[發(fā)明專利]一種用于三維測量的光柵條紋相位求解方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201510443407.6 | 申請日: | 2015-07-24 |
| 公開(公告)號: | CN105043301A | 公開(公告)日: | 2015-11-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳錢;馮世杰;顧國華;左超;張玉珍;陶天陽;張良;孫佳嵩;胡巖;張佳琳 | 申請(專利權(quán))人: | 南京理工大學(xué) |
| 主分類號: | G01B11/25 | 分類號: | G01B11/25 |
| 代理公司: | 南京理工大學(xué)專利中心 32203 | 代理人: | 唐代盛;孟睿 |
| 地址: | 210094 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 三維 測量 光柵 條紋 相位 求解 方法 | ||
1.一種用于三維測量的光柵條紋相位求解方法,其特征在于,
使用計算機(jī)生成四幅光柵條紋;
使用投影儀將生成的四幅光柵條紋透射到待測物表面,使用攝像機(jī)同步拍攝經(jīng)待測物調(diào)制的四幅條紋圖像;
根據(jù)四幅條紋圖像求解四幅光柵條紋中包含的兩個不同的相位,然后相位去包裹獲得用于三維重建的絕對相位。
2.如權(quán)利要求1所述光柵條紋相位求解方法,其特征在于,所述四幅光柵條紋I1~I(xiàn)4的光學(xué)表達(dá)式為,
I1(xp,yp)=A(xp,yp)+B(xp,yp)cos[πF(2xp/W-1)]
I2(xp,yp)=A(xp,yp)+B(xp,yp)cos[πF(2xp/W-1)+2π/3]
I3(xp,yp)=A(xp,yp)+B(xp,yp)cos[πF(2xp/W-1)+4π/3]
I4(xp,yp)=A(xp,yp)+B(xp,yp)(2xp/W-1)
其中,(xp,yp)表示生成的光柵條紋圖像的像素坐標(biāo),A為圖像直流分量,B為振幅,F(xiàn)為第一幅光柵條紋I1所包含的光柵條紋頻率,W為每幅光柵條紋圖像的像素寬度。
3.如權(quán)利要求2所述光柵條紋相位求解方法,其特征在于,經(jīng)待測物調(diào)制的四幅條紋圖像Ic1~I(xiàn)c4的光強(qiáng)分布分表達(dá)式如下所示,
其中,(x,y)為攝像機(jī)拍攝圖像的像素坐標(biāo),α為被測物表面反射率,β1為被反射的環(huán)境光,β2為直接進(jìn)入攝像機(jī)的環(huán)境光,為第一幅至第三幅條紋圖像所包含的相位,φ′(x,y)為第四幅條紋圖像所包含的相位。
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