[發明專利]確定針對三維顯示裝置的校準參數的方法及三維顯示裝置

有效

• 申請號: 201510555999.0
• 申請日: 2015-09-02
• 公開（公告）號: CN105635711B
• 公開（公告）日: 2019-04-26
• 發明（設計）人: 黃孝錫;樸柱容;張現盛;南東暻
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: H04N13/125
• 分類號: H04N13/125;H04N13/302
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 姜長星;王兆賡

1.一種確定針對三維顯示裝置的校準參數的方法，所述方法包括：

在三維顯示裝置的顯示面板上顯示第一圖案的圖像；

獲取通過第一圖案的圖像通過顯示面板和三維顯示裝置的光層被輸出而形成的第二圖案的圖像；

基于第一圖案和第二圖案確定針對三維顯示裝置的校準參數，

其中，確定的步驟包括：基于與第一圖案的周期對應的參數、與第二圖案的梯度對應的參數以及與第二圖案的周期對應的參數確定針對三維顯示裝置的校準參數，

其中，第一圖案的周期包括第一圖案所包括的線之間的間隔，第二圖案的梯度包括第二圖案所包括的線的斜率，第二圖案的周期包括第二圖案所包括的線之間的間隔。

2.如權利要求1所述的方法，其中，使用在顯示面板中排列的子像素顯示第一圖案。

3.如權利要求1所述的方法，其中，第一圖案是相同亮度的連續線按期望間隔布置的圖案。

4.如權利要求1所述的方法，其中，第二圖案是包括多個點的線按期望間隔布置的圖案。

5.如權利要求1所述的方法，其中，光層包括透鏡陣列、視差屏障和定向背光中的至少一個。

6.如權利要求1所述的方法，其中，校準參數包括以下參數中的至少一種參數：

與光層的尺寸相關聯的參數；

與光層的位置相關聯的參數。

7.如權利要求6所述的方法，其中，與光層的尺寸相關聯的參數包括光層的間距。

8.如權利要求6所述的方法，其中，與光層的位置相關聯的參數包括光層與顯示面板之間的旋轉角。

9.如權利要求1所述的方法，其中，確定的步驟包括：基于顯示面板的子像素結構獲得與第一圖案的周期對應的參數。

10.如權利要求9所述的方法，其中，顯示面板的子像素結構包括用于第一圖案的顏色的子像素之間的間隔。

11.如權利要求1所述的方法，其中，確定的步驟包括：

測量與第二圖案的梯度對應的參數；

測量與第二圖案的周期對應的參數。

12.如權利要求1所述的方法，其中，確定的步驟包括：

對第二圖案的圖像執行傅里葉變換；

基于經傅里葉變換的圖像，測量與第二圖案的梯度對應的參數；

基于經傅里葉變換的圖像，測量與第二圖案的周期對應的參數。

13.如權利要求12所述的方法，其中，測量與第二圖案的周期對應的參數的步驟包括：

計算經傅里葉變換的圖像中的具有最高強度的像素之間的高度差；

基于計算出的高度差和經傅里葉變換的圖像的高度，計算包括在第二圖案中的線之間的間隔。

14.如權利要求12所述的方法，其中，測量與第二圖案的梯度對應的參數的步驟包括：

計算連接經傅里葉變換的圖像中的具有最高強度的像素的第一線的斜率；

基于計算出的第一線的斜率，計算包括在第二圖案中的第二線的斜率。

15.如權利要求14所述的方法，其中，測量與第二圖案的梯度對應的參數的步驟還包括：

檢測在水平方向上最接近于經傅里葉變換的圖像的原點的點；

計算連接原點和檢測到的點的第三線的斜率，

其中，基于計算出的第三線的斜率對第二線的斜率進行校準。

16.如權利要求1所述的方法，其中，確定的步驟包括：基于與第一圖案的周期對應的參數、與第二圖案的梯度對應的參數和與第二圖案的周期對應的參數計算校準參數。