[發明專利]一種藍光加權輻射亮度的測量裝置及其方法

有效

• 申請號: 201510825104.0
• 申請日: 2015-11-24
• 公開（公告）號: CN105241640B
• 公開（公告）日: 2018-08-17
• 發明（設計）人: 饒豐;郭杰;楮靜;徐安成;朱錫芳
• 申請（專利權）人: 常州工學院
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 南京知識律師事務所 32207
• 代理人: 高桂珍

本發明公開了一種藍光加權輻射亮度的測量裝置及其方法，裝置包括測試系統和瞄準系統，測試系統依次包括物鏡、帶孔反射鏡、透鏡、第一色散元件、衰減片、第二色散元件和光電池，光電池上連接有電壓表，物鏡、透鏡、第一色散元件、衰減片、第二色散元件、光電池的光學中心和帶孔反射鏡的孔與光源在同一光軸上，衰減片緊貼在第二色散元件，瞄準系統依次包括物鏡、反射鏡、延時透鏡組、光標和目鏡，帶孔反光鏡的反射光線入射到反光鏡上，反光鏡的反射光線通過延時透鏡組和光標入射至目鏡上，物鏡與人眼、光電池共軛。本發明結構簡單，體積小，重量輕，使用方便，響應速度快，價格便宜，技術難度小，適合室內和室外等多種場合下使用。

技術領域

本發明涉及光電檢測領域，特別是一種藍光加權輻射亮度的測量裝置及其方法。

背景技術

LED已經成為常用的照明和顯示光源。隨著技術的發展，LED光輸出越來越大。帶來了高效照明和高亮的顯示屏，同時，也帶來了“藍光危害”。

目前，國內外標準，如CIE S 009/E:2002、IEC/TR62471-2-2009、IEC/TR 62778-2012，我國的GB/T 20145-2006等，均定義“藍光加權輻射亮度”來描述藍光危害的大小。根據這些標準，藍光加權輻射亮度L_B是由光源光譜輻射亮度L(λ)加權藍光危害系數B(λ)得到：

藍光加權輻射亮度測量的核心是測量標準規定的條件下，光源的光譜輻射亮度L(λ)。對應的測試裝置如杭州遠方光電股份有限公司的OST-300光輻射安全測試系統。但是，在實際測量中，測試裝置主要是由亮度計和300nm到700nm范圍的光譜儀組成，對于LED光源，要想得到準確的結果，光譜儀步長要求為0.2nm，光譜誤差不大于3％，燈具需要放在導軌上，需要暗室，因此，該方法條件過于苛刻，只能在實驗室使用，不能對普通照明進行藍光危害的評估。

發明內容

針對現有技術中存在的問題，本發明提供了一種適用于日常生活，設備結構簡單，價格便宜，可快速、精確、方便地評估普通照明用燈具的藍光加權輻射亮度的測量裝置及其方法。

本發明的目的通過以下技術方案實現。

一種藍光加權輻射亮度的測量裝置，包括測試系統和瞄準系統，所述的測試系統依次包括物鏡、帶孔反射鏡、透鏡、第一色散元件、衰減片、第二色散元件和光電池，所述的光電池上連接有電壓表，所述的物鏡、透鏡、第一色散元件、衰減片、第二色散元件、光電池的光學中心和帶孔反射鏡的孔與光源在同一光軸上，所述的物鏡的出射光線通過帶孔反光鏡的孔入射在透鏡上，所述的透鏡的出射光線入射在第一色散元件上，所述的衰減片在第一色散元件和第二色散元件之間，所述的瞄準系統依次包括物鏡、反射鏡、延時透鏡組、光標和目鏡，所述的帶孔反光鏡的反射光線入射到反光鏡上，所述的反光鏡的反射光線通過延時透鏡組和光標入射至目鏡上，所述的物鏡與人眼、光電池共軛。

所述的衰減片為分布式衰減片。

一種藍光加權輻射亮度的測量方法，校準步驟包括：

1)選擇一只藍光加權輻射亮度為L1標準燈放置光源處，調節帶孔反射鏡沿著反射鏡平面平行移動，使得光反射至人眼，人眼通過瞄準系統瞄準標準燈；

2)保持儀器不動，調節帶孔反射鏡沿著反射鏡平面平行歸位，使得標準燈發出的光從孔中進入測試系統，經透鏡依次平行進入第一色散元件、分布式衰減片，第二色散元件至到光電池，從電壓表中讀取示數為U1；

測量步驟包括：

3)將待測光源放置在光源處，調節帶孔反射鏡沿著反射鏡平面平行移動，使得人眼通過瞄準系統瞄準待測光源；

4)保持儀器不動，調節帶孔反射鏡沿著反射鏡平面平行歸位，從電壓表中讀取示數為U2；

5)計算待測光源的藍光加權輻射亮度為U2L1/U1。