[發(fā)明專利]單芯片三軸各向異性磁阻傳感器制作方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201510567197.1 | 申請(qǐng)日: | 2015-09-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105261699A | 公開(公告)日: | 2016-01-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳雪平;聞?dòng)老?/a>;劉琛;孫福河 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 杭州士蘭集成電路有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L43/08 | 分類號(hào): | H01L43/08;H01L43/12;H01L27/22 |
| 代理公司: | 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 余毅勤 |
| 地址: | 310018 浙江省杭州市杭*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 芯片 各向異性 磁阻 傳感器 制作方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及磁性傳感器技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種單芯片三軸各向異性磁阻傳感器制作方法。
背景技術(shù)
各向異性磁阻(AMR)傳感器是現(xiàn)代產(chǎn)業(yè)中新型磁電阻效應(yīng)傳感器,其正變得日益重要,尤其是在智能手機(jī)中的電子羅盤和汽車產(chǎn)業(yè)傳感器中的停車傳感器、角度傳感器、ABS(自動(dòng)制動(dòng)系統(tǒng))傳感器以及胎壓傳感器等方面得到應(yīng)用。除各向異性磁阻(AMR)傳感器外,磁性傳感器目前主要技術(shù)還有霍爾效應(yīng)傳感器、巨磁阻(GMR)傳感器、隧道磁阻(TMR)傳感器,但由于AMR傳感器具有比霍爾效應(yīng)傳感器高得多的靈敏度,且技術(shù)實(shí)現(xiàn)上比GMR和TMR傳感器更加成熟,因此各向異性磁阻(AMR)傳感器應(yīng)用比其他磁傳感器應(yīng)用更加廣泛。
然而,發(fā)明人發(fā)現(xiàn),目前的AMR傳感器的X軸、Y軸、Z軸各自獨(dú)立形成,然后再封裝在一起,需要較多的制作步驟,使得AMR傳感器系統(tǒng)加工成本比較昂貴。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種單芯片三軸各向異性磁阻傳感器,以解決現(xiàn)有的三軸各向異性磁阻傳感器制作工藝復(fù)雜、加工成本高的問題。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供一種單芯片三軸各向異性磁阻傳感器制作方法,包括:
提供一包括X軸區(qū)域、Y軸區(qū)域、Z軸區(qū)域的襯底;
在所述襯底的Z軸區(qū)域中形成凹槽,所述凹槽具有傾斜的側(cè)壁;
形成絕緣層,所述絕緣層覆蓋所述襯底及凹槽;
形成磁阻條,所述磁阻條包括形成于所述X軸區(qū)域上的X軸磁阻條、形成于所述Y軸區(qū)域上的Y軸磁阻條、以及形成于所述凹槽至少一個(gè)側(cè)壁上的Z軸磁阻條;
形成短路電極和金屬連線,所述短路電極包括形成于所述X軸磁阻條上并與其交叉的X軸短路電極、形成于所述Y軸磁阻條上并與其交叉的Y軸短路電極、以及形成于所述Z軸磁阻條上并與其交叉的Z軸短路電極,所述金屬連線包括連接相鄰的X軸磁阻條的X軸金屬連線、連接相鄰的Y軸磁阻條的Y軸金屬連線以及連接相鄰的Z軸磁阻條的Z軸金屬連線;
形成隔離層,所述隔離層覆蓋所述短路電極、金屬連線以及絕緣層,所述隔離層中形成有通孔;
形成置位-復(fù)位電流帶,所述置位-復(fù)位電流帶形成于所述隔離層上并垂直于所述X軸磁阻條、Y軸磁阻條和Z軸磁阻條,所述置位-復(fù)位電流帶通過所述通孔與所述X軸磁阻條、Y軸磁阻條和Z軸磁阻條電連接;
形成鈍化層,所述鈍化層覆蓋所述隔離層,所述鈍化層中形成有暴露所述置位-復(fù)位電流帶的壓焊窗口。
可選的,在所述的單芯片三軸各向異性磁阻傳感器的制作方法中,所述凹槽的截面形狀為倒梯形,所述凹槽側(cè)壁的傾斜角度為30°~60°。
可選的,在所述的單芯片三軸各向異性磁阻傳感器的制作方法中,所述襯底是晶向?yàn)?lt;100>的硅襯底。
可選的,在所述的單芯片三軸各向異性磁阻傳感器的制作方法中,所述Z軸磁阻條位于所述凹槽的兩個(gè)側(cè)壁上。
可選的,在所述的單芯片三軸各向異性磁阻傳感器的制作方法中,所述Z軸磁阻條位于所述凹槽的一個(gè)側(cè)壁上。
可選的,在所述的單芯片三軸各向異性磁阻傳感器的制作方法中,所述凹槽的形成過程包括:
采用等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相淀積工藝在襯底上淀積硬掩膜層;
采用光刻和刻蝕工藝圖形化所述硬掩膜層;
采用四甲基氫氧化銨溶液腐蝕所述襯底;
將所述硬掩膜層全部去除以形成所述凹槽。
可選的,在所述的單芯片三軸各向異性磁阻傳感器的制作方法中,所述絕緣層包括依次形成的氧化硅層和氮化硅層。
可選的,在所述的單芯片三軸各向異性磁阻傳感器的制作方法中,所述磁阻條的形成過程包括:
采用濺射工藝在所述絕緣層上形成磁阻層;
在所述磁阻層上涂覆光刻膠;
通過光刻工藝圖形化所述光刻膠;
通過刻蝕工藝刻蝕所述磁阻層以形成磁阻條。
可選的,在所述的單芯片三軸各向異性磁阻傳感器的制作方法中,所述磁阻層包括依次形成的鉭層、坡莫合金層和氮化鉭層。
可選的,在所述的單芯片三軸各向異性磁阻傳感器的制作方法中,所述X軸短路電極與X軸磁阻條、所述Y軸短路電極與Y軸磁阻條、所述Z軸短路電極與Z軸磁阻條的夾角均為45度。
可選的,在所述的單芯片三軸各向異性磁阻傳感器的制作方法中,所述Z軸短路電極向上延伸至所述凹槽附近的臺(tái)面上,并向下延伸至所述凹槽底壁的部分區(qū)域。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于杭州士蘭集成電路有限公司,未經(jīng)杭州士蘭集成電路有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510567197.1/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種鉛酸蓄電池的智能化工藝
- 下一篇:垂直霍爾器件





