[發(fā)明專利]一種基于性能退化量分布參數(shù)的電路壽命預測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201510572406.1
• 申請日: 2015-09-09
• 公開（公告）號: CN105203942B
• 公開（公告）日: 2018-09-18
• 發(fā)明（設計）人: 張虹;梅亮;張碚;高成;黃姣英
• 申請（專利權）人: 航天科工防御技術研究試驗中心
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京風雅頌專利代理有限公司 11403
• 代理人: 李弘

本發(fā)明公開了一種基于性能退化量分布參數(shù)的電路壽命預測方法，包括對多個待測元器件進行加速退化實驗，測試并記錄多個待測元器件的性能退化參數(shù)；確定敏感參數(shù)，并對多個待測元器件的性能退化參數(shù)的樣本序列進行平穩(wěn)化處理；計算出每個待測元器件的性能退化量分布，并計算多個待測元器件的性能退化量分布統(tǒng)計參數(shù)；獲取ARIMA模型參數(shù)建立ARIMA模型，并獲得性能退化量分布統(tǒng)計參數(shù)隨時間變化的曲線；根據(jù)性能退化量分布統(tǒng)計參數(shù)隨時間變化的曲線的走勢，性能退化量分布統(tǒng)計參數(shù)隨時間變化的曲線的走勢為電路壽命的預測結果。

技術領域

本發(fā)明涉及電路測試領域，特別地，涉及一種基于性能退化量分布參數(shù)的電路壽命預測方法。

背景技術

集成電路作為各類電子設備的基本組成元器件，其可靠性直接影響著整個設備的性能及可靠性，可靠性技術對集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展起著非常重要的作用。能夠評估和預測產(chǎn)品的可靠性是集成電路設計和生產(chǎn)中不可分割的部分，然而隨著微電子技術和半導體制造工藝水平的不斷向前發(fā)展，集成電路的可靠性水平越來越高，壽命也越來越長，這就對集成電路的可靠性評價提出了更高的要求，而現(xiàn)有技術中尚不存在一個能在較短時間內(nèi)對這些高可靠、高壽命的元器件進行評價、合理并及時地提供相關的可靠性信息的解決方案。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提出一種基于性能退化量分布參數(shù)的電路壽命預測方法，能夠能在較短時間內(nèi)對這些高可靠、高壽命的元器件進行評價、合理并及時地提供相關的可靠性信息，更準確、更快速地評估了元器件與集成電路的預期壽命。

基于上述目的本發(fā)明提供的基于性能退化量分布參數(shù)的電路壽命預測方法包括：

指定相同種類的多個待測元器件，對多個待測元器件進行加速退化實驗，測試并記錄多個待測元器件的性能退化參數(shù)；

根據(jù)多個待測元器件的性能退化參數(shù)確定敏感參數(shù)，并對多個待測元器件的性能退化參數(shù)的樣本序列進行平穩(wěn)化處理；

根據(jù)多個待測元器件的性能退化參數(shù)與敏感參數(shù)，計算出每個待測元器件的性能退化量分布，并計算多個待測元器件的性能退化量分布統(tǒng)計參數(shù)；

獲取ARIMA模型參數(shù)，根據(jù)多個待測元器件的性能退化量分布統(tǒng)計參數(shù)建立ARIMA模型，并根據(jù)ARIMA模型獲得性能退化量分布統(tǒng)計參數(shù)隨時間變化的曲線；

根據(jù)性能退化量分布統(tǒng)計參數(shù)隨時間變化的曲線的走勢，性能退化量分布統(tǒng)計參數(shù)隨時間變化的曲線的走勢為電路壽命的預測結果。

其中，對多個待測元器件進行加速退化實驗，為將多個待測元器件設置于異常工作環(huán)境下，在外部電路的控制下進行工作。

并且，異常工作環(huán)境可以是高溫、高氣壓、高電壓、水中的一種或多種；多個待測元器件的性能退化參數(shù)可以是任一管腳上的電流、任兩管腳之間的電壓中的一種或多種。

其中，根據(jù)多個待測元器件的性能退化參數(shù)確定敏感參數(shù)，并對多個待測元器件的性能退化參數(shù)的樣本序列進行平穩(wěn)化處理包括：

根據(jù)DF檢驗法檢驗多個待測元器件的性能退化參數(shù)的樣本序列是否平穩(wěn)；

若多個待測元器件的性能退化參數(shù)的樣本序列不平穩(wěn)，則從多個待測元器件的性能退化參數(shù)中選取隨時間變化體現(xiàn)出不平穩(wěn)性的一個作為敏感參數(shù)，其中，當隨時間變化體現(xiàn)出不平穩(wěn)性的參數(shù)為多個時，從多個隨時間變化體現(xiàn)出不平穩(wěn)性的參數(shù)中選取最能體現(xiàn)待測元器件性能退化的參數(shù)為敏感參數(shù)；

使用差分法對不平穩(wěn)的樣本序列進行處理，使之在DF檢驗法下平穩(wěn)。