[發明專利]一種基于X射線線陣的輪胎檢測系統

有效

• 申請號: 201510912764.2
• 申請日: 2015-12-11
• 公開（公告）號: CN105445298B
• 公開（公告）日: 2019-03-22
• 發明（設計）人: 尤曉明;隋國慶;延呈來;魏文祥
• 申請（專利權）人: 鄔金陽
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04;G01B21/08;G01B21/32
• 代理公司: 北京東方盛凡知識產權代理事務所(普通合伙) 11562
• 代理人: 宋平

本發明公開一種基于X射線線陣的輪胎檢測系統，X光發射裝置對準輪胎中心位置，X光發射裝置開始檢查時，圖像接收緩存模塊接收并緩存U形接收裝置接收的圖像信息，圖像處理模塊通過多線程并行采集和處理所述圖像接收緩存模塊內的圖像信息；所述采集線程回調模塊在所述圖像處理模塊開始采集處理一完整線程的圖像信息后，調用回調函數，在回調函數中將所述圖像信息進行分解為多行顯示信號，并從第一行顯示信號逐步發送至所述顯示器顯示，所述采集線程回調模塊采集處理所述顯示器顯示的下一行顯示信號，使X光檢測的圖像具有連續性，提高檢測、采集、處理的速度，而且檢測前先定位，并對輪胎的內側面進行撐擴，增加檢測的精準度。

技術領域

本發明涉及輪胎檢測領域，尤其涉及一種基于X射線線陣的輪胎檢測系統。

背景技術

對輪胎實行嚴格的質量檢測是保證輪胎質量、確保車輛運行安全的重要生產環節，特別是對其內部情況，如輪胎側壁、胎圈、胎冠等部位存在的質量缺陷以及夾雜雜質的情況進行全面檢測。目前的檢測過程較為繁瑣，占用空間大，操作繁瑣復雜。

發明內容

為了克服上述現有技術中的不足，本發明的目的在于，提供一種基于X射線線陣的輪胎檢測系統，包括：檢測平臺、X光發射裝置、U形接收裝置、撐擴胎機構、旋轉機構、處理子系統以及顯示器；

所述檢測平臺上設置有輪胎安置位，輪胎安置位上設有安置傳感器，輪胎安置位的四周設有輪胎定位夾持裝置；

所述U形接收裝置設置在被測輪胎外側，接收X射線檢測信號；

所述X光發射裝置設置在所述檢測平臺中心位置，所述X光發射裝置設有X光發射裝置升降機構和X光發射控制命令接收模塊；

所述旋轉機構設置在所述檢測平臺底部，所述旋轉機構設有旋轉電機、用于驅動檢測平臺旋轉的旋轉傳動盤；

所述處理子系統包括：安置傳感接收模塊、輪胎定位夾持控制模塊、旋轉電機控制模塊、X光發射控制模塊、圖像接收緩存模塊、圖像處理模塊、采集線程回調模塊；

所述安置傳感接收模塊用于接收所述安置傳感器發送的輪胎安置信號；

所述輪胎定位夾持控制模塊用于根據接收的輪胎安置信號，控制所述輪胎定位夾持裝置對安置在所述檢測平臺上的輪胎進行定位固定；

所述X光發射控制模塊用于控制所述X光發射裝置啟動與停止以及控制X光發射裝置升降機構升降；

所述旋轉電機控制模塊用于控制旋轉電機運行；

所述圖像接收緩存模塊用于接收并緩存U形接收裝置接收的圖像信息；

所述圖像處理模塊用于通過多線程并行采集和處理所述圖像接收緩存模塊內的圖像信息；

所述采集線程回調模塊用于在所述圖像處理模塊開始采集處理一完整線程的圖像信息后，調用回調函數，在回調函數中將所述圖像信息進行分解為多行顯示信號，并從第一行顯示信號逐步發送至所述顯示器顯示，所述采集線程回調模塊采集處理所述顯示器顯示的下一行顯示信號。

優選地，所述處理子系統包括：用于對采集到的圖像進行增強細節，抑制噪聲及干擾的中值濾波模塊；

所述中值濾波模塊采用二維十字中值濾波方式；濾波公式為

b(x，y)＝Median(a(x，y))x，y∈m×n

其中a(x,y)為二維圖像中一點值，(x,y)為圖像中像素坐標點，取領域范圍為m*n，b(x,y)為中值濾波后的值。

優選地，所述處理子系統包括：反銳化掩模模塊；

所述反銳化掩模模塊采用判斷均值和方差的方法確定對比度區域，對圖像進行反銳化掩模法進行增強；