安裝在機架上,所述平整機構具有水平的平整面,所述輸送機構具有水平的工作面,所述平整面設在工作面的上方,所述平整面和工作面之間形成工作面供粒子穿過的通道。粒子堆放輸送機構的工作面上,粒子在輸送機構輸送下先穿過通道再到檢驗員處進行檢驗,穿過通道時由于通道高度的限制,堆疊得過高的粒子受到平整機構的阻礙而攤開,攤得較為齊整,無需人工攤開粒子,提高了粒子表面缺陷檢驗的效率和精度。
改進的,所述通道的高度不小于粒子粒徑且小于兩倍的粒子粒徑。供單層粒子穿過。
改進的,所述輸送機構為同步帶輸送裝置。
改進的,所述機架上安裝有支撐板,所述支撐板位于工作面的下方,所述支撐板和平整面在豎直方向上位置對應。防止粒子穿過通道時同步帶變形。
改進的,所述輸送機構連接有下料板。合格的粒子由下料板輸出。
有益效果:
采用上述技術方案后,該實用新型一種分選粒子用的攤平機構,粒子堆放輸送機構的工作面上,粒子在輸送機構輸送下先穿過通道再到檢驗員處進行檢驗,穿過通道時由于通道高度的限制,堆疊得過高的粒子受到平整機構的阻礙而攤開,攤得較為齊整,無需人工攤開粒子,提高了粒子表面缺陷檢驗的效率和精度。
附圖說明
下面結合附圖對本實用新型的具體實施方式作進一步說明:
圖1為本實用新型一種分選粒子用的攤平機構的結構圖。
具體實施方式
如圖1所示,一種分選粒子用的攤平機構,包括機架1、平整機構2、輸送機構3和下料板5,平整機構和輸送機構分別安裝在機架上。
輸送機構具有水平的工作面31,在本實施例中,輸送機構為同步帶輸送裝置,同步帶輸送裝置包括兩個位于同一水平高度的同步帶輪和傳動連接在兩個同步帶輪之間的同步帶,同步帶的上表面即輸送機構的工作面。當然,也可直接在機架上設置一個水平的支撐面,在支撐面上安裝一個氣缸,氣缸的活塞桿的伸縮方向為水平方向。
平整機構上設有水平的平整面21,平整面設在工作面的上方,平整面和工作面之間形成通道,在本實施例中,通道的高度不小于粒子的粒徑且小于粒子的兩倍粒徑,為了防止粒子穿過通道時同步帶變形,同步帶上和平整面對應的工作部位的下方設有支撐板4,支撐板貼近該工作部位設置。
下料板安裝在同步帶的輸出端,下料板和同步帶之間圓滑過渡。
除上述優選實施例外,本實用新型還有其他的實施方式,本領域技術人員可以根據本實用新型作出各種改變和變形,只要不脫離本實用新型的精神,均應屬于本實用新型所附權利要求所定義的范圍。
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