[發明專利]用于測量物體厚度的方法和裝置

有效

• 申請號: 201511036231.9
• 申請日: 2015-12-11
• 公開（公告）號: CN105783693B
• 公開（公告）日: 2020-01-21
• 發明（設計）人: Y·波利什楚克;R·W·泰特;W·J·小亨德里克斯;M·F·斯特倫
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: G01B7/06
• 分類號: G01B7/06
• 代理公司: 72001 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 嚴志軍;肖日松

本發明涉及用于測量物體厚度的方法和裝置。具體而言，提供用于測量物體厚度的裝置。該裝置包括加壓控制系統，該加壓控制系統還包括可移動平臺、加壓傳感器、和操作地聯接到加壓傳感器的開關器件。該裝置還包括測量系統，該測量系統操作地聯接到開關器件，以用于接收表示開關器件處的觸發事件的信號，且構造成測量梯度。該裝置還包括：處理電路，其操作地聯接到開關器件和測量系統，以用于在接收到表示開關器件處的觸發事件的信號之后，通過使用梯度來測量物體的厚度；和通信電路，其用于將測得的物體厚度傳送到遠程數據庫。

相關申請的交叉引用

本申請為2012年12月31日提交的美國專利申請序列號No.13/731929部分繼續申請，其要求于2012年10月19日提交的臨時專利申請序列號No.61/715906的優先權，并且通過引用將這兩件申請的全部內容并入本文中。

技術領域

本發明大體上涉及測量裝置，且更具體而言，涉及用于測量物體厚度的方法和裝置。

背景技術

測量裝置用于測量物體的不同尺寸。一個此種測量裝置包括用于測量物體厚度的裝置。各種類型的裝置可用于測量不同類型的物體的厚度。其中的一些可包括厚度計和游標卡尺。不同的厚度測量裝置采用不同機制以用于測量物體厚度。一旦此種機制包括將物體放置在厚度測量裝置兩個表面之間，和靠著厚度測量裝置的第二表面擠壓第一表面，以測量放置在第一表面與第二表面之間的物體的厚度。在此種裝置中，表面中的一個固定，且利用外力使另一表面移動，直到該另一表面與物體接觸。

外力(其例如可包括人力)可基于執行測量的使用者而變化。由于測量過程中的人為干擾，物體厚度的測量結果可變化，這導致不一致的測量結果和非期望的誤差。而且，在常規的厚度測量系統中，使用者需要手工記錄各物體的厚度測量結果。在需要在預定時間內執行多個物體的厚度測量的情況下，對各物體手工記錄厚度測量結果導致人為誤差和時間損耗。

因此，需要一種改進的厚度測量系統，以解決前述問題。

發明內容

簡要而言，根據一個實施例，提供用于測量物體厚度的裝置。該裝置包括加壓控制系統，該加壓控制系統還包括可移動平臺、加壓傳感器、和操作地聯接到加壓傳感器的開關器件。該裝置還包括測量系統，該測量系統操作地聯接到開關器件，以用于接收表示開關器件處的觸發事件的信號，且構造成測量梯度(gradient)。該裝置還包括：處理電路，其操作地聯接到開關器件和測量系統，以用于在接收到表示開關器件處的觸發事件的信號之后，通過使用梯度來測量物體的厚度；和通信電路，其用于將測得的物體厚度傳送到遠程數據庫。

在另一實施例中，提供厚度計。該厚度計包括加壓控制系統，該加壓控制系統還包括配置在厚度計中的腔的下表面內的可移動平臺，其中該可移動平臺包括觸發鍵、機械地聯接到可移動平臺的彈簧系統、和在預定距離處位于觸發鍵下方的開關器件。厚度計還包括測量系統，該測量系統操作地聯接到開關器件，以用于接收表示開關器件處的觸發事件的信號，且構造成測量梯度。該裝置還包括：處理電路，其操作地聯接到開關器件和測量系統，以用于在接收到表示開關器件處的觸發事件的信號之后，通過使用梯度來測量物體的厚度；和通信電路，其用于經由無線介質將測得的物體厚度傳送到遠程數據庫。

在又一實施例中，提供用于測量物體厚度的方法。該方法包括：將物體放置在厚度測量裝置中的可移動平臺上；將柱塞加壓到放置在可移動平臺上的物體上；在由加壓傳感器感測到預定加壓之后，使用觸發鍵來觸發開關器件；在觸發開關器件之后，使用測量器件測量柱塞的移動距離；在觸發開關器件之后，使用測得的距離來獲得物體的厚度測量結果；和經由無線介質將厚度測量結果自動地傳送到遠程數據庫。

技術方案1：一種用于測量物體厚度的裝置，包括：

加壓控制系統，其包括：

可移動平臺；

加壓傳感器；