[實用新型]一種高功率超短激光脈沖對比度測量裝置

有效

• 申請號: 201520001561.3
• 申請日: 2015-01-05
• 公開（公告）號: CN204330141U
• 公開（公告）日: 2015-05-13
• 發明（設計）人: 夏彥文;劉華;孫志紅;董軍;彭志濤;朱啟華;粟敬欽
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院激光聚變研究中心
• 主分類號: G01J11/00
• 分類號: G01J11/00
• 代理公司: 中國工程物理研究院專利中心 51210
• 代理人: 翟長明;韓志英

1.一種高功率超短激光脈沖對比度測量裝置，其特征在于：所述的測量裝置中，在高功率超短激光脈沖入射方向上依次設置半波片(1)、擴束鏡(2)、分束鏡Ⅰ(3)；入射脈沖光依次進入半波片(1)、擴束鏡(2)、分束鏡Ⅰ(3)，經分束鏡Ⅰ(3)分成透射光和反射光，在分束鏡Ⅰ(3)的透射光路上設置有延遲調節器(4)，在分束鏡Ⅰ(3)的反射光路上依次設置有凸透鏡Ⅰ(5)、限幅器(6)、凸透鏡Ⅱ(7)；所述的分束鏡Ⅰ(3)的反射光經凸透鏡Ⅰ(5)會聚到限幅器(6)上，從限幅器(6)反射的光經凸透鏡Ⅱ(7)后變為平行光，與分束鏡Ⅰ(3)的透射光并行進入和頻晶體(8)，產生倍頻光，所述的倍頻光沿和頻晶體(8)端面垂直出射；在和頻晶體(8)后依次設置光闌(9)、柱狀凸透鏡(10)、分束鏡Ⅱ(11)；在分束鏡Ⅱ(11)的反射光路上依次設置擋片Ⅰ(12)、衰減片Ⅰ(13)、CCDⅠ(14)；在分束鏡Ⅱ(11)的透射光路上設置分束鏡Ⅲ(15)；在分束鏡Ⅲ(15)的反射光路上依次設置擋片Ⅱ(16)、衰減片Ⅱ(17)、CCDⅡ(18)；在分束鏡Ⅲ(15)的透射光路上依次設置擋片Ⅲ(19)、衰減片Ⅲ(20)、CCDⅢ(21)；從和頻晶體(8)出射的倍頻光經柱狀凸透鏡(10)會聚后被分束鏡Ⅱ(11)分成強度相等的透射光和反射光，反射光經擋片Ⅰ(12)后透射到光束水平方向的左邊區域，再經衰減片Ⅰ(13)衰減后在柱狀凸透鏡(10)焦面處被CCDⅠ(14)接收；所述的分束鏡Ⅱ(11)的透射光經分束鏡Ⅲ(15)分成強度相等的透射光和反射光，反射光經擋片Ⅱ(16)?后透射到光束水平方向的右邊區域，再經衰減片Ⅱ(17)衰減后在柱狀凸透鏡(10)焦面處被CCDⅡ(18)接收，透射光經擋片Ⅲ(19)?后透射到光束水平方向的中間區域，再經衰減片Ⅲ(20)衰減后在柱狀凸透鏡(10)焦面處被CCDⅢ(21)接收。

2.根據權利要求1所述的高功率超短激光脈沖對比度測量裝置，其特征在于：所述的CCDⅠ(14)、CCDⅡ(18)、CCDⅢ(21)置于柱狀凸透鏡(10)的焦面處，分別用于接收沿水平方向的左、中、右三個區域的倍頻信號。

3.根據權利要求1所述的高功率超短激光脈沖對比度測量裝置，其特征在于：所述的限幅器(6)?設置在凸透鏡Ⅰ(5)和凸透鏡Ⅱ(7)構成的準直系統的共同焦面處。

4.根據權利要求1所述的高功率超短激光脈沖對比度測量裝置，其特征在于：所述的和頻晶體(8)采用90度非共線Ⅰ類位相匹配。