[實用新型]斜端面光學元件透射波面誤差檢測的專用夾具有效
| 申請號: | 201520096731.0 | 申請日: | 2015-02-11 |
| 公開(公告)號: | CN204431117U | 公開(公告)日: | 2015-07-01 |
| 發明(設計)人: | 楊一;任寰;馬玉榮;張霖;石振東;原泉;馬驊;馮曉璇;馬可 | 申請(專利權)人: | 中國工程物理研究院激光聚變研究中心 |
| 主分類號: | B25B11/00 | 分類號: | B25B11/00 |
| 代理公司: | 成都弘毅天承知識產權代理有限公司 51230 | 代理人: | 楊保剛;趙宇 |
| 地址: | 621900*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 端面 光學 元件 透射 誤差 檢測 專用 夾具 | ||
1.一種斜端面光學元件透射波面誤差檢測的專用夾具,其特征在于:包括用于調節斜端面光學元件擺放角度的刻度盤(1),所述刻度盤(1)可繞刻度盤(1)的軸線轉動,所述刻度盤(1)上設置有用于放置斜端面光學元件的V型槽(2),所述V型槽(2)的左側面(21)向內凹陷形成容納腔,所述容納腔內放置有調節轉軸(3),且所述調節轉軸(3)的軸線與V型槽(2)的左側面(21)之間的距離小于調節轉軸(3)的半徑。
2.根據權利要求1所述的斜端面光學元件透射波面誤差檢測的專用夾具,其特征在于:所述調節轉軸(3)的軸線與V型槽(2)左側面(21)之間的距離為調節轉軸(3)的半徑的3/4至4/5。
3.根據權利要求1所述的斜端面光學元件透射波面誤差檢測的專用夾具,其特征在于:所述刻度盤(1)底部設置有用于調整刻度盤(1)俯仰角的俯仰角調節裝置。
4.根據權利要求3所述的斜端面光學元件透射波面誤差檢測的專用夾具,其特征在于:所述俯仰角調節裝置包括地盤圈(47),所述地盤圈(47)一側與固定連接在刻度盤(1)底部的下支條(48)鉸接,所述地盤圈(47)另一側固定連接有U型卡(45),所述U型卡(45)與外調節桿(42)底端鉸接,所述外調節桿(42)的管孔內套設有內調節桿(41),所述內調節桿(41)通過連接于外調節桿(42)上的緊固裝置(43)緊固,所述內調節桿(41)與固定連接在刻度盤(1)底部的上支條(44)鉸接。
5.根據權利要求3所述的斜端面光學元件透射波面誤差檢測的專用夾具,其特征在于:所述俯仰角調節裝置包括固定連接在刻度盤(1)底部的第一旋轉側壁(417),所述第一旋轉側壁(417)通過俯仰角調節轉軸(411)與第二旋轉側壁(412)鉸接,所述第二旋轉側壁(412)上靠近刻度盤(1)的一側設置有用于鎖緊第一旋轉側壁(417)的固定螺栓(410),所述第二旋轉側壁(412)底部連接有底座(416),所述底座(416)與刻度盤(1)之間還設置有俯仰角調節螺桿(415),所述俯仰角調節螺桿(415)通過調節螺母(414)與固定連接在底座(416)的調節螺柱(413)連接,并通過轉動調節螺母(414)調節刻度盤(1)的俯仰視角。
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