[發明專利]一種實現電子產品可靠性評估的方法

在審

• 申請號: 201510369987.9
• 申請日: 2015-06-29
• 公開（公告）號: CN104992281A
• 公開（公告）日: 2015-10-21
• 發明（設計）人: 崔占華;左曉棟;楊晨;王石;周亞超;陳曼琳
• 申請（專利權）人: 中國信息安全研究院有限公司
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06
• 代理公司: 北京安博達知識產權代理有限公司 11271
• 代理人: 徐國文

技術領域

本發明涉及一種評估方法，具體涉及一種實現電子產品可靠性評估的方法。

背景技術

電子產品可靠性評估是指元件或系統在給定時間間隔內、規定條件下，連續實現其功能的能力，其主要根據運行時間、工況及環境條件等密切相關的因素，評估繼續可靠運行的能力；它是一種動態的、時變的過程。

電子產品包括電子元件、器件、設備和系統；自1970年以后相繼出現軟件系統?？煽啃怨こ虘酶怕收摵蛿道斫y計方法研究產品故障時間分布、分布類型和分布參數，從而提出一系列評價產品可靠性特征的指標、計算和試驗方法，解決了產品在研制、設計、制造、試驗和使用各階段可靠性保證的工程應用問題。可靠性分析和預測是研究設備、系統可靠度和有效度的分析、預測理論和方法，以及應力條件等各種因素對產品可靠性的影響。對于電子元件、器件，是應用失效物理學對影響產品失效的物理、化學過程進行定性定量分析，確定這些過程與應力和時間等各種因素的依賴關系，并鑒定證實其失效模式和失效機理，為改進和提高產品可靠性提供依據。

第二次世界大戰以后可靠性問題被首次提出。當時,軍事裝備已大量采用電子產品,但由于產品不可靠,造成重大損失。因此,50年代初人們開始有組織地、系統地研究電子產品的可靠性問題。

可靠性技術的發展大致可分為四個階段：①調查研究階段(1950～1957年)：這一階段主要對以電子管為重點的電子元件、器件進行現場數據收集和分析；研究壽命試驗方法并成立專門的可靠性組織。②統計試驗階段(1957～1962年)：主要研制環境與可靠性試驗設備；開展產品統計抽樣壽命試驗；制訂電子產品可靠性標準和可靠性組織、管理規范；建立可靠性數據收集和交換系統。③可靠性物理研究階段(1962～1968年)：這一階段主要分析元件、器件失效機理；加強可靠性設計與工藝研究，建立高可靠元件、器件生產線；研究加速壽命試驗的方法。④可靠性保證階段(1968～)：這一階段的特點是建立保證產品可靠性的管理制度,形成質量保證系統；建立電子元件、器件可靠性認證制度；發展可靠性試驗技術和改進可靠性標準。

產品可靠性反映產品質量的綜合性指標，是產品從出廠開始到工作壽命終結全過程的一種特性。它具有綜合性、時間性和統計性的特點，有廣義和狹義兩種解釋。廣義可靠性是產品在其整個使用壽命周期內完成規定功能的能力，包括狹義可靠性和維修性；?狹義可靠性是產品在某一規定時間內發生失效的難易程度。廣義和狹義可靠性都是從使用角度提出的定性概念，并早已應用于工程實踐。在實際需要和可靠性技術發展的條件下的50年代后期，以可靠性特征量表示產品可靠性高低的各種定量指標和方法開始應用于電子工程實踐，為此制定出一系列可靠性標準，作為產品可靠性評價、考核的準則?？煽啃蕴卣髁考捌浞椒ㄒ褳殡娮赢a品的研制、生產和使用等部門所采用。

利用定量指標表示產品可靠性稱為可靠度。它是產品在規定條件下和規定時間內完成規定功能的概率。所謂規定的條件是產品所處的環境條件和使用條件。所謂規定的時間是對產品規定的任何觀察時間，包括連續使用、間斷使用、儲存和一次使用時間。按照產品的不同，時間參數可用周期、次數、里程或其他單位代替。所謂規定功能是規定產品的使命、用途、技術性能指標和失效判據。

對于可修復的產品,不僅有可靠度問題,同時也有發生故障后復原能力和修復速度的問題。與可靠度相應的是產品的維修度，即產品在規定時間內修復的概率。對于可修復產品用可靠度和維修度進行綜合評價，即產品的有效度。產品可靠性可按不同目的和要求采用相應的可靠性定量指標來表示。

瞬時失效率λ(t)：產品在t時刻后單位時間內失效產品數相對于t時刻還在工作的產品數的比值,習慣上簡稱失效率。N為產品總數,n(t)為t時刻失效產品數。

電子產品可靠性研究的方向包括:①復雜系統的可靠性分析和評價；②高可靠元件、器件的可靠性保證和評價技術；③大規模集成電路可靠性評價和失效分析；④產品可靠性與環境、條件的關系；⑤可靠性數據收集和編制可靠性預計手冊；⑥建立可靠性管理系統；⑦軟件可靠性。

發明內容

為了實現上述目的，本發明提供一種實現電子產品可靠性評估的方法，將分布式協同仿真與定性、定量評估相結合，確保評估結果更為精確有效。

本發明的目的是采用下述技術方案實現的：

一種實現電子產品可靠性評估的方法，所述方法包括：構建電子設備分析模型；將分布式協同仿真與定性、定量評估相結合，對電路板進行綜合評估，獲取可靠性分析結果；并將所述可靠性分析結果進行分類并保存。