[發明專利]一種用于自動研磨拋光機的研磨拋光裝置

有效

• 申請號: 201510419293.1
• 申請日: 2015-07-16
• 公開（公告）號: CN105150091B
• 公開（公告）日: 2017-05-24
• 發明（設計）人: 張建峰;李柏濤;李改葉;吳玉萍;楊笑言;張欣
• 申請（專利權）人: 河海大學
• 主分類號: B24B37/27
• 分類號: B24B37/27;B24B37/34;G01N1/32
• 代理公司: 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙)32204
• 代理人: 黃天天

技術領域

本發明涉及機械設備加工領域，具體地涉及一種用于自動研磨拋光機的研磨拋光裝置。

背景技術

為了觀察和研究一些材料的成分、組織與性能之間的關系，需要進行金相分析。自動研磨拋光機的發明代替了原來手工拋光，能夠對樣品進行機械自動研磨拋光，為金相分析做好準備條件，既節約了時間又提高了工作效率。自動研磨拋光機主要用于工件表面的研磨和拋光處理，常應用于機械、冶金和無機非金屬等專業的領域中。

現有的自動研磨拋光機，包括研磨拋光盤、修盤環、載樣塊、支架、機械旋轉部件、漏水口等多個部分。其中，修盤環在研磨拋光樣品時會因修盤環太重而導致拋光盤和修盤環齒韌的快速磨損，部件更換頻繁，提高了成本；另外現有的自動研磨拋光機在進行小樣品研磨時，會因樣品尺寸與載樣盤尺寸相差太大而產生側歪影響拋光精度；同時，現有的自動研磨拋光機配置的載樣盤在研磨拋光樣品時不能同時研磨拋光單個或者多個不同硬度或厚度的小樣品。

發明內容

技術問題：為解決現有的自動研磨機在研磨拋光時因修盤環太重而磨損拋光盤的問題、在研磨拋光硬質樣品時效率太低的問題、以及載樣盤和修盤環在研磨拋光直徑較小的小樣品時因樣品尺寸和載樣盤尺寸相差太大而導致樣品的拋光面不平的缺陷，本發明提供了一種用于自動研磨拋光機的研磨拋光裝置，既可以研磨拋光單個小樣品或同時研磨拋光多個小樣品，又保證了研磨精度。

技術方案：為實現上述技術目的，本發明的用于自動研磨拋光機的研磨拋光裝置，包括修盤環和載樣盤，其中，

所述的修盤環包括從上到下依次設置的上層修盤環和下層修盤環，所述的上層修盤環和下層修盤環固定連接，所述上層修盤環和下層修盤環表面對應設置有若干固定孔，所述的固定孔在所述修盤環表面呈中心對稱分布，或者其中一個固定孔設置于修盤環的中心，剩余的固定孔呈中心對稱分布；所述的上層修盤環的重量小于所述下層修盤環的重量，所述的下層修盤環的底部設置有外徑小于修盤環底部的凹槽，在修盤環底部的四周設置有若干排液槽，以防止拋光液長期積累在修盤環底部對樣品造成影響；

所述的載樣盤與所述修盤環的固定孔保持間隙配合。

具體地，所述的下層修盤環底部凹槽深度應低于樣品的厚度。

優選地，所述的排液槽為長方形，均勻分布在下層修盤環底部的四周，這樣的設計可以避免拋光液長期積累在修盤環和載樣盤底部。

在一種優選的實施方案中，所述的修盤環表面設置有五個固定孔，其中一個固定孔位于修盤環的中心，另外四個孔均布在中心的固定孔的周圍。

在另外的實施方案中，所述的修盤環表面設置有七個或九個固定孔，其中一個固定孔位于修盤環中心，其余的固定孔在中心的固定孔周圍呈中心對稱分布。這樣既可以研磨拋光單個小樣品又可以同時研磨拋光多個小樣品，且最多可同時研磨多個樣品，既提高了效率，又避免了樣品側歪而導致的拋光面不平。

在一種實施方案中，所述的載樣盤包括載樣體和連接體，兩者螺紋連接，其中，所述的載樣體底部設置有凸臺，所述凸臺的高度應低于下層修盤環底部凹槽的深度。凸臺式載樣體用于尺寸較大的單個樣品的研磨拋光。在使用凸臺式載樣盤時連接體也可以不用，因為凸臺式載樣體長度較長。

在另外的實施方案中，所述的載樣盤包括載樣體、連接桿和增重塊，三者螺紋連接，所述的增重塊為中間具有圓孔的圓環，所述的增重塊套設于所述連接桿的外側，所述的載樣體整體呈圓柱式。增重體在不必要時可以不用，只有當研磨拋光一些硬度比較大的樣品時，為了提高研磨質量和效率，可以在連接體上加增重體。當研磨拋光一些硬度較小的樣品時，為了防止樣品變形可以不用增重體。圓柱式載樣體用于尺寸較小的樣品的研磨拋光。

優選地，修盤環表面的固定孔的孔徑大小與所需研磨拋光的樣品的尺寸相一致。

優選地，所述的下層修盤環的上表面設置有若干突起的固定桿，所述的上層修盤環的下表面設置有對應所述固定桿的限位槽，所述的上層修盤環和下層修盤環通過所述固定桿和限位槽的相互配合進行固定。

當研磨拋光樣品時，先將載樣盤通過螺紋連接好，再將樣品用石蠟粘在載樣體底部，然后將載樣盤從連接好的修盤環底部插入修盤環的孔內，最后將修盤環與載樣盤整體放在研拋盤上并用支架支撐好，打開開關，研拋盤轉動即可進行研磨拋光。如果需要同時研磨拋光兩個小樣品時可以將載樣盤放在除中間孔的兩個對稱的孔內進行拋光。

有益效果：與現有技術相比，本發明具有如下技術效果：

(1)本發明可同時研磨拋光單個或多個不同硬度或者厚度的小樣品，既大大提高了效率，又避免了樣品側歪而導致的拋光面不平；