[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置的制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510740864.1 | 申請(qǐng)日: | 2015-11-04 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105575891B | 公開(公告)日: | 2019-10-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 谷田一真;蘆立浩明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 東芝存儲(chǔ)器株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L21/768 | 分類號(hào): | H01L21/768 |
| 代理公司: | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11287 | 代理人: | 張世俊 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 制造 方法 | ||
實(shí)施方式的半導(dǎo)體裝置的制造方法包含以下步驟:在設(shè)于第1基板及第2基板的各表面的絕緣層的表面形成開口;向開口埋入金屬;使絕緣層的表面活化;通過碳酸水對(duì)第1基板側(cè)的開口所埋入的金屬的表面進(jìn)行清洗;以及將第1基板側(cè)的絕緣層與第2基板側(cè)的絕緣層貼合,而將第1基板側(cè)的埋入的金屬與第2基板側(cè)的埋入的金屬連接。
[關(guān)聯(lián)申請(qǐng)]
本申請(qǐng)享有2014年11月4日申請(qǐng)的日本專利申請(qǐng)案號(hào)2014-224491的優(yōu)先權(quán)的利益,且將此日本專利申請(qǐng)的全部?jī)?nèi)容援用于本申請(qǐng)。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)施方式一般來說涉及一種半導(dǎo)體裝置的制造方法。
背景技術(shù)
之前,有一種半導(dǎo)體裝置,通過將半導(dǎo)體芯片多段地積層而可減小占據(jù)面積。該半導(dǎo)體裝置是通過例如將形成有半導(dǎo)體元件、集成電路的基板多段地貼合,并以半導(dǎo)體芯片為單位進(jìn)行切割而制造。
在貼合后的各基板的表面設(shè)有絕緣層,在各絕緣層的表面的對(duì)應(yīng)位置,設(shè)有通過貼合基板而連接的多個(gè)電極。然而,在電極的表面有因自然氧化而形成金屬的氧化膜的情況。該情況下,若基板彼此貼合,則有電極的接合部分發(fā)生接合不良的狀況。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實(shí)施方式提供一種半導(dǎo)體裝置的制造方法,能夠抑制通過基板貼合而連接的電極的接合部分產(chǎn)生連接不良。
根據(jù)本實(shí)施方式,提供一種半導(dǎo)體裝置的制造方法。半導(dǎo)體裝置的制造方法包含在設(shè)于第1基板及第2基板的各表面的絕緣層的表面形成開口的步驟。半導(dǎo)體裝置的制造方法包含在所述開口埋入金屬的步驟。半導(dǎo)體裝置的制造方法包含使所述絕緣層的表面活化的步驟。
半導(dǎo)體裝置的制造方法包含通過碳酸水清洗埋入所述第1基板側(cè)的所述開口的金屬的表面的步驟。半導(dǎo)體裝置的制造方法包含將所述第1基板側(cè)的所述絕緣層與所述第2基板側(cè)的所述絕緣層貼合,而將所述第1基板側(cè)的所述埋入的金屬與所述第2基板側(cè)的所述埋入的金屬連接的步驟。
附圖說明
圖1A~圖1C是表示實(shí)施方式的電極的形成步驟的說明圖。
圖2A~圖2C是表示實(shí)施方式的電極的形成步驟的說明圖。
圖3A及圖3B是表示實(shí)施方式的活化步驟的說明圖。
圖4是實(shí)施方式的清洗裝置的說明圖。
圖5是銅相關(guān)的波貝克斯圖。
圖6A及圖6B是表示實(shí)施方式的清洗步驟的說明圖。
圖7A~圖7D是表示實(shí)施方式的基板的貼合步驟的說明圖。
圖8A~圖8C是表示實(shí)施方式的基板的直接接合的結(jié)構(gòu)的說明圖。
圖9A~圖9B是表示實(shí)施方式的基板的直接接合的結(jié)構(gòu)的說明圖。
具體實(shí)施方式
以下參照附圖,詳細(xì)地說明實(shí)施方式的半導(dǎo)體裝置的制造方法。另外,本發(fā)明并非由該實(shí)施方式限定。以下,列舉將形成有邏輯電路的第1基板、與形成有影像傳感器的第2基板貼合的所謂Wafer on Wafer為例進(jìn)行說明,但本實(shí)施方式的半導(dǎo)體裝置的制造方法也可適用于Chip on Wafer或Chip on Chip。另外,形成于第1基板、第2基板的電路并不限于邏輯電路、影像傳感器,也可為任意的半導(dǎo)體集成電路。
首先,參照?qǐng)D1A~圖2C,對(duì)在設(shè)于基板的表面的絕緣層形成電極的制造步驟進(jìn)行說明。圖1A~圖2C是表示實(shí)施方式的電極的形成步驟的說明圖。另外,在第1基板側(cè)的絕緣層形成電極的步驟、與在貼合于第1基板的第2基板側(cè)的絕緣層形成電極的步驟相同。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于東芝存儲(chǔ)器株式會(huì)社,未經(jīng)東芝存儲(chǔ)器株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510740864.1/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:樹體空洞原棵修補(bǔ)方法
- 下一篇:節(jié)能燒水壺
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 氫燃料制造系統(tǒng)、氫燃料制造方法以及氫燃料制造程序
- 單元控制系統(tǒng)、生產(chǎn)系統(tǒng)以及控制方法
- 制造裝置及制造方法以及制造系統(tǒng)
- 一種三相異步電動(dòng)機(jī)制造工藝方法
- 制造設(shè)備、制造裝置和制造方法
- 用于監(jiān)測(cè)光學(xué)鏡片制造過程的方法
- 產(chǎn)品的制造系統(tǒng)、惡意軟件檢測(cè)系統(tǒng)、產(chǎn)品的制造方法以及惡意軟件檢測(cè)方法
- 一種面向制造服務(wù)的制造能力評(píng)估方法
- 一種基于云制造資源的制造能力建模方法
- 制造設(shè)備系統(tǒng)、制造設(shè)備以及制造方法
- 一種數(shù)據(jù)庫讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





