[發明專利]噪聲系數輔助測量裝置

有效

• 申請號: 201510579322.0
• 申請日: 2015-09-14
• 公開（公告）號: CN105277805B
• 公開（公告）日: 2018-10-19
• 發明（設計）人: 謝森
• 申請（專利權）人: 上海新愛季信息技術有限公司
• 主分類號: G01R29/26
• 分類號: G01R29/26
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司 31213
• 代理人: 宋冠群

本發明公開了一種噪聲系數輔助測量裝置，包括一電路板，所述電路板上具有：低頻射頻輸入接口、低頻射頻輸出接口、高頻射頻輸入接口、高頻射頻輸出接口、負極電源接口、正極電源接口、地接口，所述低頻射頻輸入接口與所述低頻射頻輸出接口均連接有第一蘭格耦合器，兩所述第一蘭格耦合器之間連接有兩第一分路，所述第一分路包括第一低噪聲HEMT管、第一匹配電路；所述高頻射頻輸入接口與所述高頻射頻輸出接口均連接有第二蘭格耦合器，兩所述第二蘭格耦合器之間連接有兩第二分路，所述第二分路包括第二低噪聲HEMT管、第二匹配電路。本發明提高采用頻譜儀和噪聲源測量低噪聲、低增益射頻接收系統噪聲系數的精度，實現對噪聲系數的低成本、高精度測量。

技術領域

本發明涉及一種測量裝置，尤其涉及一種噪聲系數輔助測量裝置。

背景技術

低噪聲放大器是射頻接收機前端的重要組成部分，通常出現在信號進入接收機的第一級，在放大接收信號的同時抑制噪聲干擾，對整個接收機的噪聲性能至關重要。

為了提高無線設備的傳輸距離，通常需要在接收機之前放置一外部低噪聲放大器，這就需要射頻工程師對低噪聲放大器的噪聲性能進行測定。噪聲系數通常的測量工具是噪聲儀，但是噪聲儀的價格非常昂貴，且僅適用于噪聲系數的測量，使用率較低，實驗室通常不會配備。

頻譜儀被稱為射頻工程師的萬用表，用途非常廣泛，且價格相對同頻段的其它射頻測量設備較為便宜，為一般射頻實驗室的必備儀器。由此發展出Y系數測量法，在頻譜儀的基礎上再添置一價格較便宜的噪聲源，即可完成對噪聲系數的簡單測量。但是，Y系數測量法僅適合增益和噪聲系數都較大的射頻接收系統噪聲系數的測量。低噪聲放大器的噪聲系數小，放大倍數通常低于20dB，Y系數法測量結果誤差大。這就對低噪聲放大器這類低噪聲系數、低增益系統的噪聲系數低成本測量，提出了挑戰。

發明內容

本發明公開了一種噪聲系數輔助測量裝置，用以解決現有技術中低噪聲放大器這類低噪聲系數、低增益系統的噪聲系數低成本測量的問題。

本發明的上述目的是通過以下技術方案實現的：

一種噪聲系數測量輔助裝置，其中，包括一電路板，所述電路板上具有：低頻射頻輸入接口、低頻射頻輸出接口、高頻射頻輸入接口、高頻射頻輸出接口、負極電源接口、正極電源接口、地接口，所述低頻射頻輸入接口與所述低頻射頻輸出接口均連接有第一蘭格耦合器，兩個所述第一蘭格耦合器之間連接有兩個第一分路，所述第一分路包括第一低噪聲HEMT管、第一匹配電路；所述高頻射頻輸入接口與所述高頻射頻輸出接口均連接有第二蘭格耦合器，兩個所述第二蘭格耦合器之間連接有兩個第二分路，所述第二分路包括第二低噪聲HEMT管、第二匹配電路。

如上所述的噪聲系數測量輔助裝置，其中， 所述第一分路包括：三個所述第一匹配電路，任意兩個第一匹配電路之間均連接有一所述第一低噪聲HEMT管；所述第二分路包括：三個所述第二匹配電路，任意兩個第二匹配電路之間均連接有一所述第二低噪聲HEMT管。

如上所述的噪聲系數測量輔助裝置，其中，所述第一低噪聲HEMT管為10MHz~2GHz的低噪聲HEMT管。

如上所述的噪聲系數測量輔助裝置，其中， 所述第二低噪聲HEMT管為2~6GHz的低噪聲HEMT管。

如上所述的噪聲系數測量輔助裝置，其中， 所述第一蘭格耦合器為10MHz~2GHz的蘭格耦合器。

如上所述的噪聲系數測量輔助裝置，其中，所述第二蘭格耦合器為2~6GHz的蘭格耦合器。

如上所述的噪聲系數測量輔助裝置，其中，所述負極電源接口接在所述第一低噪聲HEMT管、所述第二HEMT管的一端，所述正極電源接口接在第一低噪聲HEMT管、所述第二低噪聲HEMT管的另一端。

如上所述的噪聲系數測量輔助裝置，其中，兩個所述第一分路相位相差90度，兩個所述第二分路相位相差90度。