[發明專利]晶圓級圖像傳感器有效
| 申請號: | 201510512029.2 | 申請日: | 2015-08-20 |
| 公開(公告)號: | CN105304557B | 公開(公告)日: | 2018-10-09 |
| 發明(設計)人: | 黃雙武;劉辰;黃麥瑞;陳潔 | 申請(專利權)人: | 蘇州科陽光電科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768;H01L27/146 |
| 代理公司: | 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103 | 代理人: | 馬明渡;王健 |
| 地址: | 215143 江蘇省蘇州市*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 晶圓級 圖像傳感器 | ||
1.一種晶圓級圖像傳感器,其特征在于:包括圖像傳感芯片(1)、透明蓋板(2),此圖像傳感芯片(1)的上表面具有感光區(3),所述透明蓋板(2)邊緣和圖像傳感芯片(1)的上表面邊緣之間具有支撐圍堰(4)從而在透明蓋板(2)和圖像傳感芯片(1)之間形成空腔(13),此支撐圍堰(4)與圖像傳感芯片(1)之間通過膠水層(5)粘合,圖像傳感芯片(1)下表面的四周邊緣區域分布有若干個盲孔(6),所述圖像傳感芯片(1)下表面和盲孔(6)側表面具有鈍化層(7),此盲孔(6)底部具有圖像傳感芯片(1)的引腳焊盤(8),所述鈍化層(7)與圖像傳感芯片(1)相背的表面具有金屬導電圖形層(9),一防焊層(10)位于金屬導電圖形層(9)與鈍化層(7)相背的表面,此防焊層(10)上開有若干個通孔(11),一焊球(12)通過所述通孔(11)與金屬導電圖形層(9)電連接,所述支撐圍堰(4)由上下疊放的第一支撐圍堰層(41)和第二支撐圍堰層(42)組成,此第一支撐圍堰層(41)與透明蓋板(2)接觸,此第二支撐圍堰層(42)與圖像傳感芯片(1)接觸,所述第二支撐圍堰層(42)內側面具有若干個連續排列的V形缺口(14),所述第二支撐圍堰層(42)四個拐角處均設有弧形缺口(15),所述支撐圍堰(4)與圖像傳感芯片(1)接觸的表面均勻設有若干凹孔(16);
所述盲孔(6)由碗狀孔(61)和位于碗狀孔(61)底部的直孔(62)組成,所述盲孔(6)通過以下工藝獲得,包括以下步驟:
步驟一、在所述圖像傳感芯片(1)下表面通過光刻顯影的方式制作一作為掩膜層的光刻膠層;
步驟二、通過北微的DSE200C深硅蝕刻機第一次各向同性干法刻蝕形成碗狀孔,第一次各向同性干法刻蝕工藝參數為:腔壓90mTorr、SF6流量為800sccm、線圈功率3000W、射頻偏置電壓0W、刻蝕時間180s;
步驟三、通過北微的DSE200C深硅蝕刻機采用第一各向異性刻蝕和第二各向異性刻蝕交替進行,從而在碗狀孔的底部向下形成直孔,第一各向異性刻蝕和第二各向異性刻蝕交替次數為45~55次,所述第一各向異性刻蝕工藝參數為:腔壓20mTorr、C4F8流量為200sccm、線圈功率2000W、射頻偏置電壓0W、刻蝕時間2s,所述第二各向異性刻蝕工藝參數為:腔壓35mTorr、SF6流量為350sccm、線圈功率2500W、射頻偏置電壓23 W、刻蝕時間5.5s;
步驟四、采用丙酮作為掩膜層的光刻膠層;
步驟五、第二次各向同性干法刻蝕去除前兩次刻蝕產生的倒角,第一次各向同性干法刻蝕工藝參數為:腔壓50mTorr、SF6流量為800sccm、O2流量為50sccm、線圈功率4000W、射頻偏置電壓50 W、刻蝕時間120s;
步驟六、在碗狀孔(61)和直孔(62)的側表面形成所述鈍化層(7);
步驟七、通過激光打孔露出位于底部的引腳焊盤(8),并通過金屬導電圖形層(9)實現引腳和引腳焊盤(8)之間的電接觸連接。
2.根據權利要求1所述的晶圓級圖像傳感器,其特征在于:所述防焊層(10)材料為苯并環丁烯、聚酰亞胺、感光型環氧樹脂中的一種。
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H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
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H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





