[發(fā)明專利]一種基于電路網(wǎng)絡(luò)和圖搜索的電路板故障定位系統(tǒng)及方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201511000975.5
• 申請(qǐng)日: 2015-12-28
• 公開（公告）號(hào): CN105652182B
• 公開（公告）日: 2018-10-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馮建呈;潘國慶;田志昊;王占選
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京航天測控技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 北京方安思達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11472
• 代理人: 王宇楊;李彪

本發(fā)明公開了一種基于電路網(wǎng)絡(luò)和圖搜索的電路板故障定位系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包含：測試節(jié)點(diǎn)屬性獲取模塊，用于獲取測試節(jié)點(diǎn)的屬性信息，所述屬性信息包含：電路接口屬性和測試執(zhí)行屬性；路由文件獲取模塊，用于獲取路由文件，所述路由文件用于描述測試儀器的通道與測試節(jié)點(diǎn)之間的連線關(guān)系；最優(yōu)節(jié)點(diǎn)選擇模塊，用于根據(jù)故障敏感度和故障隔離度參數(shù)對(duì)手動(dòng)測試節(jié)點(diǎn)進(jìn)行篩選；測試邏輯生成模塊，用于基于測試節(jié)點(diǎn)屬性信息和路由文件生成篩選得到的最優(yōu)節(jié)點(diǎn)集合中節(jié)點(diǎn)的測試邏輯；測試結(jié)果輸出模塊，用于基于得到的測試邏輯對(duì)選擇的測試點(diǎn)進(jìn)行測試，進(jìn)而完成電路板的故障定位。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于電路板測試與診斷技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種基于電路網(wǎng)絡(luò)和圖搜索的電路板故障定位方法。

背景技術(shù)

電路板在故障定位時(shí)需要對(duì)中間節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行測量采集，并根據(jù)測量結(jié)果進(jìn)行電路狀態(tài)的判斷并分析推斷出下一步的測試策略；目前在電路板故障定位中，主要依賴于人工輸入相應(yīng)的測試節(jié)點(diǎn)信息并確定節(jié)點(diǎn)的測試順序，工作量大、自動(dòng)化程度不高并且導(dǎo)致測試節(jié)點(diǎn)的數(shù)量和分布不夠優(yōu)化、拓?fù)溥壿嬓圆粡?qiáng)。

為了提高電路板測試與診斷TP開發(fā)的效率，在現(xiàn)有TP開發(fā)方法的基礎(chǔ)上，提出研制基于電路網(wǎng)絡(luò)和圖搜索的電路板故障定位方法則十分必要。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于，為了解決上述的技術(shù)問題，本發(fā)明提供一種基于電路網(wǎng)絡(luò)和圖搜索的電路板故障定位系統(tǒng)及方法。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種基于電路網(wǎng)絡(luò)和圖搜索的電路板故障定位系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包含：

測試節(jié)點(diǎn)屬性獲取模塊，用于獲取測試節(jié)點(diǎn)的屬性信息，所述屬性信息包含：電路接口屬性和測試執(zhí)行屬性；

路由文件獲取模塊，用于獲取路由文件，所述路由文件用于描述測試儀器的通道與測試節(jié)點(diǎn)之間的連線關(guān)系；

最優(yōu)節(jié)點(diǎn)選擇模塊，用于根據(jù)故障敏感度和故障隔離度參數(shù)對(duì)手動(dòng)測試節(jié)點(diǎn)進(jìn)行篩選，進(jìn)而選擇若干個(gè)節(jié)點(diǎn)組成最優(yōu)測試節(jié)點(diǎn)集合，其中，所述故障隔離度表征測試點(diǎn)對(duì)故障的區(qū)分能力；

測試邏輯生成模塊，用于基于測試節(jié)點(diǎn)屬性信息和路由文件生成篩選得到的最優(yōu)節(jié)點(diǎn)集合中節(jié)點(diǎn)的測試邏輯，或基于測試節(jié)點(diǎn)屬性信息和路由文件生成自動(dòng)測試節(jié)點(diǎn)的測試邏輯；其中所述測試邏輯關(guān)系包含：順序、選擇、循環(huán)或跳轉(zhuǎn)；

測試結(jié)果輸出模塊，用于基于得到的測試邏輯對(duì)選擇的測試點(diǎn)進(jìn)行測試，進(jìn)而完成電路板的故障定位。

可選的，上述系統(tǒng)還包含：

配置模塊，用于輸入需要配置的待測電路板的測試節(jié)點(diǎn)的測試屬性，所述測試屬性包含：電路接口屬性和測試執(zhí)行屬性；

路由文件生成模塊，用于基于輸入的測試節(jié)點(diǎn)的屬性信息生成測試節(jié)點(diǎn)與測試儀器的路由文件，其中，所述路由文件用于描述測試儀器的通道與測試節(jié)點(diǎn)之間的連線關(guān)系。

可選的，上述系統(tǒng)還包含：

存儲(chǔ)及接口模塊，用于存儲(chǔ)故障定位結(jié)果并用于與基于人工智能算法的測試診斷知識(shí)的接口；

圖像管理模塊，用于完成對(duì)所測試電路板的原理圖和PCB的導(dǎo)入、編輯、屬性設(shè)置和保存。

進(jìn)一步可選的，上述最優(yōu)節(jié)點(diǎn)選擇模塊進(jìn)一步包含：

第一處理子模塊，用于計(jì)算各待選測試節(jié)點(diǎn)的區(qū)別度因子，并依據(jù)得到區(qū)別度因子的值按從大到小順序?qū)⒋x測試節(jié)點(diǎn)進(jìn)行重新排序；

第二處理子模塊，用于初始化最優(yōu)測試節(jié)點(diǎn)集N*為空，并標(biāo)記重排序后的待選測試節(jié)點(diǎn)的集合為P＝{P0，P1，…，Pi，…Pk}，同時(shí)初始化參數(shù)i的取值為i＝1,其中i的取值范圍為：i＝1,…,K，其中，K為待測試節(jié)點(diǎn)的總個(gè)數(shù)；