[發明專利]沿著水平方向檢測攝像模組的裝置及其檢測方法有效
| 申請號: | 201510427205.2 | 申請日: | 2015-07-20 |
| 公開(公告)號: | CN105049840B | 公開(公告)日: | 2017-11-24 |
| 發明(設計)人: | 陳永明;嚴春琦;梁敬姣;禹煥奇 | 申請(專利權)人: | 寧波舜宇光電信息有限公司 |
| 主分類號: | H04N17/00 | 分類號: | H04N17/00 |
| 代理公司: | 寧波理文知識產權代理事務所(特殊普通合伙)33244 | 代理人: | 羅京,孟湘明 |
| 地址: | 315400 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 沿著 水平 方向 檢測 攝像 模組 裝置 及其 方法 | ||
1.一種沿著水平方向檢測攝像模組的裝置,其特征在于,包括沿著水平方向布置的具有垂直延伸方向的一近焦光源、一增距鏡、一污壞點光源以及一遠焦光源,所述攝像模組適于被驅動以沿著所述水平方向移動,從而適于在與所述近焦光源、所述增距鏡、所述污壞點光源和所述遠焦光源對應的檢測位置分別檢測所述攝像模組的近焦、中焦、遠焦和污壞點參數中的至少一個;其中所述近焦光源、所述增距鏡和所述污壞點光源適于被驅動以沿著縱向方向移動;并且所述沿著水平方向檢測攝像模組的裝置進一步包括一檢測座,所述檢測座適于被驅動以沿著所述水平方向移動,并且所述檢測座運動的軌跡對應于所述近焦光源、所述增距鏡和所述污壞點光源的位置,所述攝像模組被可拆卸地固定于所述檢測座,所述檢測座具有一第一檢測狀態和一第二檢測狀態,所述檢測座適于被驅動以在所述第一檢測狀態和所述第二檢測狀態之間切換,并且當所述檢測座從所述第一檢測狀態被切換到所述第二檢測狀態時,被固定于所述檢測座的所述攝像模組的光軸從所述縱向方向被調整到所述水平方向。
2.根據權利要求1所述的沿著水平方向檢測攝像模組的裝置,其中所述近焦光源的中軸、所述增距鏡的中軸和所述污壞點光源的中軸共面。
3.根據權利要求1所述的沿著水平方向檢測攝像模組的裝置,其中所述近焦光源、所述增距鏡和所述污壞點光源分別錯位地設置,以使所述近焦光源、所述增距鏡和所述污壞點光源適于被單獨地驅動以分別沿著所述縱向方向移動。
4.根據權利要求1所述的沿著水平方向檢測攝像模組的裝置,其中所述近焦光源、所述增距鏡和所述污壞點光源沿著同一所述縱向方向設置,從而使所述近焦光源、所述增距鏡和所述污壞點光源適于同時被驅動以沿著所述縱向方向運動。
5.根據權利要求1所述的沿著水平方向檢測攝像模組的裝置,其中所述增距鏡和所述污壞點光源被沿著同一所述縱向方向設置,從而使所述增距鏡和所述污壞點光源適于同時被驅動以同步地沿著所述縱向方向運動。
6.根據權利要求1所述的沿著水平方向檢測攝像模組的裝置,其中所述近焦光源和所述增距鏡被沿著同一所述縱向方向設置,從而使所述近焦光源和所述增距鏡適于同時被驅動以同步地沿著所述縱向方向運動。
7.根據權利要求5所述的沿著水平方向檢測攝像模組的裝置,其中所述增距鏡設置于所述近焦光源的下部,所述污壞點光源錯位地設置于所述近焦光源和所述增距鏡的后部。
8.根據權利要求7所述的沿著水平方向檢測攝像模組的裝置,其中所述檢測位置具有一第一檢測位置、一第二檢測位置、一第三檢測位置以及一第四檢測位置,所述檢測座適于在所述第一檢測位置、所述第二檢測位置、所述第三檢測位置和所述第四檢測位置之間移動,
其中當所述檢測座處于所述第一檢測位置和所述第一檢測狀態時,所述檢測裝置適于檢測所述攝像模組的Hall參數,當所述檢測座處于所述第二檢測位置和所述第二檢測狀態時,所述檢測裝置適于檢測所述攝像模組的中焦參數,當所述檢測座處于所述第三檢測位置和所述第二檢測狀態時,所述檢測裝置適于依次檢測所述攝像模組的遠焦參數和近焦參數,當所述攝像模組處于所述第四檢測位置和所述第二檢測狀態時,所述檢測裝置適于檢測所述攝像模組的污壞點參數。
9.根據權利要求8所述的沿著水平方向檢測攝像模組的裝置,其中當所述檢測座處于所述第三檢測位置和所述第二檢測狀態時,所述近焦光源和所述增距鏡適于被驅動以沿著所述縱向方向自上向下移動,以使所述增距鏡的中軸對應于所述攝像模組的感光路徑,從而所述檢測裝置適于檢測所述攝像模組的遠焦參數;當所述攝像模組的遠焦參數被檢測合格后,所述近焦光源和所述增距鏡適于被驅動以沿著所述縱向方向自上向下移動,以使所述近焦光源的中軸對應于所述攝像模組的感光路徑,從而所述檢測裝置適于檢測所述攝像模組的近焦參數;當所述攝像模組的近焦參數檢測合格后,所述近焦光源和所述增距鏡適于被驅動以沿著所述縱向方向自下向上移動;當所述檢測座處于所述第四檢測位置和所述第二檢測狀態時,所述污壞點光源適于被驅動以沿著所述縱向方向自上向下移動,以使所述污壞點參數的中軸對應于所述攝像模組的感光路徑,從而所述檢測裝置適于檢測所述攝像模組的污壞點參數。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于寧波舜宇光電信息有限公司,未經寧波舜宇光電信息有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201510427205.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





