[實(shí)用新型]一種新型電容測(cè)試表有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201520072276.0 | 申請(qǐng)日: | 2015-01-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN204374305U | 公開(公告)日: | 2015-06-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 尹書君 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 尹書君 |
| 主分類號(hào): | G01R27/26 | 分類號(hào): | G01R27/26 |
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| 地址: | 27110*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 新型 電容 測(cè)試 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種電容測(cè)量裝置,尤其是涉及一種新型電容測(cè)試表。
背景技術(shù)
電容(Capacitance)亦稱作“電容量”,是指在給定電位差下的電荷儲(chǔ)藏量,記為C,國際單位是法拉(F)。一般來說,電荷在電場(chǎng)中會(huì)受力而移動(dòng),當(dāng)導(dǎo)體之間有了介質(zhì),則阻礙了電荷移動(dòng)而使得電荷累積在導(dǎo)體上,造成電荷的累積儲(chǔ)存,儲(chǔ)存的電荷量則稱為電容。因電容是電子設(shè)備中大量使用的電子元件之一,所以廣泛應(yīng)用于隔直、耦合、旁路、濾波、調(diào)諧回路、能量轉(zhuǎn)換、控制電路等方面。
電容的分類有很多,按照電容的容量大小,可分為大電容和小電容,由于小電容的尺寸小型,在檢測(cè)中很不容易操作,而無論是在電容生產(chǎn)商還是電路板制作商哪里,或者是后期維修作業(yè)中,檢測(cè)電容是否能正常工作是個(gè)很重要的工作,而電容在電路中的應(yīng)用,常常會(huì)造成擊穿損壞,如果僅僅因?yàn)橐粋€(gè)電容的損壞就要更換整個(gè)電路板的話,那成本將大大增加。現(xiàn)有中、高檔數(shù)字萬用表雖有電容測(cè)試擋位,但測(cè)量范圍一般僅為1pF-20μF,往往不能滿足使用者的需要,給電容測(cè)量帶來不便,尤其是小電容的檢測(cè),而小電容的檢測(cè)則是最難檢測(cè)的。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題在于針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)中的不足,提供一種新型電容測(cè)試表,本實(shí)用新型設(shè)計(jì)一種三位數(shù)顯示電容的測(cè)試表,其采用四塊集成電路,電路簡潔、設(shè)計(jì)簡單、數(shù)字顯示直觀、精度較高,測(cè)量范圍可達(dá)1nF-104μF,測(cè)試范圍較廣,有效解決了現(xiàn)有技術(shù)的不足。
為解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:一種新型電容測(cè)試表,其特征在于:包括電容測(cè)試器殼體、以及設(shè)置在電容測(cè)試器殼體內(nèi)部的主板電路、以及設(shè)置在電容測(cè)試器殼體側(cè)壁的接線頭,所述主板電路包括基準(zhǔn)脈沖發(fā)生器、待測(cè)電容容量時(shí)間轉(zhuǎn)換器、閘門控制器、譯碼器和顯示器,所述基準(zhǔn)脈沖發(fā)生器包括集成電路IC1B、電阻R7-R9和電容C3,所述待測(cè)電容容量時(shí)間轉(zhuǎn)換器包括IC1A、IC2、R1-R6、按鈕AN及C1,所述閘門控制器包括IC4、IC2C、C5、C6、R10,所述譯碼器和顯示器包括IC3和與其依次連接的電阻R11-R17、三段八字?jǐn)?shù)碼管。
進(jìn)一步地,所述基準(zhǔn)脈沖發(fā)生器的集成電路IC1B通過量程開關(guān)K1b與并聯(lián)的電阻R7-R9連接。
進(jìn)一步地,所述待測(cè)電容容量時(shí)間轉(zhuǎn)換器的集成電路IC1A通過量程開關(guān)K1a與并聯(lián)的電阻R3-R6連接,所述電阻R2兩端分別連接AN和C1一端,所述AN和C1另一端均接地,所述電阻R2兩端還分別與集成電路IC2A、IC2B輸入端連接,所述集成電路IC2A、IC2B輸出端與集成電路IC1A輸入端連接。
進(jìn)一步地,所述閘門控制器的集成電路IC4的輸出端依次通過三路電阻、與三路電阻分別連接的三個(gè)三極管與顯示器的三段八字?jǐn)?shù)碼管位選端連接。
進(jìn)一步地,所述三路電阻分別與三個(gè)三極管基極連接。
進(jìn)一步地,所述集成電路IC1選用NE556芯片,IC2選用CD4001芯片,IC3選用CD4543芯片,IC4選用CD4553芯片。
進(jìn)一步地,所述三個(gè)三極管選用型號(hào)8550的PNP三極管。
本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有以下優(yōu)點(diǎn):
本實(shí)用新型設(shè)計(jì)一種三位數(shù)顯示電容的測(cè)試表,其采用四塊集成電路,電路簡潔、設(shè)計(jì)簡單、數(shù)字顯示直觀、精度較高,測(cè)量范圍可達(dá)1nF-104μF,測(cè)試范圍較廣,有效解決了現(xiàn)有技術(shù)的不足。
下面通過附圖和實(shí)施例,對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。
附圖說明
圖1為本實(shí)用新型的新型電容測(cè)試表主板電路原理圖;
圖2為本實(shí)用新型的新型電容測(cè)試表外部結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖1所示,一種新型數(shù)字可調(diào)光衰減器,其特征在于:一種新型電容測(cè)試表,其特征在于:包括電容測(cè)試器殼體、以及設(shè)置在電容測(cè)試器殼體內(nèi)部的主板電路、以及設(shè)置在電容測(cè)試器殼體側(cè)壁的接線頭,所述主板電路包括基準(zhǔn)脈沖發(fā)生器、待測(cè)電容容量時(shí)間轉(zhuǎn)換器、閘門控制器、譯碼器和顯示器,所述基準(zhǔn)脈沖發(fā)生器包括集成電路IC1B、電阻R7-R9和電容C3,所述待測(cè)電容容量時(shí)間轉(zhuǎn)換器包括IC1A、IC2、R1-R6、按鈕AN及C1,所述閘門控制器包括IC4、IC2C、C5、C6、R10,所述譯碼器和顯示器包括IC3和與其依次連接的電阻R11-R17、三段八字?jǐn)?shù)碼管。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R27-00 測(cè)量電阻、電抗、阻抗或其派生特性的裝置
G01R27-02 .電阻、電抗、阻抗或其派生的其他兩端特性,例如時(shí)間常數(shù)的實(shí)值或復(fù)值測(cè)量
G01R27-28 .衰減、增益、相移或四端網(wǎng)絡(luò),即雙端對(duì)網(wǎng)絡(luò)的派生特性的測(cè)量;瞬態(tài)響應(yīng)的測(cè)量
G01R27-30 ..具有記錄特性值的設(shè)備,例如通過繪制尼奎斯特
G01R27-32 ..在具有分布參數(shù)的電路中的測(cè)量
G01R27-04 ..在具有分布常數(shù)的電路中的測(cè)量
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
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