[發明專利]提取有機發光器件的相關曲線的系統和方法

有效

• 申請號: 201510348819.1
• 申請日: 2015-06-23
• 公開（公告）號: CN105225621B
• 公開（公告）日: 2020-08-25
• 發明（設計）人: 戈爾拉瑪瑞扎·恰吉
• 申請（專利權）人: 伊格尼斯創新公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/3225
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 曹正建;陳桂香

本發明涉及一種用于確定多個基于陣列的半導體器件中的有機發光器件(OLED)的效率劣化的系統，所述基于陣列的半導體器件具有像素的陣列，且所述像素包括OLED。所述系統確定每個所述基于陣列的半導體器件中的所述OLED的電學運行參數的變化與所述OLED的所述效率劣化之間的關系，通過使用所述基于陣列的半導體器件之中的被選定的一者的所確定的關系來確定所述OLED的所述效率劣化，并且補償所述效率劣化。可以通過使用與每個所述基于陣列的半導體器件相關的測試OLED來確定所述基于陣列的半導體器件中的所述OLED的所述電學運行參數的變化與所述OLED的所述效率劣化之間的所述關系。

相關申請的交叉參考

本申請要求于2014年6月25日提交的美國專利申請14/314,514的優先權，在這里將該在先申請的全部內容以引用的方式并入本文。

技術領域

本發明大體上涉及使用諸如OLED之類的發光器件的顯示器，且更具體地涉及為了補償發光器件的老化而在此類顯示器中提取不同應力條件下的特性相關曲線。

背景技術

相對于常規液晶顯示器，有源矩陣有機發光器件(AMOLED)顯示器提供了更低的功耗、制造靈活性和更快的刷新速率的優點。與常規液晶顯示器相比，AMOLED顯示器中不存在背光，這是因為每個像素由獨立發光的不同顏色的OLED構成。OLED基于由驅動晶體管提供的電流發光。驅動晶體管通常是薄膜晶體管(TFT)。每個像素的功耗與該像素中產生的光的大小具有直接的關系。

在有機發光二極管器件的運行期間，其遭受劣化，這導致恒定電流下的光輸出隨著時間減小。OLED器件還遭受電學劣化，這導致恒定偏置電壓下的電流隨著時間降低。這些劣化基本上是由與OLED上的施加電壓的大小和持續時間以及由此在該器件中產生的電流相關的應力引起的。這類劣化由于諸如溫度、濕度或氧化劑的存在之類的環境因素的隨時間的貢獻而混合在一起。薄膜晶體管器件的老化速率也依賴于環境和應力(偏置)。針對先前數次存儲的像素歷史數據來校準像素，以確定像素上的老化效應，從而可適當地確定像素晶體管和OLED的老化。因此，在顯示裝置的整個壽命期間需要精確的老化數據。

在一種OLED顯示器補償技術中，提取像素面板的老化(和/或均勻性)并將其作為原始的或經處理的數據存儲在查找表中。接著，補償模塊使用所存儲的數據來補償OLED的電學參數和光學參數的任何偏移(例如，OLED運行電壓和光學效率的偏移)以及背板的電學和光學參數的任何偏移(例如，TFT的閾值電壓偏移)，因而根據所存儲的數據和視頻內容來修改每個像素的編程電壓。補償模塊按照使足夠的電流經過OLED以針對每個灰度水平保持相同的亮度水平的方式修改驅動TFT的偏置。換句話說，合適的編程電壓適當地抵消了OLED的電學老化和光學老化以及TFT的電學劣化。

在顯示器的壽命期間，通過基于電學反饋的測量電路持續地監測并提取背板TFT和OLED器件的電學參數。進一步，根據OLED的電學劣化數據來估計OLED器件的光學老化參數。然而，OLED的光學老化效應也取決于單獨像素上的應力條件，且由于應力在像素間變化，所以不能確保精確的補償，除非確定出適合于具體應力水平的補償。

因此，對于有源像素上的應力條件，需要有效地提取精確的光學參數和電學參數的特性相關曲線以用于補償老化效應和其它效應。對于有源像素在顯示器的運行期間可能經受的各種應力條件，需要具有各種特性相關曲線。對于基于顯示器的有機發光器件中的像素，還需要精確的補償系統。

發明內容

根據一個實施例，提供了一種用于確定多個基于陣列的半導體器件中的有機發光器件(OLED)的效率劣化的系統，所述基于陣列的半導體器件具有像素的陣列，且所述像素包括OLED。所述系統確定每個所述基于陣列的半導體器件中的所述OLED的電學運行參數的變化與所述OLED的所述效率劣化之間的關系；使用所述基于陣列的半導體器件之中的被選定的一者的所確定的關系來確定所述OLED的所述效率劣化；并且補償所述效率劣化