[發明專利]雙光路像增強器信噪比測試裝置

在審

• 申請號: 201510369973.7
• 申請日: 2015-06-29
• 公開（公告）號: CN104990688A
• 公開（公告）日: 2015-10-21
• 發明（設計）人: 邱亞峰;劉濤;錢蕓生;劉建;任桃桃
• 申請（專利權）人: 南京理工大學
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 南京理工大學專利中心 32203
• 代理人: 朱寶慶

技術領域

本發明涉及一種像增強性能測試技術，特別是一種雙光路像增強器的信噪比測試裝置。

背景技術

像增強器在進行圖像信息的轉換和增強時,都伴隨著附加噪聲。像增強器產生附加噪聲的主要因素是：輸入光子噪聲,光陰極量子轉換噪聲和暗發射噪聲,微通道板的探測效率及二次倍增量子噪聲,熒光屏顆粒噪聲等等。上述因素綜合構成了一個隨機函數而使輸出圖像惡化,圖像的噪聲特性用信噪比來表示。信噪比是衡量像增強器性能的一個重要參數，對像增強器整機的性能有重要影響。國內對微光像增強器的研究較早，對微光像增強器的信噪比測試裝置已有，但是國內尚未出現紫外像增強器信噪比的測試裝置。

發明內容

本發明的目的在于提供一種雙光路像增強器的信噪比測試裝置，該裝置既可以測試微光增強器整管和單管的信噪比，也可以測試紫外像增強器整管和單管的信噪比。

一種雙光路像增強器信噪比測試裝置，包括光學平臺、設置于光學平臺上的導軌、鹵鎢燈、氘燈，以及分別與鹵鎢燈、氘燈連接的兩個濾波盒，裝置還包括設置于導軌上且依次連接的積分球、陰極共軛透鏡、測試暗箱、陽極共軛透鏡和光電倍增管，所述濾波盒通過光闌調節裝置與積分球連接；所述陰極共軛透鏡包括底座、陰極共軛透鏡鏡頭、后陰極共軛透鏡鏡頭、大齒輪、旋轉系統；前陰極共軛透鏡鏡頭和后陰極共軛透鏡鏡頭分別位于底座兩端；大齒輪與前陰極共軛透鏡鏡頭的調焦機構固定連接；所述大齒輪由旋轉系統驅動。

采用上述雙光路像增強器信噪比測試裝置，旋轉系統包括旋轉轉軸、錐齒輪組、齒輪軸、小齒輪；旋轉轉軸置于陰極共軛透鏡外；錐齒輪組置于陰極共軛透鏡內且與旋轉轉軸通過軸承連接；齒輪軸與錐齒輪組另一端通過軸承連接，小齒輪與齒輪軸另一端通過軸承連接；小齒輪與大齒輪嚙合。

本發明與現有技術相比其顯著效果是：(1)測試裝置各部分零部件結構簡單，易于加工，移動、調節方便；(2)測試系統兼顧微光和紫外像增強器的單管及整?管的信噪比測試，應用廣泛；(3)測試系統測試精度高、自動化程度高。

下面結合說明書附圖對本發明做進一步描述。

附圖說明

圖1為本發明整體結構示意圖，其中圖1(a)為主視圖，圖1(b)為俯視圖。

圖2為本發明濾光盒結構示意圖，其中圖2(a)為主視圖，圖2(b)為內部結構圖。

圖3為本發明可調光闌結構示意圖，其中圖3(a)為可調光闌主視圖，圖3(b)為A-A剖面圖。

圖4為本發明積分球結構示意圖。

圖5為本發明小孔調節機構結構示意圖。

圖6陰極端共軛對稱透鏡結構示意圖，其中圖6(a)為主視圖，圖6(b)為左視圖。

圖7陽極端共軛對稱透鏡結構示意圖，其中圖7(a)為內部結構圖，圖7(b)為主視圖。

圖8測試系統工作原理示意框圖。

具體實施方式

結合圖1和圖8，一種雙光路像增強器信噪比測試裝置，包括光學平臺16、設置于光學平臺16上的導軌8、鹵鎢燈1、氘燈21，以及分別與鹵鎢燈1、氘燈21連接的兩個濾波盒2，裝置還包括設置于導軌8上且依次連接的積分球4、陰極共軛透鏡5、測試暗箱13、陽極共軛透鏡7和光電倍增管11，所述濾波盒2通過光闌調節裝置3與積分球4連接，陰極共軛透鏡5和測試暗箱13之間，以及陽極共軛透鏡7和測試暗箱13之間設置小孔調節機構12。測試暗箱13中設有夾具19用來安裝被測像增強器。光電倍增管11用來檢測光信號并轉化成電流信號出入處理器。雙光路像增強器信噪比測試裝置還包括機柜14，機柜14中裝有輻射計、信噪比信號處理器、像增強器外接電源、光源電源。

所述鹵鎢燈1用來產生可見光，氘燈21用來產生紫外光；濾波盒2通過電動光閘、衰減片、濾光片，可遮擋光線或者提供選擇一定波段、強度的光；積分球4用于提供均勻光。

光學傳輸系統包括陰極端共軛對稱透鏡5、陽極端共軛對稱透鏡7、小孔調節機構和廣電倍增管。所述陰極端共軛對稱透鏡5接收入射光點，再傳輸到像增強器陰極面上；所述陽極端共軛對稱透鏡7接收像增強器熒光屏上光點，再傳輸給廣電倍增管；所述廣電倍增管用以檢測光點；所述小孔調節機構12提供一個直徑0.2mm小孔光闌，并用來微調光斑照到像增強器的陰極面上的位置。