[實用新型]均勻壁厚的準直器

有效

• 申請號: 201520080940.6
• 申請日: 2015-02-05
• 公開（公告）號: CN204516370U
• 公開（公告）日: 2015-07-29
• 發明（設計）人: 李延召;宋點賽;李炳軒;周彪
• 申請（專利權）人: 武漢知微科技有限公司
• 主分類號: G21K1/02
• 分類號: G21K1/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種均勻壁厚的準直器，可對照在檢測器上的射線進行準直，包括由射線吸收材料制成的若干第一準直片和若干第二準直片，還包括允許射線通過的若干準直孔；所述第一準直片和所述第二準直片分別具有若干第一波紋結構和若干第二波紋結構，每一所述第一波紋結構具有相對設置的二第一對準結構和與所述二第一對準結構交錯設置的多個第一棱壁結構，每一所述第二波紋結構具有相對設置的二第二對準結構和與所述二第二對準結構交錯設置的多個第二棱壁結構，若干所述第一準直片與若干所述第二準直片交錯堆疊，若干所述準直孔位于若干所述第一波紋結構與若干所述第二波紋結構之間，所述第一棱壁結構的厚度等于所述第二棱壁結構的厚度，其特征在于：所述第一對準結構與所述第二對準結構的厚度之和等于所述第一棱壁結構的厚度。

2.根據權利要求1所述的均勻壁厚的準直器，其特征在于：所述第一對準結構與所述第二對準結構的厚度相等，且均為所述第一棱壁結構的厚度的1/2。

3.根據權利要求1所述的均勻壁厚的準直器，其特征在于：所述二第一對準結構分別為第一波峰和第一波谷，所述二第二對準結構分別為第二波峰和第二波谷，所述第一波峰和所述第一波谷分別與對應的所述第二波谷和第二波峰對準堆疊。

4.根據權利要求3所述的均勻壁厚的準直器，其特征在于：所述第一波峰和所述第一波谷均通過黏膠分別與對應的所述第二波谷和第二波峰對準粘接堆疊。

5.根據權利要求1所述的均勻壁厚的準直器，其特征在于：所述波紋結構為梯形波紋或矩形波紋。